基于三维模型的尺寸链校核方法技术

技术编号:9171138 阅读:542 留言:0更新日期:2013-09-19 19:47
本发明专利技术公开了一种基于三维模型的尺寸链校核方法,用于解决现有尺寸链校核方法效率低的技术问题。技术方案是利用三维模型的空间本质建立起基于固定基准的矢量尺寸体系。通过对三维尺寸进行矢量标注,使得需要在三维环境下校核的尺寸具有矢量特性,进而根据矢量和为零原则实现三维环境下尺寸链的自动校核,并通过提供增、减环自动判断,公差修改实时更新,尺寸链校核记录查询,校核记录报表生成,工序间尺寸链可视化展示等功能模块,达到方便、快捷、精确地解决尺寸链分析计算问题的目的。提高了尺寸链校核的效率,对产品工艺的快速生成与优化起到了促进作用。本方法可跨平台完成,可以通过在不同的建模软件中简历矢量标注系统来进行尺寸链校核。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于三维模型的尺寸链校核方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一、对于不同机加工序模型的标注尺寸,选取同一基准坐标系,相邻工序的工序模型间的标注尺寸组成封闭的尺寸环,利用UG的WAVE功能,建立假想面以进行加工余量尺寸的标注;步骤二、在步骤一选取的基准坐标系中,利用三维模型的矢量方向性和大小,选取标注尺寸的起始点和终止点作为尺寸的两个依附点,用UG的矢量生成功能生成矢量轴,赋予三维标注尺寸矢量信息,将矢量对三个坐标系进行投影,并把矢量信息存储于CAD模型的属性列表中,生成矢量的属性列表;步骤三、对于步骤二建立的矢量尺寸,通过对传统的尺寸链校核规则进行分析与扩展,得矢量和为零原则。在尺寸链校核阶段,对向基准坐标系XYZ轴上投影的三维矢量尺寸,在各坐标轴上分别进行矢量和的叠加运算,如果其结果全部为零,则判断其为可疑尺寸链;步骤四、对于步骤三得到的可疑尺寸链,结合尺寸的上下偏差,通过尺寸链的校核规则,进一步判断出符合规则的尺寸链。对于不符合尺寸链校核规则的尺寸,设置补偿环,对其上下偏差进行调整,使其符合尺寸链的校核规则。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:万能何剑瑞胡栋刘蔚昕王聪
申请(专利权)人:西北工业大学
类型:发明
国别省市:

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