下载使用TOF-MSMS数据的可变XIC宽度确定SRM分析中的背景干扰的技术资料

文档序号:9646200

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本发明涉及识别不包括干扰的产物离子的系统及方法。从串联质谱仪接收样本中的分析物的质量范围的全产物离子光谱。使用第一XIC窗口宽度计算所述全产物离子光谱中的产物离子的第一组一个或一个以上峰值参数。使用第二XIC窗口宽度计算所述产物离子的第二组...
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