Used to read analog input signal (Vin) device includes: a voltage signal input (I), is applied to simulate the input voltage signal to the reference component (Vin); (Ref), is used to generate the analog reference voltage (Vref). In order to carry out online self calibration, the device further includes a stack component (SUP), the application of the analog reference voltage to the (Vref) added to the analog voltage input signal (Vin) and generate analog signals (4); (DelSig), the conversion component is applicable to the sampling rate conversion (fcnv) will the combination of analog signal (4) into a serial data stream (5); and the decomposition component (Dec). The decomposition component (DEC) comprises at least two digital filters (Filt1, Filt2), which is applicable to different data rates (fDR, fDRL) from a serial data stream (5) generates a digital signal corresponding to two (8, 9), the data rate is less than the sampling rate conversion (fcnv). Two data processing unit (Proc1, Proc2 or Proc3) were used to simulate the voltage from the input signal and generates a digital signal corresponding to the representative (Vin) digital input voltage (Vin, UNC) and represent the analog reference voltage (Vref) digital reference voltage (Vref, dig) or represented by the superposition of components (SUP) interference the voltage signal of the parasitic voltage component (Vpar). The computed results are used for self calibration purposes.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于自校准地读出模拟电压信号的装置
本专利技术涉及用于读出模拟电压输入信号的装置,其包括电压信号输入,向其施加模拟电压输入信号,和用于生成模拟参考电压的参考部件。在读出电子器件或前端电子器件的条件下已知的装置中,模拟电压输入信号被施加到模数转换器(ADC)。这样的读出电子器件用于从输入信号生成数字电压信号,其然后可被进一步数字处理。具有读出电子器件的已知设备例如是万用表、仪表互感器或传感器接口。
技术介绍
为了能够保证高度可靠的数字信号,读出电子器件需要展现高的初始精度以及高的温度和老化稳定性。另外,在整个规定温度范围和预定时段内需要确保高精度,其中该预定时段通常是读出电子器件的手动校准与下一个之间的时间。在手动校准期间,读出电子器件的制造商向装置的电压信号输入施加外部标准参考电压并且使用所得的数字信号来估计并且校正装置的增益误差。两个手动校准之间的时段以及操作温度范围通过对装置实现所谓的自校准而能扩展。这例如在来自AgilentTechnologies的3458A万用表的自动校准条件下是已知的,如在对应的校准手册、手册编号03458-90017中描述的。对于自动校准,3458A配备有内部参考标准并且每当调用自动校准功能时自动进行增益误差的估计和校正。在自动校准期间,万用表无法用于测量目的。在US2009/0315537A1中描述了用于对输电系统的模拟特性采样的采样模块。该采样模块包括使模拟特性的幅度减少的定标电路,和从减少的模拟特性产生1位串行数据流的ADC。该1位串行数据流通过数字滤波器而被数字滤波并且然后通过重采样模块而被重采样,其中依靠特定模拟特性 ...
【技术保护点】
一种用于读出模拟电压输入信号(Vin)的装置,其包括:??电压信号输入(I),向所述电压信号输入(I)施加所述模拟电压输入信号(Vin),??参考部件(ref),用于生成模拟参考电压(Vref),其特征在于??叠加部件(Sup),其适用于通过使所述模拟参考电压(Vref)叠加到所述模拟电压输入信号(Vin)上而生成组合模拟信号(4),??转换部件(DelSig),其适用于以转换采样速率(fcnv)将所述组合模拟信号(4)转换成一位串行数据流(5),以及??分解部件(dec),其包括○?第一数字滤波器(Filt1),其适用于以第一数据速率(fDR)从所述一位串行数据流(5)生成第一数字信号(8),所述第一数据速率(fDR)小于所述转换采样速率,○?第一数据处理部件(Proc1),其适用于从所述第一数字信号(8)计算代表所述模拟电压输入信号(Vin)的数字输入电压(Vin,unc),○?另外的数字滤波器(Filt2),其适用于以另外的数据速率(fDRL,fDRH)从所述一位串行数据流(5)生成另外的数字信号(9,10),所述另外的数据速率(fDRL,fDRH)小于所述转换采样速率(fcnv ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于读出模拟电压输入信号(Vin)的装置,其包括:•电压信号输入(I),向所述电压信号输入(I)施加所述模拟电压输入信号(Vin),•参考部件(ref),用于生成模拟参考电压(Vref),其特征在于•叠加部件(Sup),其适用于通过使所述模拟参考电压(Vref)叠加到所述模拟电压输入信号(Vin)上而生成组合模拟信号(4),•转换部件(DelSig),其适用于以转换采样速率(fcnv)将所述组合模拟信号(4)转换成一位串行数据流(5),以及•分解部件(dec),其包括○第一数字滤波器(Filt1),其适用于以第一数据速率(fDR)从所述一位串行数据流(5)生成第一数字信号(8),所述第一数据速率(fDR)小于所述转换采样速率,○第一数据处理部件(Proc1),其适用于从所述第一数字信号(8)计算代表所述模拟电压输入信号(Vin)的数字输入电压(Vin,unc),○另外的数字滤波器(Filt2),其适用于以另外的数据速率(fDRL,fDRH)从所述一位串行数据流(5)生成另外的数字信号(9,10),所述另外的数据速率(fDRL,fDRH)小于所述转换采样速率(fcnv)并且不同于所述第一数据速率(fDR),以及○另外的数据处理部件(Proc2,Proc3),其适用于从所述另外的数字信号(9,10)计算代表所述模拟参考电压(Vref)的数字参考电压(Vref,dig)或代表由所述叠加部件(sup)引入的寄生电压分量的干扰电压信号(Vpar)。2.如权利要求1所述的装置,其中所述另外的数据处理部件是第二数据处理部件(Proc2),其适用于从所述数字参考电压(Vref,dig)得出校正值(corr)并且将所述校正值(corr)传送到所述第一数据处理部件(Proc1)用于校正所述数字输入电压(Vin,unc)并且由此生成校正的数字输入电压(Vin,cal)。3.如权利要求1所述的装置,其中所述另外的数据处理部件包括第二数据处理部件(Proc2)和第三数据处理部件(Proc3),所述第二数据处理部件(...
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