本发明专利技术提供了一种用于测试LED阵列光源性能的夹具及夹具组合件。该夹具包括：底板10和基板30；变角度连接杆20，包括截旋在一起的第一连接杆20a和第二连接杆20b；其中，第一连接杆20a的顶部和第二连接杆20b的底部分别与基板30和底板10相连，且第一连接杆20a和第二连接杆20b其中之一可相对于其中另一沿两者的中心轴线旋转。本发明专利技术夹具能够使光源或探测元件阵列准确的被固定在需要的角度并能保证角度固定进行各种光电性能测试。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种用于测试LED阵列光源性能的夹具及夹具组合件。该夹具包括：底板10和基板30；变角度连接杆20，包括截旋在一起的第一连接杆20a和第二连接杆20b；其中，第一连接杆20a的顶部和第二连接杆20b的底部分别与基板30和底板10相连，且第一连接杆20a和第二连接杆20b其中之一可相对于其中另一沿两者的中心轴线旋转。本专利技术夹具能够使光源或探测元件阵列准确的被固定在需要的角度并能保证角度固定进行各种光电性能测试。【专利说明】用于测试LED阵列光源性能的夹具及夹具组件
本专利技术涉及光源性能测试
，尤其涉及一种用于测试LED阵列光源性能的夹具及夹具组件。
技术介绍
随着现代固态照明技术的快速发展，LED越来越多的应用于显示，信号传输和照明领域。基于半导体照明的可见光通信技术以其带宽高、无电磁污染、安全性好、功耗低、无须新增专用网络和频率许可证、具有一定的移动性、以及与半导体照明相结合所带来的节能和环保等优点，将成为网络用户终端的接入方式之一，并且随着半导体照明技术的进一步发展和半导体照明的日渐普及，有可能成为网络终端的主要接入方式。从而，可见光通信系统的普及将推动快速响应发光二级管(LED)制造的发展。目前，亚洲、欧洲、美洲等国对于可见光通信技术已经高度重视，并进行了相应的研究且成果卓越。我国大陆对白光LED室内无线光通信的研究起步比国外晚，更多的研究还处于跟踪报道阶段。伴随可见光通信技术的发展，可见光源LED的光电特性也备受各国关注，对于高带宽高响应速率LED芯片的需求越来越强烈。很多企业或公司涉及的可见光通信方向研究，大部分集中在通信信道、调制解调方式、发射接收端电路和通信系统的方法等方面的研究，没有关于可见光通信系统中光源光电性能测试的专利，更没有用于LED阵列光源测试的夹具相关信息。然而，在可见光通信系统中，LED光源自身的光电特性对于通信带宽、速率的影响极其显著。基于此种情形，一种能够精确测量LED阵列光源在光通信系统中光电性能的发射、接收器夹具及测试方法显得格外重要。目前，专门针对LED可见光通信中阵列光源性能的测试夹具还没有相关的研究和相应的专利信息。市面上现有的个别LED阵列光源光电性能测试夹具多为特定仪器所带的特制夹具，不能通用于其他测试设备；而且这些夹具普遍具有无法改变被测LED光源的测试角度、距离、不方便安装和替换等缺点，对于LED支架的形状、大小等也有各种特殊的要求。同时，现有夹具多用于单颗或小功率LED光源的光电性能测试，大功率和LED阵列形式的测试夹具还处于自行设计研发的状态。基于以上所述，用于LED阵列光源夹具的设计和测试方法的研究对于精确测量RGB三基色或LED阵列光源光电特性的准确性和数据的可靠性有直接的影响。
技术实现思路
(一 )要解决的技术问题鉴于上述技术问题，本专利技术提供了一种用于测试LED阵列光源性能的夹具及夹具组件。( 二 )技术方案根据本专利技术的一个方面，提供了一种用于测试LED阵列光源性能的夹具。该夹具包括:底板10和基板30 ;变角度连接杆20，包括截旋在一起的第一连接杆20a和第二连接杆20b ;其中，第一连接杆20a的顶部和第二连接杆20b的底部分别与基板30和底板10相连，且第一连接杆20a和第二连接杆20b其中之一可相对于其中另一沿两者的中心轴线旋转。根据本专利技术的另一个方面，还提供了一种夹具组合件。该夹具组合件包括:第一夹具和第二夹具，其中，该第一夹具和第二夹具均为如权利要求1的夹具，第一夹具和第二夹具共用同一底板；其中，底板上下两端均标有距离刻度值，该刻度值刻蚀、绘制或粘贴在底板10上；底板10上分布底板孔洞阵列11，该孔洞阵列中的每一孔洞呈圆形，第一夹具和第二夹具的变角度连接杆分别固定与该底板孔洞阵列中的相应孔洞。