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一种电子计时仪器制造技术

技术编号:9157072 阅读:274 留言:0更新日期:2013-09-12 21:47
一种电子计时仪器,包括MCU、石英晶体、时间显示机构、温度测试电路、防掉电电源系统;石英晶体与MCU电连接,温度测试电路与MCU相连,时间显示机构与MCU相连;MCU包括时钟系统、预校准信号输入端、温度补偿参数存储单元、时间信息存储单元、老化补偿参数存储单元。该电子计时仪器利用外部信号源预先设置好标准的内部时间,再依据合理的方法计算出时差补偿的各个参数,及时补偿时差;其MCU输出驱动信号带动时间显示机构自动显示校准过的内部时间。在任何地方都能自动设置时间并保证所显示时间的准确性。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电子计时仪器,特指一种自动设置时间和自动校准时间的电子计时仪器。 
技术介绍
电子计时仪器的走时精度主要取决于石英晶体,石英晶体因为制造工艺原因,个体之间会存在不同的频率偏移;同时在不同的温度环境里,也会有不同的频率偏移;使用过程中石英晶体老化也会导致频率偏移,这些频率偏移都会给电子计时仪器带来时差。现在有一种的电子计时仪器—电波钟表,其结构如图1所示:其包括:MCU(1)、石英晶体(2)、时间显示机构(3),MCU(1)内部包含时钟系统(1-1)、时间信息存储单元(1-2)、指针位置信息存储单元(1-3);石英晶体(2)与MCU(1)电连接;时间显示机构(3)与MCU(1)相连;时间显示机构(3)包括步进马达(3-1)、指针机构(3-2)、数字显示机构(3-3);步进马达(3-1)与MCU(1)相连同时还与指针机构(3-2)相连;数字显示机构(3-3)与MCU(1)相连;还包括电波钟信号接收模组(7),该电波钟信号接收模组(7)与MCU(1)电连接。时间信息存储单元(1-2)包含内部时间的数据、时间显示机构(3)所显示的为显示时间,设置时间包括设置内部时间和显示时间。电波钟信号接收模组(7)接收到发射台发出的时码信号后,将数据传给MCU(1),经过MCU(1)的计算处理,得到标准时间数据,将该数据设置为内部时间并存储于时间信息存储单元(1-2);同时,MCU(1)结合存储于指针位置信息存储单元(1-3)内的当前指针位置信息、输出驱动信号带动步进马达(3-1)转动、步进马达(3-1)再带动指针机构(3-2)转动到的内部时间(已校准为标准时间)对应的位置;MCU(1)还输出驱动信号带动数字显示机构(3-3)显示内部时间(已校准为标准时间)对应的数字,这样就实现了显示时间的自动设置。设置好内部时间和显示时间后,MCU(1)的时钟系统(1-1)依靠石英晶体(2)产生的振荡信号进行计时工作、并修改存储于时间信息存储单元(1-2)的内部时间的数据,MCU(1)依照更新后的数据输出驱动信号更新时间显示机构(3)所显示的时间;在有足够强度时码信号的地方,每天都会接收信号进行校准,其优点是收到信号后能自动设置时间,精度高。但是在一些电波钟信号弱的地方或没有电波钟信号的地方,就没法自动设置时间、只能依靠手动设置时间、造成使用不便;其MCU(1)也只能依靠石英晶体(2)的精度来保证钟表显示时间的准确度,在环境温度变化、石英晶体老化的影响下,显然没法保证钟表的精度。 
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对现有技术的不足提供一种在任何地方都能够自动设置时间、也能保证精度的电子计时仪器。 为达到上述目的,其包括MCU、石英晶体、时间显示机构,MCU内部包含时钟系统;石英晶体与MCU电连接,时间显示机构与MCU相连;其MCU还包括预校准信号输入端;其还包括温度测试电路,温度测试电路与MCU电连接;其还包括温度补偿参数存储单元、时间信息存储单元、老化补偿参数存储单元;其还包括防掉电电源系统。本专利技术在预先设置和测试阶段还需要用到外部信号源,外部信号源可以提供标准的时间信息等信号。 本专利技术提供的电子计时仪器其设置时间、校准时差以及使用的方法,包括以下步骤: 装上防掉电电源系统; 预校准信号输入端连接上外部信号源; 其MCU通过预校准信号输入端从外部信号源接收准确时间信息;以此设置内部时间;并将内部时间数据存储在时间信息存储单元里面; [4]测试并计算温度补偿参数;将温度补偿参数存储在温度补偿参数存储单元里; 测试并计算老化补偿参数;将老化补偿参数存储在老化补偿参数存储单元里; 储藏模式阶段,MCU的时钟系统依靠石英晶体产生的振荡信号继续进行计时工作、并更新时间信息存储单元的内部时间;MCU不输出驱动信号,时间显示机构不工作,不显示时间;MCU及其温度测试电路继续工作,MCU依据温度补偿参数存储单元里的温度补偿参数确定补尝时差的数据;MCU依据老化补偿参数存储单元里的老化补偿参数确定补尝时差的数据;MCU根据计算出来的时差对内部时间进行校准; 工作模式阶段,MCU的时钟系统依靠石英晶体产生的振荡信号继续进行计时工作、并更新时间信息存储单元的内部时间;时间显示机构工作、其显示时间信息存储单元内更新和校准后的内部时间;MCU及其温度测试电路继续工作,MCU依据温度补偿参数存储单元里的温度补偿参数确定补尝时差的数据;MCU依据老化补偿参数存储单元里的老化补偿参数确定补尝时差的数据;MCU根据计算出来的时差对内部时间进行校准。 本专利技术的电子计时仪器,由于利用外部信号源预先设置好标准的内部时间,再依据合理的方法计算出时差补偿的各个参数,并存储于相对应的存储单元内,其防掉电电源系统保证MCU一直不会处于掉电状态、可以持续的工作,保证存储单元内数据不会丢失;这样一来,MCU就可以依据存储单元内的时差补偿参数及时补偿时差,确保内部时间的准确性;储藏模式下,不输出驱动信号,时间显示机构不工作,耗电很低,可延长电源的使用寿命;一旦进入工作模式,MCU输出驱动信号带动时间显示机构自动显示校准过的内部时间,从而既完成了自动设置显示时间的功能又保证了显示时间的准确性。 附图说明图1现有的电子计时仪器—电波钟表的结构示意图 图2本专利技术的实施例的结构示意图 图3本专利技术的实施例的防掉电电源系统一电路示意图 图4本专利技术的实施例的防掉电电源系统二电路示意图 图5本专利技术的实施例的防掉电电源系统三电路示意图 图6本专利技术的实施例的防掉电电源系统四电路示意图 图7本专利技术的实施例的防掉电电源系统五电路示意图 图8本专利技术的实施例的防掉电电源系统六电路示意图 图9本专利技术的实施例的防掉电电源系统七电路示意图 图10本专利技术的实施例的防掉电电源系统八电路示意图 图11本专利技术的实施例的低电压检测装置一电路示意图 图12本专利技术的实施例的低电压检测装置二电路示意图 图13本专利技术的实施例的停秒省电装置一电路示意图 图14本专利技术的实施例的停秒省电装置二电路示意图 图15本专利技术的实施例的停秒省电装置三电路示意图 图16本专利技术的实施例的停秒省电装置四电路示意图 图17本专利技术的实施例其内部包含有电波钟信号接收模组的结构示意图 具体实施方式下面结合附图详细说明依据本专利技术提出的具体装置及其设置和校准时间的方法。 由图2可以看出其包括MCU(1)、石英晶体(2)、时间显示机构(3),MCU(1)内部包含时钟系统(1-1)、时间信息存储单元(1-2);石英晶体(2)与MCU(1)电连接,时间显示机构(3)与MCU(1)相连;时间显示机构(3)包括步进马达(3-1)、指针机构(3-2)、数字显示机构(3-3);步进马达(3-1)与MCU(1)相连同时还与指针机构(3-2)相连;数字显示机构(3-3)与MCU(1)相连;其MCU(1)还包括预校准信号输入端(1-6)。 其还包括温度测试电路(4),其温度测本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种电子计时仪器,包括MCU、石英晶体、时间显示机构,MCU内部包含时钟系统;石英晶体与MCU电连接,时间显示机构与MCU相连;其特征在于:MCU还包括预校准信号输入端。

