基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法与装置制造方法及图纸

基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法与装置属于激光测量技术领域，本发明专利技术将被校准激光干涉仪两条测量光束穿过双轴中空激光干涉镜组的中间通孔，两条被校准激光干涉仪测量光束平行置于两条平行标准测量光束中间位置；由两条标准测量光束在该平面投影点构成的线段区域内，两条标准测量光束和两条被校准激光干涉仪测量光束受环境干扰的程度差异很小，标准测量光束与被校准激光干涉仪测量光束空气折射率值非常接近。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法与装置属于激光测量
，本专利技术将被校准激光干涉仪两条测量光束穿过双轴中空激光干涉镜组的中间通孔，两条被校准激光干涉仪测量光束平行置于两条平行标准测量光束中间位置；由两条标准测量光束在该平面投影点构成的线段区域内，两条标准测量光束和两条被校准激光干涉仪测量光束受环境干扰的程度差异很小，标准测量光束与被校准激光干涉仪测量光束空气折射率值非常接近。【专利说明】基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法与装置
本专利技术属于激光测量
，主要涉及一种激光干涉仪校准方法与装置。
技术介绍
角位移激光干涉仪是精度很高的标准测量技术，广泛应用于精密和超精密机械加工、微电子装备、纳米技术工业装备和国防装备等领域，可以用于微位移部件、移动平台和光刻机角度变化量的监测。角位移激光干涉仪可以提供很高的测量精度，并且可以动态测量运动中的相对摆角，这是区别其他仪器的独特优势，为了保证角位移激光干涉仪测量的准确性，科学有效地对角位移激光干涉仪进行校准非常重要。角位移激光干涉仪的实现是将单光路的线位移激光干涉仪改进成多光路的线位移激光干涉仪，通过测量得到的两条光路相对光程变化可以获得一个旋转角度的变化值。在目前文献资料中未提出角位移激光干涉仪的校准方法与装置，但因为角位移激光干涉仪是线位移激光干涉仪测量的衍生方案，所以角位移激光干涉仪校准可以采用线位移激光干涉仪的校准方法:并行式(冷玉国，陶磊，徐健.基于80m测量装置的双频激光干涉仪系统精度及影响因素分析.计量与测试技术，2011，38(9):47-49)、背对背式(廖澄清，朱小平，王蔚晨，杜华.激光干涉仪测长精度校准方法的研究.现代测量与实验室管理，2005，1:6-7)和共光路式(Dr-1ngH.-H.Schussler.Comparison and calibration of laser interferometer systems.Measurement, 1985,3(4):175-184)，因此角位移激光干涉仪校准装置也会有线位移激光干涉仪校准装置的缺点:较大的阿贝误差、严重的空气折射率不一致性和不是准确意义上两套激光干涉仪进行校准。
技术实现思路
针对上述现有角位移激光干涉仪校准装置中较大的阿贝误差、严重的空气折射率不一致性和不是准确意义上两套激光干涉仪进行校准的问题，本专利技术提出和研发了基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法与装置，该专利技术使标准测量光束与被校准激光干涉仪测量光束垂直距离很小，从而可以减小阿贝误差、减小空气折射率不一致性的影响，并且是准确意义上两套激光干涉仪进行校准。本专利技术的目的通过以下技术方案实现:一种基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法，该方法步骤如下:(I)标准激光干涉仪激光器的输出光经双轴中空激光干涉镜组形成相互平行的两条标准测量光束，并都入射到有中间孔的平面镜上，在垂直于两条标准测量光束的平面内，第一条与第二条标准测量光束投影位置点之间的连接线段M长为A，每条标准测量光束中带有平面镜位移信息的部分光被反射回双轴中空激光干涉镜组后，根据从双轴中空激光干涉镜组中获得的干涉信号，得到连接线段M所在直线与有中间孔的平面镜入射面夹角的变化值arctan ((?-?)/A)，其中，和a2分别为有中间孔的平面镜上第一条和第二条标准测量光束入射区域的线位移测量值；(2)被校准激光干涉仪激光器的输出光经被校准激光干涉仪干涉镜组形成相互平行的两条被校准激光干涉仪测量光束，被校准激光干涉仪两条测量光束都穿过双轴中空激光干涉镜组的中间通孔，与两条标准测量光束平行，并都入射到被校准激光干涉仪平面反射镜上，在垂直于两条标准测量光束的平面内，第一条与第二条被校准激光干涉仪测量光束投影位置点之间的连接线段m长为B，连接线段m与连接线段M共线，两条带有被校准激光干涉仪平面反射镜位移信息的被校准激光干涉仪测量光束反射回被校准激光干涉仪干涉镜组后，根据从被校准激光干涉仪干涉镜组中获得的干涉信号，得到连接线段m所在直线与被校准激光干涉仪平面反射镜入射面夹角的变化值arctan ((b1-b2)/B)，其中，Id1和b2分别为被校准激光干涉仪平面反射镜上第一条和第二条被校准激光干涉仪测量光束入射区域的线位移测量值；(3)运动台进行任意旋转方向的小角度偏摆并伴有在垂直于标准测量光束的平面内任意二维方向的衍生位移，以匀速或非匀速采样速率，同步采样标准激光干涉仪夹角变化值arctan ((a^a^ /A)和被校准激光干涉仪夹角变化值arctan ( Od1Hd2) /B),将两夹角变化值作差arctan ((ara2) /A) -arctan ((brb2) /B)，最终得到一系列角位移校准测量误差值。