X荧光检测标样专用成型模具制造技术

技术编号:9069698 阅读:134 留言:0更新日期:2013-08-22 05:56
本实用新型专利技术属于模具领域,特别是标样专用成型模具领域。X荧光检测标样专用成型模具,包括模具本体,模具本体内设有腔体,其特征在于,在腔体内加入衬套。利用这样一种成型模具将容易在粉末压片机圆柱型模具腔体内成型的粉末—硼酸,对不容易成型的粉末进行包裹,同时又不改变原粉末,破坏被检测标样的组成成分。在硼酸的衬托包裹下,使被检测标样形成检测所需的标准样块。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于模具领域,特别是标样专用成型模具领域。
技术介绍
粉末材料检验前需要将粉末压制成标准检测样本。目前是由压片机将粉末压制成各种圆柱形标样,然后对粉末内部的结构成分进行检测。检测方法有X荧光检测法、烧结检测法、熔点检测法等多种。其中,X荧光检测法是将X荧光照射在圆柱形被检样品的端面中心。要求检测表面平整、光滑,直径< 20mm,被检测粉末中不得混入其它杂物。行业通用检测标准为直径40mm高度5mm的圆柱体(此尺寸为X荧光检测仪检测孔预留标准尺寸)。在实际样品成型过程中,有许多被检测粉末通过压片机使用直径40_圆柱型模具成型后不能制成标样,形成开裂、剥皮、起层等缺陷,因此影响检测结果。
技术实现思路
本技术旨在满足现有技术的需要,提供一种X荧光专用成型模具。X荧光检测标样专用成型模具,包括模具本体,模具本体内设有腔体,其特征在于,在腔体内加入衬套。利用这样一种成型模具将容易在粉末压片机圆柱型模具腔体内成型的粉末一硼酸,对不容易成型的粉末进行包裹,同时又不改变原粉末,破坏被检测标样的组成成分。在硼酸的衬托包裹下,使被检测标样形成检测所需的标准样块。附图说明图1是本技术应用状态示意图。其中,I衬套,2模具本体,3压片机上的模具活塞,4衬套中心孔,5定位角,6腔体,具体实施方式X荧光专用成型模具,包括模具本体2,所述模具本体内设有腔体6,其特征在于,在腔体内加入衬套I。所述的衬套为上、下两面开口的圆环形筒。所述的衬套内径20mnT32 mm,在衬套内形成衬套中心孔4,用于放置被检测样品粉末。所述的衬套I的上开口端设有定位角5,所述的模具本体2的上开口端设有与定位角5形状对应的定位环,使用时定位角5嵌入定位环,调整压片机上的模具活塞3的高度,保证衬套I放入模具腔体6内并同模具活塞3底面接触。使用时,在衬套中心孔4内放入适当的被检测样品粉末并用压锤均平,在衬套I外模具本体2内形成的环形腔隙内和均平的被检测样品粉末的上面放入硼酸,再次用压锤均平;然后,在保证 不发生移位情况下,将专用成型工具衬套I从模具腔体6中取出。用压片机完成标样的压制。取出标样,样品为一个直径40mm,具有大于20mm光整检测平面,其余部分被硼酸包裹的圆柱体标样。达到将样品成型,放入X荧光检测仪对样品结构成分进行检测的目的。·权利要求1.X荧光检测标样专用成型模具,包括模具本体,所述模具本体内设有腔体,其特征在于,在腔体内加入衬套。2.根据权利要求1所述的X荧光检测标样专用成型模具,其特征在于,所述的衬套为上、下两面开口的圆环形筒。3.根据权利要求1所述的X荧光检测标样专用成型模具,其特征在于,所述的衬套内径20mnT32 mm。4.根据权利要求1或2或3所述的X荧光检测标样专用成型模具,其特征在于,所述的衬套的上开口端设有定位角,所述的模具本体的上开口端设有与定位角形状对应的定位环 。专利摘要本技术属于模具领域,特别是标样专用成型模具领域。X荧光检测标样专用成型模具,包括模具本体,模具本体内设有腔体,其特征在于,在腔体内加入衬套。利用这样一种成型模具将容易在粉末压片机圆柱型模具腔体内成型的粉末—硼酸,对不容易成型的粉末进行包裹,同时又不改变原粉末,破坏被检测标样的组成成分。在硼酸的衬托包裹下,使被检测标样形成检测所需的标准样块。文档编号B30B15/02GK203141877SQ20132001984公开日2013年8月21日 申请日期2013年1月15日 优先权日2013年1月15日专利技术者葛煦, 路琦, 王德发 申请人:天津市科器高新技术公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
X荧光检测标样专用成型模具,包括模具本体,所述模具本体内设有腔体,其特征在于,在腔体内加入衬套。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:葛煦路琦王德发
申请(专利权)人:天津市科器高新技术公司
类型:实用新型
国别省市:

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