鞋靴内部尺寸的测量方法及其测量工具技术

本发明专利技术提供一种足部尺寸测量工具，它由第一刻度尺、第二刻度尺和第三刻度尺三支宽度和厚度相同的片状长条刻度尺构成，其中，第一刻度尺、第二刻度尺和第三刻度尺的任意一端分别开有细长的第一通孔、第二通孔和第三通孔，所述的细长通孔与长条刻度尺的长边平行，第一通孔、第二通孔的长度与三刻度尺的宽度相同；第三通孔的长度是三刻度尺的宽度的2-4倍；三通孔的宽度均与三刻度尺的厚度相同；三刻度尺上的刻度精确到毫米。使用时，a、b和c除了可以单独使用外，还可以通过相互插接得到新的测量工具，用于测量非垂直关系的两个平面上的尺寸。本发明专利技术所述的测量工具甚至还可以适用于足部悬空状态时的尺寸测量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种足部尺寸测量工具，它由第一刻度尺(a)、第二刻度尺(b)和第三刻度尺(c)三支宽度和厚度相同的片状长条刻度尺构成，其中，第一刻度尺(a)、第二刻度尺(b)和第三刻度尺(c)的任意一端分别开有细长的第一通孔(a1)、第二通孔(b1)和第三通孔(c1)，所述的细长通孔与长条刻度尺的长边平行，第一通孔(a1)、第二通孔(b1)的长度与第一刻度尺(a)、第二刻度尺(b)和第三刻度尺(c)的宽度相同；第三通孔(c1)的长度是第一刻度尺(a)、第二刻度尺(b)和第三刻度尺(c)的宽度的2?4倍；第一通孔(a1)、第二通孔(b1)和第三通孔(c1)的宽度与第一刻度尺(a)、第二刻度尺(b)和第三刻度尺(c)的厚度相同；第一刻度尺(a)、第二刻度尺(b)和第三刻度尺(c)上的刻度精确到毫米。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：董馨，
申请(专利权)人：董馨，
类型：发明
国别省市：