【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术属于下垂度测试平台领域，尤其涉及一种玻璃下垂度测试平台，其特征在于：设有支架，支撑平面，驱动机构，定位件，测量尺，还设有底座、高度调节块和调节螺钉组成的调节机构，调节机构中调节螺钉穿过高度调节块设在底座上；支撑平面设在调节机构顶部，与调节机构形成一体，用于支撑玻璃；调节机构设在支架的四角，驱动机构设在支架中部，为了便于使测试玻璃位置放置准确，在测试玻璃的两个边设有定位件；为了便于操作人员读取测量值，设有可调节高度的测量尺。所述下垂度测试平台装配调试后平面精度误差小于工艺参数误差的要求值；根据不同的产品尺寸，可以设计成不同尺寸的测试平台。【专利说明】一种玻璃下垂度测试平台
本专利技术属于下垂度测试平台领域，尤其涉及一种玻璃下垂度测试平台。
技术介绍
下垂度是玻璃，特别是TFT-1XD液晶玻璃半成品检验的一项重要参数，目前没有专业设备厂家制造这一设备，生产检验部门使用简单的工器具进行人工测量，由于操作规范和测试人员个人原因造成测试误差较大，测试的数据可靠性差，不能真实的反映玻璃物理化学性能，不能真实反映产品的品质，造成误导玻璃料方参数的调...
【技术保护点】
一种玻璃下垂度测试平台?，其特征在于：设有支架（8），支撑平面，驱动机构(6)，定位件（9），测量尺（10），还设有底座（1）、高度调节块（2）和调节螺钉（4）组成的调节机构，调节机构中调节螺钉(4)穿过高度调节块（2）设在底座（1）上；支撑平面设在调节机构顶部，与调节机构形成一体，用于支撑玻璃（11）；调节机构设在支架（8）的四角，驱动机构（6）设在支架（8）中部，定位件（9）设置在支架（8）上用于定位测试玻璃（11）的位置，测量尺（10）设在支架（8）上，位于测试玻璃（11）的中心位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：段美胜，高远议，邵廷荣，刘文瑞，
申请(专利权)人：成都中光电科技有限公司，东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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