一种基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准装置，包括标准激光干涉仪激光器和配置在可接收平行标准测量光束对应的干涉信号位置上的接收器，导线将接收器与标准激光干涉仪信号处理系统连接；在标准激光干涉仪激光器输出光路上配置有中间通孔的可以让被校准激光干涉仪测量光束穿过的双轴中空标准激光干涉镜组；双轴中空标准激光干涉镜组一侧配置导轨，运动台配装在导轨上，在运动台上安装有中间孔的平面镜，在平面镜中间孔内安装被校准激光干涉仪平面反射镜，被校准激光干涉仪平面反射镜和有中间孔的平面镜组成入射面共面并且相对位置固定的目标反射镜；在双轴中空标准激光干涉镜组另一侧配置被校准激光干涉仪干涉镜组和被校准激光干涉仪激光器，所述被校准激光干涉仪干涉镜组位于被校准激光干涉仪激光器输出光路上；被校准激光干涉仪接收器配置在可接收被校准激光干涉仪干涉信号的位置上，导线将被校准激光干涉仪接收器与被校准激光干涉仪信号处理系统连接。本专利技术具有以下特点及良好效果:(I)由于被校准激光干涉仪测量光束通过双轴中空激光干涉镜组的中间通孔，被校准测量光轴与平行标准光轴之间的垂直距离很短，两者的光路非常接近，因此两套激光干涉仪校准时阿贝误差很小。(2)在垂直于两条标准测量光束的平面，由两条标准测量光束在该平面投影点构成的线段区域内，两条标准测量光束和两条被校准激光干涉仪测量光束受环境干扰的程度差异很小，标准测量光束与被校准激光干涉仪测量光束空气折射率值非常接近。(3)没有共用的干涉镜组和测量镜，标准激光干涉仪部件和被校准标准激光干涉仪部件归属明确，是准确意义上的两套激光干涉仪进行校准。【专利附图】【附图说明】图1为基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准装置结构示意图图2为在有中间孔的平面镜与被校准激光干涉仪平面反射镜组成的目标反射镜的入射面上光斑位置分布示意图图中:I标准激光干涉仪激光器、2双轴中空标准激光干涉镜组、3、4两条平行标准测量光束、5有中间孔的平面镜、6标准激光干涉仪接收器、7标准信号处理系统、8被校准激光干涉仪激光器、9被校准激光干涉仪干涉镜组、10、11两条被校准激光干涉仪测量光束、12中间通孔、13被校准激光干涉仪平面反射镜、14被校准激光干涉仪接收器、15被校准激光干涉仪信号处理系统、16运动台、17导轨、18、19两条平行标准测量光束光斑位置、20、21两条被校准激光干涉仪光束光斑位置。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术具体实施例作进一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法，其特征在于该方法步骤如下：(1)标准激光干涉仪激光器的输出光经双轴中空激光干涉镜组形成相互平行的两条标准测量光束，并都入射到有中间孔的平面镜上，在垂直于两条标准测量光束的平面内，第一条与第二条标准测量光束投影位置点之间的连接线段M长为A，每条标准测量光束中带有平面镜位移信息的部分光被反射回双轴中空激光干涉镜组后，根据从双轴中空激光干涉镜组中获得的干涉信号，得到连接线段M所在直线与有中间孔的平面镜入射面夹角的变化值arctan((a1?a2)/A)，其中，a1和a2分别为有中间孔的平面镜上第一条和第二条标准测量光束入射区域的线位移测量值；(2)被校准激光干涉仪激光器的输出光经被校准激光干涉仪干涉镜组形成相互平行的两条被校准激光干涉仪测量光束，被校准激光干涉仪两条测量光束都穿过双轴中空激光干涉镜组的中间通孔，与两条标准测量光束平行，并都入射到被校准激光干涉仪平面反射镜上，在垂直于两条标准测量光束的平面内，第一条与第二条被校准激光干涉仪测量光束投影位置点之间的连接线段m长为B，连接线段m与连接线段M共线，两条带有被校准激光干涉仪平面反射镜位移信息的被校准激光干涉仪测量光束反射回被校准激光干涉仪干涉镜组后，根据从被校准激光干涉仪干涉镜组中获得的干涉信号，得到连接线段m所在直线与被校准激光干涉仪平面反射镜入射面夹角的变化值arctan((b1?b2)/B)，其中，b1和b2分别为被校准激光干涉仪平面反射镜上第一条和第二条被校准激光干涉仪测量光束入射区域的线位移测量值；(3)运动台进行任意旋转方向的小角度偏摆并伴有在垂直于标准测量光束的平面内任意二维方向的衍生位移，以匀速或非匀速采样速率，同步采样标准激光干涉仪夹角变化值arctan((a1?a2)/A)和被校准激光干涉仪夹角变化值arctan((b1?b2)/B)，将两夹角变化值作差arctan((a1?a2)/A)?arctan((b1?b2)/B)，最终得到一系列角位移校准测量误差值。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：胡鹏程，谭久彬，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：