本实用新型专利技术提供了电源老化测试的电子负载模块及电源老化测试系统，该电源老化测试的电子负载模块提供了一种由MCU控制的智能电子负载模块，该系统采用上位机对若干这样的电源老化测试的电子负载模块统一管理，并统一显示和存储，是一种智能化的电源老化系统。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电源老化测试设备中的电子负载领域，特别涉及一种用于开关电源老化测试的可编程电子负载模块以及由许多这样的电子负载模块组成的老化车、老化房等老化测试系统。
技术介绍
为了检验和提高电源产品的可靠性、稳定性和安全性，对电源产品进行老化测试已成为此类产品生产工艺流程中的一个重要环节。所谓“老化”是指仿真出一种高温的恶劣条件对电源产品进行长时间的满负荷测试(又叫烧机测试或煲机，英文称为:Burn-1nTest)，以模拟实际使用可能出现的恶劣条件来检验产品的性能。传统的老化测试设备所使用假负载多以大功率电阻为主，也就第一代老化设备，其优点是成本低，简单。但由于电源产品的种类及规格繁多，同一家电源工厂往往会有很多个机型，而每种机型的输出规格又不尽相同，所需的假负载的阻抗及功率也不同，因此传统的电阻型老化设备的缺点也就越来越突出，主要表现如下:①电阻阻值固定，可选规格少，很多需向工厂专门定制；②电源规格多样，电阻无法精确匹配到老化所需的准确电流；③电阻误差大，且温升后易产生偏差，无法确保产品100%负荷老化；④调整负载大小需先计算，选择负载电阻只能获得近似电流值；⑤老化过程无法自动监控，需人工逐一巡查，效率低且易漏查；⑥无法记录老化过程参数，不便于品质追溯管理；⑦无法生成老化报表，不便于产品品质的分析与评估；针对于电阻型老化负载上述的突出缺点，出现了第二代的老化设备，即简易的可调节型模拟电子负载，虽然成本比第一代的产品要高很多，但可以根据产品的规格调节负载电流，克服产品换线时，老化设备需要更换相应电阻的痛苦，同时在一定程度上也提高了老化的精度和效率。第二代负载克服了第一代负载的前三个缺点，但后面4项缺点依然突出，无法满足现代化生产工艺的需求。虽然目前市面有很多标准的测试型电子负载仪器在性能和功能上完全可以满足老化要求，但这类仪器通常价格昂贵、体积庞大，而且其设计主要针对研发、工程、生产等测试用，难以实现上百个通道的系统组网用于大批量老化。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服目前电子负载的不足，设计一种智能的电源老化测试的电子负载模块以及将一组这样的电子负载模块集中管理的电源老化测试系统。本技术的技术方案是:电源老化测试的电子负载模块，所述的电子负载模块包括驱动电路和作为模拟负载的一组场效应管，所述的场效应管的源、漏极分别连接到被老化的电源的输出端与地之间，所述的驱动电路产生驱动信号与所述的场效应管的栅极相连，通过控制所述的场效应管的栅极电流或者电压实现对被老化的电源的老化测试，还包括对电子负载单元进行控制的控制管理系统，所述的控制管理系统包括微控制器单元、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路；所述的反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，所述的电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微控制器单元；所述的微控制器单元接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载。进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中:还包括模式切换及控制电路，所述的模式切换及控制电路由微控制器单元输出的恒流或者恒压控制信号控制；所述的模式切换电路包括恒压模式信号输出电路和恒流模式信号输出电路；所述的控制电路包括恒流控制电路和恒压控制电路，所述的恒压控制电路包括比较器U503A，所述的比较器U503A的“十”端接被老化电源的输出端，“ 一 ”端接由所述的微控制器单元设置的参考电压，电源端与恒压模式信号相连，当恒压模式信号有效时，比较器U503A得电工作产生使所述的驱动电路在恒压模式工作的驱动信号接所述的驱动电路；所述的恒流控制电路包括运算放大器U504A，所述的运算放大器U504A的“ + ”端接由所述的微控制器单元设置的参考电压，所述的比较器U504A的“一”端与输出端相连构成电压跟随器，电源端与所述的恒流模式信号相连，当恒流模式信号有效时，产生使所述的驱动电路在恒流模式工作的驱动信号接所述的驱动电路。