具有受控发射条件的光学光源制造技术

给光学光源提供受控发射条件的系统、设备和方法包括可调节光纤弯曲/变形设备，以允许装置调节，从而可以准确地控制多模式发射条件。提供LED光源和OTDR/激光实施方式两者。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】给光学光源提供受控发射条件的系统、设备和方法包括可调节光纤弯曲/变形设备，以允许装置调节，从而可以准确地控制多模式发射条件。提供LED光源和OTDR/激光实施方式两者。【专利说明】具有受控发射条件的光学光源
技术介绍
在光学网络测试和测量应用中，准确地控制来自于光源的多模式发射条件是重要的，以便改进光纤衰减测量的一致性，不管是在LED光源应用还是OTDR应用中。引起的问题是控制来自于多模式源的发射条件，不管是LED源还是激光源，使得多个模式组用高精确度发射。控制多模式光纤中的模式组是用光源和功率表进行可重复、准确和一致损失测量的关键。控制发射条件的最常见方法是使用具有指定直径和圈数的芯轴包绕物。参考图1，芯轴的视图，芯轴12配置成接收光纤14的多个包绕物。该方法将去除引起衰减测量不一致性的松散耦合较高阶模式。然而，该方法不提供光源之间的一致损失测量，因为取决于光纤如何联接到源和源的制造商，每个光源具有独特发射条件。高达50%的差异是可能的。在涌现的标准需要差异减少至10%时,例如encircled flux (EF),需要用于控制发射条件的新方法。引起的第二问题是提供可以适应不同多模式光纤尺寸和不同波长的源。顾客使用可以与例如50 μ m光纤一起使用且对于相同发射带(launch cord)具有满足两个波长(例如，850nm和1300nm)的受控发射条件的一个光源是有利的。先前服从EP的模式控制器旨在是通用的，从而它们可以与任何LED光源一起使用。然而，这些装置是大的、重的，且难以使用和制造。与OTDR有关引起的问题是在装置输出处的插入损失。虽然在装置的输出和输入之间预期有一定量的损失，但是损失保持在“参考级端接”是重要的。参考级端接实现小于0.1dB损失。根据标准要求，在发射带的接口连接处需要参考级端接。用于控制多模式源的发射条件的现有技术是围绕指定尺寸的芯轴包绕测试带，例如5圈，如图1所示。该芯轴需要具有固定外直径(例如，20_)的圆形装置，光纤电缆包绕到所述芯轴上。该配置形成堆叠效应，使得芯轴高度增加。
技术实现思路
根据本专利技术，提供用于控制发射条件的改进方法和设备。光纤弯曲设备给光纤提供可调节弯曲点，从而弯曲量的调节允许将发射条件调节至期望量。所述光纤然后在期望弯曲程度紧固。因而，本专利技术的目的是提供改进的发射条件控制装置和方法。本专利技术的另一目的是提供用于提供可调节发射条件控制器的改进方法和设备。本专利技术的又一目的是提供用于提供可复制发射条件的改进装置和方法。在本说明书的结束部分中特别地指出并且明确地要求保护本专利技术的主题。然而，操作的组织和方法两者及其进一步的优点和目的可以通过参考与附图相结合地进行的以下描述来最好地理解，在附图中相同的附图标记指代相同的元件。【专利附图】【附图说明】图1是根据现有技术的具有包绕光纤的芯轴的视图；图2是根据本公开的测试系统的图示；图3是根据本公开的混模器的简图；图4-6图示了根据本公开的线性混模器；图7是线性可变芯轴的具体示例的视图，具有放大截面剖视中心部分；图8是线性可变芯轴实施例外视图看起来如何的视图；图9是本公开的OTDR实施例的框图；图10是固定混模器、可变芯轴和100米光纤实施例的截面图；图11是环的示例性变形量的视图；图12是OTDR ModCon的实施例的部分截面俯视图；和图13是图11的ModCon的端视图。【具体实施方式】根据本专利技术优选实施例的系统包括在测试设置中给光纤提供受控弯曲的系统和方法，以提供可调节受控发射条件。改进方法是光纤环形变化或者弯曲部被固定地或可变地控制的方法，从而不需要堆叠配置。