高压导体接触不良的多触点试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高压导体接触不良的多触点试验装置，包含高压导体，还包含多个螺母；螺母设置在高压导体的下端，多个螺母之间的间隙为0.5mm-1mm。本实用新型专利技术能有效模拟高压导体多点接触不良。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
高压导体接触不良的多触点试验装置，包含高压导体（1），其特征在于，还包含多个螺母（2）；多个所述的螺母（2）设置在高压导体（1）的下端；多个所述的螺母（2）之间的间隙为0.5mm?1mm。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：冯蓓艳，殷立军，孙阳盛，都泓蔚，常鹏，华月申，张华，聂鹏晨，
申请(专利权)人：国家电网公司，上海市电力公司，
类型：实用新型
国别省市：