本发明专利技术涉及利用阵列连接器的拓扑现场测试器和利用阵列连接器的拓扑多波长现场测试器。一种测试仪器包括在第一波长下的多个第一光信号源和分配器，所述分配器被耦合到所述多个第一光信号源以将所产生的信号供应给多光纤测试端口。可以提供附加的第二波长信号源，并且可以提供用于在被测试链路的第二端处使用的第二测试仪器，以实现光链路的测试。?
【技术实现步骤摘要】
利用阵列连接器的拓扑现场测试器和利用阵列连接器的拓扑多波长现场测试器
技术介绍
本专利技术涉及光纤测试，并且更特别地涉及一种光纤功率、损耗以及极性测试器，所述测试器合并了多光纤接口以使得能实现已经用多光纤连接器端接的电缆和连接的有效测试。测试光纤在安装、修理、移动/添加/更新等之后的损耗和/或长度是通常的做法。现今的最常见的拓扑包括附连到单股光纤的单光纤连接器。这些光纤最经常被用在双工拓扑中，使得一个光纤在一个方向上发射网络通信量而另一个光纤在相反方向上发射。各个光纤常常被捆绑成电缆内的大组，但然后在光纤的每端处逐个地用连接器端接。图1图示了适用于双工光纤系统的这个普遍做法，其中，主测试单元12在断接(break-out)处被连接到光纤，而远程测试单元14在电缆的远端处被连接到对应的光纤，并且通过使用两个单元来执行测试。在现今的高密度数据中心中所见到的另一通用拓扑是用如美国专利6004042和美国专利6931193中所描述的多光纤阵列连接器和电缆代替单光纤连接器。已经习惯将多光纤阵列连接器端接到断 接盒(常常被称作模块或盒)中。断接通过使用短的一组光纤来完成，所述短的一组光纤被端接到在一端上的多光纤阵列连接器并且然后到在相反端处的各个单光纤连接器。所述盒使得能实现多光纤阵列电缆站到双工电子设备的连接，或者利用标准插接线与单光纤连接器交叉连接。正变得越来越流行的并且已经由IEEE在它们的802.3ba -用于40吉比特以太网(40GbE)和100吉比特以太网(IOOGbE)两者的2010年标准中标准化的新拓扑利用了具有电子设备中的多光纤阵列接口(代替双工接口)的收发器，使得具有多光纤阵列连接器的插接线能够直接地从该收发器连接到电缆的多光纤端接。因此，消除了对于断接盒的需要。然而，断接盒的消除还消除了对于测试电缆站所需要的单光纤连接器接口。现有技术已经继续通过创建与图2中所图示的先前所描述的断接盒类似的断接电缆来利用具有单光纤接口的传统测试设备。在美国专利5940559和美国专利5196899中找到某现有技术。该现有技术使电缆的测试非常慢并且容易发生错误。此外，多光纤电缆站的极性的测量是高度备受期待的，但是现有技术不能够自动地完成这个。如何创建用于多光纤连接器的光功率、损耗以及极性测试器对于光纤测试领域的技术人员而言不是清楚的。如何在多波长下进行测试的附加要求情况下创建所述测试器甚至更是不清楚的。在多波长下进行测试与双工光纤测试器有共同之处，在多波长下进行测试的主要目的是确保电缆连接站在将在有源网络上运行的波长下满足损耗预算。利用长波长以便确保无弯曲损耗存在于电缆连接站中也是在多波长下进行测试的目的。光纤在较长波长下通常对弯曲损耗更敏感。具有能够在单一和多波长下容易地测试多光纤连接器的测试器将是备受期待的。
技术实现思路
依照本专利技术，提供了具有用于连接到被测试光网络的阵列连接器接口的现场测试器。因此，本公开的目的是提供改进的用于光网络的现场测试器。本专利技术的再一目的是提供改进的用于与阵列连接器一起使用的测试器。在本说明书的结束部分中特别地指出并且显然地要求保护了本专利技术的主题。然而，操作的组织和方法两者、及其进一步的优点和目的可以通过参考与附图相结合地进行的以下描述来最好地理解，在附图中相同的附图标记指代相同的元件。附图说明图1是依照现有技术建立的测试的 图2是依照现有技术的采用断接电缆的测试配置的 图3是依照本公开建立的测试仪器的 图4是测试仪器的实施例的框图；以及 图5是测试仪器的示例配置的 图6是测试仪器的另一示例配置的 图7是测试仪器的又一示例配置的 图8是与图7的配置相对应的对 应的另一端测试仪器的 图9是双波长测试仪器的 图10是可替换的双波长测试仪器的 图11是另一可替换的双波长测试仪器的图；以及 图12是又一可替换的双波长测试仪器的图。具体实施例方式根据本专利技术的优选实施例的系统包括用于采用阵列连接器的光网络的现场测试器。所述测试器可以被作为便携式或手持式仪器提供以便在现场测试光网络。参考图4，依照本公开的测试仪器(仪器20)的第一实施例的框图，所述仪器经由多光纤测试端口 22连接到被测试网络，被测试网络在特定实施例中为光网络，所述多光纤测试端口 22通过分配器24而被对接到测试仪器。分配器与LED/激光器26和检测器28对接，以便从激活器接收光信号并且发射到测试端口，并且以便将接收到的光信号从测试端口供应到检测器。