【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】使用TOF-MSMS数据的可变XIC宽度确定SRM分析中的背景干扰相关申请案交叉参考本申请案请求在2011年6月3日提出申请的美国临时专利申请案第61/493,352号的权益,所述申请案以全文引用的方式并入本文中。
技术介绍
选定反应监测(SRM)分析的发展中的一个困难在于对基质效应的研究及对用于量化的合适离子的选择。此通常通过利用量化方法及对检测限(LOD)及量化限(LOQ)值的研究以确定分析的稳健性来执行。此工作可为耗时的且还可能不会提供所涉及的真正可能干扰的清晰图片。这是由于不能够根据低分辨率数据界定液相色谱法(LC)峰值形状且缺少用于产物离子的不同洗脱图的自动分析的合适算法。
技术实现思路
附图说明所属领域的技术人员应理解下文所描述的图式仅用于说明目的。所述图式不打算以任何方式限定本教示内容的范围。图1是图解说明可在其上实施本教示内容的实施例的计算机系统的框图。图2是展示根据各种实施例用于识别不包括干扰的产物离子的系统的示意图。图3是展示根据各种实施例用于识别不包括干扰的产物离子的方法的示范性流程图。图4是根据各种实施例包括一个或一个以上不同软件模块的系统的示意图,所述系统执行用于识别不包括干扰的产物离子的方法。在详细描述本教示内容的一个或一个以上实施例之前,所属领域的技术人员应了解本教示内容在其应用方面不限于以下详细说明中所论述或图式中所图解说明的构造细节、组件布置及步骤布置。同样,应理解,本文中所使用的措词及术语用于说明目的且不应视为具有限定性。具体实施方式计算机实施的系统图1是图解说明可在其上实施本教示内容的实施例的计算机系统100的框图。计算 ...
【技术保护点】
一种用于识别不包括干扰的产物离子的系统,其包含:串联质谱仪,其使用一个或一个以上前驱物扫描来分析第一样本;及处理器,其与所述串联质谱仪通信,所述处理器从所述串联质谱仪接收所述第一样本中的分析物的质量范围的第一全产物离子光谱,使用第一所提取离子色谱窗口宽度计算所述第一全产物离子光谱中的产物离子的第一组一个或一个以上峰值参数,使用第二所提取离子色谱窗口宽度计算所述第一全产物离子光谱中的所述产物离子的第二组一个或一个以上峰值参数,及如果所述第一组一个或一个以上峰值参数与所述第二组一个或一个以上峰值参数实质上相同,那么将所述产物离子识别为不包括干扰。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.06.03 US 61/493,3521.一种用于识别不包括干扰的产物离子的系统,其包含:串联质谱仪,其使用一个或更多个前驱物扫描来分析第一样本;及处理器,其与所述串联质谱仪通信,所述处理器从所述串联质谱仪接收所述第一样本中的分析物的质量范围的第一全产物离子光谱,使用第一所提取离子色谱窗口宽度计算所述第一全产物离子光谱中的产物离子的第一组一个或更多个峰值参数,使用第二所提取离子色谱窗口宽度计算所述第一全产物离子光谱中的所述产物离子的第二组一个或更多个峰值参数,及如果所述第一组一个或更多个峰值参数与所述第二组一个或更多个峰值参数实质上相同,那么将所述产物离子识别为不包括干扰。2.根据权利要求1所述的系统,其中除所述分析物外所述第一样本还包括第一基质,且所述处理器使所述产物离子与所述第一样本中的所述分析物的前驱物离子相关,及如果所述第一组一个或更多个峰值参数与所述第二组一个或更多个峰值参数实质上相同且如果所述产物离子来自所述分析物而不是来自所述第一基质,那么将所述前驱物离子及所述产物离子识别为与所述第一基质不同。3.根据权利要求1所述的系统,其中所述串联质谱仪使用跨越所述质量范围的两个或更多个隔离窗口宽度使用对一个或更多个前驱物离子的单个质谱扫描及对所述产物离子的两个或更多个质谱扫描来分析所述第一样本。4.根据权利要求3所述的系统,其中所述两个或更多个隔离窗口宽度为均匀的。5.根据权利要求3所述的系统,其中所述两个或更多个隔离窗口宽度为可变的。6.根据权利要求1所述的系统,其中所述串联质谱仪使用对一个或更多个前驱物离子的两个或更多个质谱扫描来分析所述第一样本。7.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一所提取离子色谱窗口宽度比所述第二所提取离子色谱窗口宽度窄。8.根据权利要求2所述的系统,其中所述产物离子为所述分析物的已知产物离子,所述第一组一个或更多个峰值参数及所述第二组一个或更多个峰值参数经计算以确定所述第一基质是否干扰所述产物离子,且使所述产物离子与所述分析物的所述前驱物离子相关以确认所述产物离子来自所述分析物而不是来自所述第一基质。9.根据权利要求2所述的系统,其中所述产物离子为未知产物离子,使所述产物离子与所述分析物的所述前驱物离子相关以确定所述产物离子来自所述分析物而不是所述第一基质,且所述第一组一个或更多个峰值参数及所述第二组一个或更多个峰值参数经计算以确定所述第一基质是否干扰所述产物离子。10.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理器创建包括所述产物离子及前驱物离子的选定反应监测分析。11.根据权利要求2所述的系统,其中所述串联质谱仪使用一个或更多个前驱物扫描来分析包括所述分析物及第二基质的第二样本;且所述处理器从所述串联质谱仪接收所述第二样本中的所述分...
【专利技术属性】
技术研发人员:斯蒂芬·A·泰特,大卫·M·考克斯,
申请(专利权)人:DH科技发展私人贸易有限公司,
类型:
国别省市:
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