实现具体发射条件(例如，EF)的原理需要光源发出过满(over-filled)发射，具有用一致模态分布且随后用去除所需模式以达到所需发射的滤模器激励的最大数量模式。该原理可以总体上应用于过满或不满(under-filled)的LED或激光光源。参考图2，根据本公开的系统的框图，用于实现用独特LED源(不管供应商)服从EF的优选方法是用例如尺寸105/125 μ m的阶跃折射率光纤18在850nm和1300nm盘绕(pigtail)双波长组合器(LED)16。阶跃折射率光纤将起到两个目的。第一，这将提供在测试器堵头(bulkhead)处的过满发射，从而具有芯轴的测试带可以与其连成一串。第二，阶跃折射率光纤允许源与50 μ m或62.5 μ m测试参考带一起使用，每个相应地微调。由此，通过发射可预测模态分布，阶跃折射率光纤减少源之间的差异。阶跃折射率光纤适当地直接附连到LED源。将混模器(即，阶跃折射率光纤21以蛇形方式穿过的3个相邻的引脚20，如图3所示)增加到阶跃折射率光纤还将改进模态功率分布，从而所有模式被同样地激励。这提供在所有控制点(径向点)更接近目标的EF响应。该3引脚装置可以设计成在任何便利位置附连到阶跃折射率光纤。如图4-6所示的线性可变芯轴在突出光纤电缆的每端上具有固定参考级连接器，且使用可调节内部柱塞弯曲内部光纤，同时监测EF响应，在该点处，设定螺钉被固定且内部内容物被罐装。芯轴的目的是针对各个光纤之间的差异进行细调，然后可以与任何合适源一起使用。换句话说，每个可变芯轴和测试带在工厂中使用名义波长的标准双波长LED相应地调节。这些可变芯轴和测试带中的每个现在可以与本领域的制造商独特生产LED源中任一个一起使用。该装置不能用在另一个制造商的LED源上。可变芯轴和测试带可以用渐变折射率光纤50/125 μ m或62.5/125 μ m制造。渐变折射率光纤的每个尺寸使用具有± I μ m或更小的受控芯公差的光纤，从而减少差异，这有助于减少可变芯轴的微调范围，因而减少其尺寸。该可变芯轴具有相当的尺寸、重量，且易于使用，如顾客当今使用那样。然而，高度显著地减少为测试带的厚度，可以是3mm。在图示线性混模器的图4-6的视图中，光纤22穿过本体26内的腔室24，经过柱塞28的顶部。柱塞28具有邻接光纤的下凹弯曲表面。柱塞能沿方向30轴线上下移动，从而向上移动将弯曲光纤更多，向下移动将弯曲光纤更少。图4图示了柱塞处于完全缩回位置，图5示出了柱塞部分伸出和光纤的对应部分弯曲，图6示出了柱塞的完全伸出位置和光纤的伴随完全弯曲。为了标定装置，合适测试设备被连接，且柱塞被调节以弯曲光纤，以提供期望传输条件。在通过调节柱塞完成所需模式分布设定后，如果需要，光纤可以永久性地紧固到位。这可以通过在LVM组件的输入和出口端处由任何合适手段夹持光纤和/或借助于喷射合适化合物到光纤周围的空空间而罐装光纤来实现。线性可变芯轴(LVM)提供改变光纤短长度的弯曲半径的合适手段，以提供光纤内的模式分布的微调。与提供过满发射条件的合适光源结合使用，LVM用作实时可调节滤模器，从而允许设置来自于光纤的光输出模式分布，以服从所建立的encircled flux标准。由于调节方法的无阶跃性质，实现快速和准确的模式分布设置。半径Rl、R2和R3可以在各个LVM设计内指定，以提供不同范围的滤模和适应不同外覆层或护套直径的光纤。如果Rl = R2 = R3，那么最小等价光纤环直径将等于围绕直径2XR1的固定芯轴缠绕光纤单圈，假定L~(R1+R4)，其中，R4 = (Rl+本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于控制发射条件的设备，以用于光纤光学测试，所述设备包括：光纤弯曲设备，用于给光纤提供弯曲；和调节机构，用于允许调节由光纤弯曲设备提供的弯曲量。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：S·戈德斯坦，I·戴维森，M·戈德斯坦，J·D·谢尔，
申请(专利权)人：弗兰克公司，
类型：发明
国别省市：