【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了用于高温环境下光电模块性能测试的外部测试板，包括PCB电路安装板，还包括设置在PCB电路安装板上的I2C总线多路复用器、模拟多路复用器、DSP，I2C总线多路复用器的输入端与内部测试板通信连接，模拟多路复用器的输入端与内部测试板连接，I2C总线多路复用器的输出端与DSP连接，模拟多路复用器与DSP连接，DSP的输出端与电平转换芯片连接。本技术采集直接测试光电模块而不是将LED剥离后单独测试，从整体上避免了以LED寿命代替光电模块寿命的问题，使得光电模块的寿命更加真实、可靠。【专利说明】 用于高温环境下光电模块性能测试的外部测试板
本技术涉加速寿命试验领域的实验装置，具体是指用于高温环境下光电模块性能测试的外部测试板。
技术介绍
加速寿命试验的统一定义最早由美罗姆航展中心于1967年提出，加速寿命试验是在进行合理工程及统计假设的基础上，利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的信息进行转换，得到产品在额定应力水平下的特征可复现的数值估计的一种试验方法。简言之，加速寿命试验是在保持失效机理不变的条件下，通过加...
【技术保护点】
用于高温环境下光电模块性能测试的外部测试板，包括PCB电路安装板，其特征在于：还包括设置在PCB电路安装板上的I2C总线多路复用器、模拟多路复用器、DSP，I2C总线多路复用器和模拟多路复用器的输入端与内部测试板连接，输出端与DSP连接，DSP的输出端与电平转换芯片连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄宏光，张华，李旻，彭昌睿，顾益双，杨书佺，
申请(专利权)人：四川电力科学研究院，四川大学，
类型：实用新型
国别省市：
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