【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种用于光学元件在光轴方向位置对准的装置，其特征在于：包括干涉仪、标准镜头、计算全息图、小五维调整架、被测光学元件和大五维调整架，在干涉仪输出光束的光轴上依次放置标准镜头、计算全息图和被测光学元件，将计算全息图固定在小五维调整架上，将被测光学元件固定在大五维调整架上；将计算全息图放置在标准镜头的焦点后面的设计位置处，来自干涉仪内部的光束经过标准镜头后入射到计算全息图上，使发散球面波前变为会聚球面波前，在被测光学元件的光轴方向位置处形成一个会聚焦点；当会聚球面波前照射到被测光学元件上后，将沿着对称光路位置返回，从而使会聚球面波前与干涉仪中的参考波前形成干涉条纹，通过对干涉条纹的监控，调节大五维调整架，将被测光学元件的在光轴方向位置控制在波长量级，所述设计位置是在光学设计阶段，计算全息图所在位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李世杰，陈强，闫锋涛，范斌，万勇建，侯溪，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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