【技术特征摘要】
1.一种电子计时仪器,包括MCU、石英晶体、时间显示机构,MCU内部包含时钟系统;石英晶体与MCU电连接,时间显示机构与MCU相连;其特征在于:MCU还包括预校准信号输入端。 
2.根据权利要求1所述的电子计时仪器,其特征在于:还包括温度测试电路,还包括温度补偿参数存储单元。 
3.根据权利要求1所述的电子计时仪器,其特征在于:还包括老化补偿参数存储单元。 
4.根据权利要求1所述的电子计时仪器,其特征在于:还包括防掉电电源系统,所述防掉电电源系统由半导体开关电路、电源、储能装置、电源检测装置组成;所述半导体开关电路,是指由半导体开关元件及偏置电路构成的一种电子开关电路;所述半导体开关元件是场效应管、二极管或者三极管;所述电源是主电源或者主电源与备用电源的组合;所述储能装置是电容C1或者充电电池。 
5.根据权利要求1所述的电子计时仪器,其特征在于:还包括防掉电电源系统,所述防掉电电源系统由半导体开关电路、电源、储能装置、电源检测装置组成;所述电源是主电源与备用电...

【专利技术属性】
技术研发人员:成厚权
申请(专利权)人:成厚权
类型:实用新型
国别省市:

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