一种树脂中碳纳米管分散性的测定方法技术

本发明专利技术涉及一种树脂中碳纳米管分散性的测定方法，该方法采用刮板细度计通过测定树脂的细度来得到碳纳米管在其中的分散性，具体为通过测定不同树脂、不同碳纳米管含量情况下的细度与分散性数值，找到一系列关系曲线，从而建立了刮板细度与碳纳米管分散性的对应关系，在实际测试时仅需测定待测树脂的细度，即可以对照关系曲线找到其对应的分散性，克服了现有分散性测定方法中步骤繁琐，周期长、无法定量、准确性差的缺点，使得测定过程简便易行，缩短了测试周期，并降低了测试成本，具有快速、直接、准确等优点，具有较强的实用性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种树脂中碳纳米管分散性的测定方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤（一）、将碳纳米管含量为m的待测树脂t倒入刮板细度计的凹槽底部，所述刮板细度计表面清洁并平稳放置；步骤（二）、采用刮刀片对刮板细度计凹槽底部的树脂施加向下的压力，由凹槽深处向浅处刮平，使凹槽中充满待测树脂t；步骤（三）、从刮板细度计上读取待测树脂t的细度A；步骤（四）、测定待测树脂t中碳纳米管的分散性B，得到细度A与分散性B的关系；步骤（五）、采用不同方法制备碳纳米管含量均为m的待测树脂t，重复步骤（一）～步骤（四），得到一条碳纳米管含量为m时待测树脂t的细度A随分散性B变化的关系曲线；步骤（六）、变化待测树脂t中碳纳米管的含量，重复步骤（一）～步骤（五），测得一系列细度A与分散性B的数据，得到一组待测树脂t中碳纳米管含量不同时的细度A随分散性B变化的关系曲线；步骤（七）、变化待测树脂，重复步骤（一）～步骤（六），得到不同待测树脂的细度A随分散性B变化的关系曲线，其中一个待测树脂对应一组细度A随分散性B变化的关系曲线；步骤（八）、针对实际包含碳纳米管的待测树脂，首先按照步骤（一）～步骤（三）测定细度Ai，然后根据步骤（七）找到相应的细度A随分散性B变化的关系曲线，从而得到细度Ai对应的分散性Bi。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邓火英，魏晗兴，谭珏，陈名海，蒋文革，李清文，
申请(专利权)人：航天材料及工艺研究所，中国运载火箭技术研究院，
类型：发明
国别省市：