高分辨率高生产量处理柔性基底导电图形的系统和方法技术方案
【技术实现步骤摘要】
相关申请的交叉引用本专利申请要求于2012年7月10日提交，题名为“System and MethodforHigh Resolution， High Throughput Processing of Conductive Patterns of FlexibleSubstrates”的序列号为61/670，055的共同待决的美国临时申请在35U.S.C.119(e)下的优先权。本申请通过引用将序列号为61/670，055的美国临时申请整体结合于此。
本专利技术涉及多层基底和处理多层基底的方法。更具体的，本专利技术涉及具有导电图形的多层基底和处理这种基底的方法。
技术介绍
许多电气设备包含触摸屏类型的显示器。触摸屏为检测显示区域内触摸的存在、位置和压力的显示器，触摸通常通过手指、手、触笔，或其他定点设备进行。触摸屏使得使用者能直接与显示面板互动，不需任何中间设备，而不是间接的使用鼠标或触摸板。触摸屏可以在计算机内实施或者作为终端实施以接入网络。触摸屏通常出现在销售点系统、自动提款机(ATM)、移动电话、个人数字助理(PDA)、便携式游戏控制台、卫星导航设备...
【技术保护点】
一种用于对准多基底层的对准反馈装置，所述装置包括：a.第一基底层，具有形成在表面上的对准目标区域的第一部分，其中所述对准目标区域的所述第一部分包括第一手工对准标记和第一机器对准标记；以及b.第二基底层，具有形成在表面上的所述对准目标区域的第二部分，所述第二基底层耦合于所述第一基底层，其中所述对准目标区域的所述第二部分包括第二手工对准标记和第二机器对准标记，其中当所述第一基底层和所述第二基底层彼此适当对准时，所述第一手工对准标记与所述第二手工对准标记对准，并且所述第一机器对准标记与所述第二机器对准标记对准。
【技术特征摘要】
2012.07.10 US 61/670,055;2013.05.31 US 13/907,7401.一种用于对准多基底层的对准反馈装置，所述装置包括: a.第一基底层，具有形成在表面上的对准目标区域的第一部分，其中所述对准目标区域的所述第一部分包括第一手工对准标记和第一机器对准标记；以及 b.第二基底层，具有形成在表面上的所述对准目标区域的第二部分，所述第二基底层耦合于所述第一基底层，其中所述对准目标区域的所述第二部分包括第二手工对准标记和第二机器对准标记， 其中当所述第一基底层和所述第二基底层彼此适当对准时，所述第一手工对准标记与所述第二手工对准标记对准，并且所述第一机器对准标记与所述第二机器对准标记对准。2.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一手工对准标记和所述第二手工对准标记均包括方形并且所述第一机器对准标记和所述第二机器对准标记均为圆形。3.根据权利要求2所述的装置，其中所述第一手工对准标记包括第一方形并且所述第二手工对准标记包括第二方形，其中所述第一方形比所述第二方形小，并且当所述第一基底层与所述第二基底层适当对准时，所述第一方形装配在所述第二方形之内。4.根据权利要求2所述的装置，其中所述第一机器对准标记为具有孔的环形，并且所述第二机器对准标记包括圆形，其中所述圆形比所述孔小，并且当所述第一基底层与所述第二基底层适当对准时，所述圆形装配在所述孔之内。5.根据权利要求1所述的装置，其中所述对准目标区域的所述第一部分进一步包括对齐试样。6.根据权利要求5所述的装置，其中所述对齐试样包括形成在所述第一手工对准标记和所述第一机器对准标记周围的导电迹线。·7.根据权利要求6所述的装置，其中所述导电迹线包括ITO。8.根据权利要求1所述的装置，其中所述对准目标区域的所述第二部分进一步包括蚀刻试样。9.根据权利要求8所述的装置，其中所述蚀刻试样包括在所述第二手工对准标记和所述第二机器对准标记周围形成的导电迹线。10.根据权利要求9所述的装置，其中所述导电迹线包括银系油墨。11.一种对准多基底层的方法，所述方法包括: a.形成具有在表面上形成的对准目标区域的第一部分的第一基底层，其中所述对准目标区...
【专利技术属性】
技术研发人员：G·默里，K·科里根，E·玛哈格努尔，
申请(专利权)人：伟创力国际美国公司，
类型：发明
国别省市：
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