(三)有益效果从上述技术方案可以看出，本专利技术用于测试LED阵列光源性能的夹具具有以下有益效果:(I)上述夹具能够使光源或探测元件阵列准确的被固定在需要的角度并能保证角度固定进行各种光电性能测试。(2)上述夹具中的SMA连接件可以方便的放置和拆卸LED光源或光电二极管，并能保证这些器件在测试中的稳定性和放置位置的统一性，方便实现任意间距的LED阵列光源性能测试的要求。(3)底板可以改变发射器和接收器之间的距离，全面测试LED阵列光源通信带宽等电学参数和距离的关系。(4)上述夹具可以测量LED阵列光源在水平变角度下的光电特性，同时实现RGBLED(红绿蓝三基色LED芯片)混白光光源性能和通信带宽的测试，完成在不同光通量条件下RGB三基色LED阵列光源多 色多路传输测试，能够保证每次测量的准确性和可靠性。分析数据时可以综合多种变量的多点测试结果，使结果更全面更有研究价值。(5)所述的LED阵列光电性能测试夹具也可以配合其他可见光通信系统中的器件光学检测进行一系列的LED阵列光学性能测试。【专利附图】【附图说明】图1为根据本专利技术实施例的用于测试LED阵列光源性能的夹具的结构示意图；图2为图1夹具SMA连接件的细节框图；图3为根据本专利技术实施例的用于测试LED阵列光源性能的夹具组件的结构示意图。【主要元件】10-底板；11-底板孔洞阵列；20-变角度连接杆；20a-第一连接杆；20b_第二连接杆；30-基板；31a-卡扣31b_SMA接口； 32-基板孔洞阵列。【具体实施方式】为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术进一步详细说明。需要说明的是，在附图或说明书描述中，相似或相同的部分都使用相同的图号。附图中未绘示或描述的实现方式，为所属
中普通技术人员所知的形式。另外，虽然本文可提供包含特定值的参数的示范，但应了解，参数无需确切等于相应的值，而是可在可接受的误差容限或设计约束内近似于相应的值。实施例中提到的方向用语，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等，仅是参考附图的方向。因此，使用的方向用语是用来说明并非用来限制本专利技术的保护范围。本专利技术提供一种用于测试LED阵列光源性能的夹具及夹具组件。该夹具可以测量LED阵列光源在水平变角度下的光电特性，同时实现在不同光通量条件下RGB三基色LED阵列光源多色多路的光电性能测试；并且可以根据设计需要在该夹具的基板上安装任意数量及任意间距LED阵列光源进行测试。底板可以改变发射器和接收器之间的距离，全面测试LED阵列光源通信带宽等电学参数和距离的关系。在本专利技术的一个示例性实施例中，提供了一种用于测试LED阵列光源性能的夹具。请参照图1，该夹具包括:基板30 ;底板10 ;底板孔洞阵列11，分布于底板10上，该孔洞阵列中的每一孔洞呈圆形，在厚度方向上贯穿上述底板10 ;基板阵列32，分布于基板30上，该孔洞阵列中的每一孔洞均为SMA标准旋口，且呈圆形，在厚度方向上贯穿上述基板30，SMA接口 31b固定在该底板孔洞阵列，卡扣31a固定在该SMA接口 31b上；变角度连接杆20，包括两截旋在一起的第一连接杆20a和第二连接杆20b，其中，第一连接杆20a的顶部和第二连接杆20b的底部分别于底板10和基板30相连，且第一连接杆和第二连接杆其中之一可相对于其中另一沿两者的中心轴线旋转。以下分别对本实施本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于测试LED阵列光源性能的夹具，其特征在于，包括：底板(10)和基板(30)；变角度连接杆(20)，包括截旋在一起的第一连接杆(20a)和第二连接杆(20b)；其中，所述第一连接杆(20a)的顶部和所述第二连接杆(20b)的底部分别与所述基板(30)和底板(10)相连，且第一连接杆(20a)和第二连接杆(20b)其中之一可相对于其中另一沿两者的中心轴线旋转。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：裴艳荣，杨华，赵丽霞，王军喜，李晋闽，
申请(专利权)人：中国科学院半导体研究所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。