触摸屏金属架桥周边确定位置短路金属残留的去除方法技术

本发明专利技术公开了一种触摸屏金属架桥周边确定位置短路金属残留的去除方法，包括以下步骤：一）确定存在短路不良的电容触摸屏金属架桥周边金属残留的位置；二）将电容触摸屏返回其绝缘光阻的黄光制程：1）首先在金属架桥及其周边金属残留的表面上涂布正性光阻；2）然后将该电容触摸屏用其绝缘光阻黄光制程的靶标固定在曝光机台面上；3）在曝光环节偏移用于绝缘光阻曝光的光罩，使金属架桥处于被曝光机光源照射的区域内且金属残留处于被遮掩的区域内曝光；4）显影去掉金属残留上的正性光阻；三）刻蚀去掉金属残留；四）剥膜去掉剩下的正性光阻，剥膜完毕即可得到架桥合格的良品。本发明专利技术能够将不良品修复为良品。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种触摸屏金属架桥周边确定位置短路金属残留的去除方法，其特征在于，包括以下步骤：一）采用检测设备确定存在短路不良的电容触摸屏金属架桥周边金属残留的位置；二）将电容触摸屏返回其绝缘光阻PI的黄光制程，并按照如下步骤操作：1）首先在金属架桥及其周边金属残留的表面上涂布正性光阻；2）然后将该电容触摸屏用其绝缘光阻PI黄光制程的靶标固定在曝光机台面上；3）在曝光环节根据金属残留的延伸方向，且沿与金属架桥垂直的方向偏移用于绝缘光阻曝光的光罩，使金属架桥处于被曝光机光源照射的区域内且金属残留处于被遮掩的区域内曝光；4）显影去掉位于金属残留上的正性光阻；三）刻蚀去掉金属残留；四）剥膜去掉剩下的正性光阻，剥膜完毕即可得到架桥合格的良品。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：许沭华，迟晓晖，王超，
申请(专利权)人：芜湖长信科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：