一种氧化锌压敏电阻单晶界老化特性的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种氧化锌压敏电阻单晶界老化特性的测试方法，属于电工材料技术领域。首先制备了具有双晶结构的氧化锌样品；然后针对氧化锌样品进行电、热或电热共存的老化，并在老化过程中进行电声脉冲法空间电荷测量，从而得到不同老化程度时氧化锌样品的晶界临近区域空间电荷的分布情况。本发明专利技术的老化特性测试方法可在老化过程中直接观测到氧化锌压敏电阻内部的带电离子迁移与中和，从而得到氧化锌压敏电阻的单晶界老化特性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种氧化锌压敏电阻单晶界老化特性的测试方法，其特征在于该方法包括以下步骤：（1）制备用于空间电荷测量的具有双晶结构的氧化锌样品：（1?1）制备一块长为20毫米、宽为20毫米、高为2毫米的氧化锌单晶，对氧化锌单晶的用于接触掺杂薄层的接触面打磨成镜面态，氧化锌单晶的接触面晶轴取向为[0001]、[11?20]或[10?10]；（1?2）制备流延浆料，流延浆料中各组分的质量百分比为：上述金属氧化物混合粉料中，各组分的质量百分比为：将用于制备流延浆料的上述组分混合并球磨6～12小时，得到混合均匀的水基浆料。（1?3）采用水基流延的方法，用上述流延浆料制备厚度为50～200微米的掺杂薄膜，在60～80℃...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何金良，程晨璐，胡军，曾嵘，张波，余占清，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：