所述仪器包括(一个或多个)处理器30、诸如RAM/R0M 32之类的存储器、持久性储存器34、将设备附连到网络或其他外部设备(储存器、其他计算机等)的I/O36、显示器38、用户输入设备40 (诸如，例如键盘、鼠标或其他定点设备、触摸屏等)、可以包括电池或AC电源的电源42。所述(一个或多个)处理器操作该仪器以提供针对网络的测试和测量功能。在操作中，网络测试仪器被附连到网络，并且观察该网络上的传输，以及提供激励和响应测量以收集信息和统计并且实现测试和测量。在本文中该设备和方法通过在测试端口处提供多光纤接口而消除了对于断接电缆和断接盒的需要。这使得多光纤测试线的使用能够将测试器20连接到被测试的电缆站44 (见图3)。参考图3，在特定实施例中，提供了两个测试器，其中仪器20在被测试链路的一端上，而仪器45在被测试链路的另一端，所述仪器两者皆可以包括便携式或手持式测试仪器。仪器20和45合作以实现测试，并且可以包括两者的有源的测试仪器或有源的和更无源的测试仪器，其中有源仪器控制测试，而更无源的仪器将测量结果往回提供给有源仪器。所述仪器将功率/损耗测量功能与测量极性的能力相组合。根据本公开的这个装置和方法通过将多光纤测试接口直接地集成到测试器本身之上使得能实现新的测试范式。虽然将接口集成到测试器之上的概念可能是显而易见的，但完成集成同时维持测量功率、损耗以及极性的能力的方式是不清楚的。测试装置包括源仪表20和功率表45。源仪表发射将被测量的光信号和用于确定极性所需要的必需编码。功率表测量源的光信号的光功率并且对它进行解码以确定极性。存在创建集成了多光纤测试接口的源仪表的若干方式。第一方法利用了单个LED 46或激光器，并且用执行图4的分配器24的功能的Ixn分光器48将其分离成许多的光信号，如图5示例性配置的图中所见的那样。η个分离信号然后经由η个接头50被提供给多光纤测试端口 52。采用图5的配置的优点是成本低以及耐久性高和精度高。缺点是所有光纤都具有施加于它们的相同的光信号。在不能够区分彼此的情况下，功率表不能 够确定极性。由于这个原因，不认为该方法是最合乎需要的解决方案。参考图6，可替换的方法在源仪表内利用单个激光器或LED 54，并且将其与作为分配器的Ixn光开关56复用在一起,所述光开关经由接头束58与多光纤测试端口 60对接。该方法的优点是隔离和控制到被测试光纤中的任何一个上的光信号的能力。如果源用对开关的位置进行描述的信息进行编码并且用能够对该信息进行解码的功率表进行配对，则还可以测量多光纤电缆的极性。该方法的缺点是开关往往是成本高的，尤其对于多模开关来说。另一缺点是开关的重复性可能不足以进行精确的损耗测量。另一缺点是开关可能不是非常鲁棒的。通过添加滤出本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光网络测试仪器，包括：在第一波长下的多个第一光信号源；以及分配器，其被耦合到所述多个第一光信号源以将所产生的所述信号供应给多光纤测试端口。
【技术特征摘要】
2012.01.31 US 13/362,5671.一种光网络测试仪器，包括: 在第一波长下的多个第一光信号源；以及 分配器，其被耦合到所述多个第一光信号源以将所产生的所述信号供应给多光纤测试端口。2.根据权利要求1所述的光网络测试仪器，进一步包括耦合到所述分配器以从所述多光纤测试端口接收信号的多个光信号检测器。3.根据权利要求1所述的光网络测试仪器，进一步包括:在第二波长下的多个第二光信号源；所述分配器，其被耦合到所述多个第二光信号源以将所产生的所述信号供应给所述多光纤测试端口。4.根据权利要求3所述的光网络测试仪器，其中，所述多个第一和多个第二光信号源被耦合到所述分配器，以用交替第一、第二、第一、第二等方式将所述信号从其中供应到所述多光纤测试端口。5.根据权利要求4所述的光网络测试仪器，进一步包括耦合到所述分配器以从所述多光纤测试端口接收信号的多个光信号检测器。6.根据权利要求5所述的光网络测试仪器，其中，所述分配器包括多个1x2分光器，所述多个1x2分光器将检测器以及所述第一和第二光源中的一个连接到所述多光纤测试端□。7.根据权利要求3所述的光网络测试仪器，进一步包括耦合到所述分配器以从所述多光纤测试端口接收信号的多个光信号检测器，并且其中，所述分配器包括多个1x3分光器，所述多个1x3分光器将检测器以及所述第一光源中的一个和所述第二光源中的一个连接到所述多光纤测试端口。8.一种光网络测试仪器装置，包括: 第一测试仪器，其包括在第一波长下的多个第一光信号源； 第...
【专利技术属性】
技术研发人员：JD谢尔，S戈德斯泰因，H卡斯勒，J萨林，
申请(专利权)人：弗兰克公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。