高度测量治具制造技术

技术编号:9086163 阅读:154 留言:0更新日期:2013-08-28 22:41
本发明专利技术公开了一种高度测量治具,其包括底座,所述底座上垂直设置一支架,所述支架沿其长度方向设置有刻度,其特征在于:所述支架上可沿所述支架移动地设置一平行于所述底座的靠板,所述靠板上设置一平行于所述支架的探针。本发明专利技术的高度测量治具利用在带刻度的支架上设置一平行的探针,利用支架测量工件整体高度,利用探针测量孔洞的深度,通过一次测量即可获得上述两个数值,通过两数值相减,获得孔洞底部的高度。本发明专利技术的高度测量治具具有结构简单、操作方便等优点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种高度测量治具,其包括底座,所述底座上垂直设置一支架,所述支架沿其长度方向设置有刻度,其特征在于:所述支架上可沿所述支架移动地设置一平行于所述底座的靠板,所述靠板上设置一平行于所述支架的探针。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐德明
申请(专利权)人:苏州创丰精密五金有限公司
类型:发明
国别省市:

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