一种基于高光谱成像的大米品质在线无损检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种基于高光谱成像的大米品质在线无损检测装置，包括：暗箱；位于暗箱内，用于放置大米样品的移动平台；位于暗箱内，用于向大米样品发射检测光的光源，检测光的光轴与水平面的夹角为45～80度；用于采集大米样品的光谱和图像的图像采集模块；安装在暗箱内的伸展臂，所述图像采集模块安装在伸展臂的自由端；用于接收所述图像采集模块的信号计算大米样品品质的控制单元。本实用新型专利技术基于高光谱成像的大米品质在线无损检测装置，可以实现简单、快速、非破坏性的大米内外品质的同时检测，检测效率高，准确性好。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于高光谱成像的大米品质在线无损检测装置，其特征在于，包括：暗箱；位于暗箱内，用于放置大米样品的移动平台；位于暗箱内，用于向大米样品发射检测光的光源，检测光的光轴与水平面的夹角为45～80度；用于采集大米样品的光谱和图像的图像采集模块；安装在暗箱内的伸展臂，所述图像采集模块安装在伸展臂的自由端；用于接收所述图像采集模块的信号计算大米样品品质的控制单元。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何勇，章海亮，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：实用新型
国别省市：