【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
阿折地平的晶γ型，使用CuKα辐射的粉末X射线衍射分析，其粉末X射线衍射图谱表现为Height％＝100峰位置在2θ＝19.9±0.2°，处。FDA0000145147000000011.tif,FDA0000145147000000012.tif
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杜冠华，吕扬，张丽，于然，
申请(专利权)人：北京晶润宏达医药科技有限公司，四川科伦药业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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