【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种光学复检系统，其特征在于，用于辅助检测待测物表面的缺陷，包含：工作平台，具有承载区用以承载该待测物；光源模块，设于该工作平台上方并对应该承载区，该光源模块用于发出第一光线照射该待测物，用以使该第一光线入射该待测物表面而反射出第二光线；影像提取模块，设于该工作平台上方并对应该承载区，该影像提取模块用以提取该第二光线并产生影像数据；控制模块，电连接该光源模块与该影像提取模块，或进一步电连接该工作平台，该控制模块用于产生控制信号以控制该工作平台、该光源模块与该影像提取模块的至少其中之一的动作，以改变该第二光线；以及显示模块，电连接该控制模块，该显示模块用于显示该控制信号及该影像数据。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪光夏，邱诗彰，吕彦德，
申请(专利权)人：牧德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。