进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中:在所述的恒压控制电路中，在所述的比较器U503A的“ + ”端与被老化电源的输出端之间还设置有由电阻R101、R102和R103组成分压电路，所述的电阻R102和R103并联连接在比较器U503A的“ + ”端与地之间，电阻RlOl串接在U503A的“ + ”端与被老化电源的输出端之间。进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中:所述的驱动电路包括运算放大器U101，交流负反馈电容C101，MOSFET驱动电阻R109及MOSFET栅极泄放电阻RllO ;所述的运算放大器UlOl的同相端接所述的恒流控制电路的恒流信号输出端或者通过单向隔离二极管DlOl接恒压控制电路的恒压信号输出端，单向隔离二极管DlOl的阳极接恒压控制电路的恒压信号输出端；所述的运算放大器UlOl的反相端通过交流负反馈电容ClOl接运算放大器UlOl的输出端，运算放大器UlOl的输出端通过MOSFET驱动电阻R109接作为假负载的MOSFET的栅极，MOSFET栅极泄放电阻RllO连接在运算放大器UlOl的输出端与地之间。进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中:在所述的恒流控制电路或者恒压控制电路的恒流或者恒压信号输出端与所述的运算放大器UlOl的同相端相接之前还分别设置有恒流控制信号分压电路和恒压控制信号分压电路；所述的恒流控制信号分压电路包括分压电阻R107、R108和R105 ;所述的分压电阻R107串接在跟随器U504A的输出端与运算放大器UlOl的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器UlOl的同相端与地之间；所述的恒压控制信号分压电路包括分压电阻R104、R108和R105 ;所述的分压电阻R104串接在单向隔离二极管DlOl的阴极与运算放大器UlOl的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器UlOl的同相端与地之间。进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中:所述的恒压模式信号输出电路包括三极管Q503和三极管Q504，所述的三极管Q503的集电极通过限流电阻R518接所述的三极管Q504的基极，所述的三极管Q503的基级通过限流电阻R517接所述的微控制器单元，所述的三极管Q503的发射极接地，所述的三极管Q504的发射极接系统电源，所述的三极管Q504集电极通过限流电阻R519驱动恒压模式指示灯，所述的恒压模式信号由所述的三极管Q504集电极引出；恒流模式信号输出电路包括:三极管Q505、三极管Q506和三极管Q507 ;所述的三极管Q505的基极通过限流电阻R520接微控制器单元，三极管Q505的发射极接地，所述的三极管Q505的集电极通过限流电阻R521接系统电源；所述的三极管Q506的基极与所述的三极管Q505的集电极相连，三极管Q506的发射极接地，三极管Q506的集电极通过限流电阻R522接所述三极管Q507的基极，所述三极管Q507的发射极接系统电源，三极管Q507集电极通过限流电阻R523驱动恒流模式指示灯，恒流模式信号由三极管Q507集电极引出。进一步的，上述的电源老化测试的电本文档来自技高网...
【技术保护点】
电源老化测试的电子负载模块，所述的电子负载模块包括驱动电路和作为模拟负载的一组场效应管，所述的场效应管的源、漏极分别连接到被老化的电源的输出端与地之间，所述的驱动电路产生驱动信号与所述的场效应管的栅极相连，通过控制所述的场效应管的栅极电流或者电压实现对被老化的电源的老化测试，其特征在于：还包括对电子负载单元进行控制的控制管理系统，所述的控制管理系统包括微控制器单元、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路；?所述的反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，所述的电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微控制器单元；?所述的微控制器单元接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴涛，庞成，黄明雄，
申请(专利权)人：深圳市中科源电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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