一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置制造方法及图纸

技术编号:8975046 阅读:123 留言:0更新日期:2013-07-26 04:35
本实用新型专利技术应用于平板显示屏检测装置领域,特别涉及一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置。该打光装置,包括:背光源,所述背光源位于待测显示屏的底部;侧光源,所述侧光源位于待测显示屏的两侧;承载机构,所述承载机构用于承载背光源和侧光源。本实用新型专利技术实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

Lighting device for flat panel display automatic optical detection

The utility model is applied to the field of flat-panel display detection device, particularly relates to a lighting device used in flat panel display automatic optical detection. The lighting device includes a backlight, wherein the backlight to be measured in the bottom of the screen; the side light source, on both sides of the side light source is located on the test screen; bearing mechanism, the bearing mechanism for carrying back light and side light source. Lighting device provided by the embodiment of the utility model is applied to the automated optical inspection of flat panel displays, which can meet the change of the brightness of the image display screen and light uniformity requirements to be tested, and can meet the purpose of dust lit. Through the detection algorithm to effectively filter the dust, to identify the electrical performance of the display defect.

【技术实现步骤摘要】

本技术应用于平板显示屏检测装置领域,特别涉及一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置
技术介绍
平板显示屏自动光学检测设备,是针对平板显示行业的TFT-1XD (Thin FilmTransistor Liquid Crystal Display,薄膜场效应晶体管-液晶显不器)、AM_0LED(ActiveMatrix/Organic Light Emitting Diode,主动矩阵有机发光二极体面板)屏质量进行检测的设备。这种设备可以检测显示屏的电测性能及本身固有的缺陷,比如黑点、白点、暗线、亮线、姆拉(mura)等。现有技术中,通常采用一个背光源对点亮的屏幕进行打光,人眼进行识别产品缺陷的。在实际检测过程中,由于检测环境存在光源亮度差,均匀效果不好、可调范围小等问题,严重影响视觉系统对于产品性能的处理。同时在显示屏的表面,大多容易堆积一些灰尘。对于灰尘与异物的有效区分,也是一大难题。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本技术要解决的技术问题是提供一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,以克服现有技术中的打光装置光源亮度差、可调范围小造成的检测水平有限且不易区别电测缺陷与灰尘的问题。(二)技术方案为了解决上述技术问题,本技术提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,包括:背光源,所述背光源位于待测显示屏的底部;侧光源,所述侧光源位于待测显示屏的两侧;承载机构,所述承载机构用于承载背光源和侧光源。 进一步地,所述侧光源通过旋转支架安装于待测显示屏的两侧。进一步地,所述侧光源为LED条形光。进一步地,所述背光源为强度可调、光线均匀的光源。进一步地,还包括算法处理系统,所述算法处理系统通过处理侧光源照射待测物图象,分析存在于待测显示屏上的颗粒物的性质。(三)有益效果本技术实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。附图说明图1为本技术实施例应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置结构示意图。具体实施方式以下结合附图和实施例,对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术,但不用来限制本技术的范围。如图1所示,本技术实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,包括:背光源1、侧光源2、侧光源3和承载机构4。本技术实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。其中,该背光源I位于待测显示屏的底部,其发出的光线均匀地照射在显示屏的底部,当待测显示屏具有信号时,为检测作业提供照明条件。其中,该背光源为强度可调、光线均匀的光源。侧光源2、侧光源3位于待测显示屏的两侧,其通过旋转支架安装于待测显示屏的两侧,该旋转支架使得该侧光源可进行旋转,其发出的光线均匀的照射在待测显示屏的表面,用于对待测显示屏表面异物的检测。该双侧侧光源可对待测显示屏的表面异物打光,从而异物表面高亮。通过对待测显示屏表面异物成像,算法处理系统对采集的图像分析该待测显示屏上的颗粒物为显示屏内的异常,还是显示屏表面异物。具体的,该侧光源可以为LED条形光。承载机构4用于承载背光源I和侧光源,该背光源I和侧光源均安装在承载机构4上,承载机构除了安装上述部件外,还可以用于承载相机、镜头5、待测显示屏等。本实施例中的待测平板显示屏为TFT-1XD、AM-OLED等平板显示屏。本技术实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。以上所述仅是本技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本技术技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本技术的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,其特征在于,包括:背光源,所述背光源位于待测显示屏的底部;侧光源,所述侧光源位于待测显示屏的两侧;承载机构,所述承载机构用于承载背光源和侧光源。

【技术特征摘要】
1.一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,其特征在于,包括: 背光源,所述背光源位于待测显示屏的底部; 侧光源,所述侧光源位于待测显示屏的两侧; 承载机构,所述承载机构用于承载背光源和侧光源。2.如权利要求1所述的打光装置,其特征在于,所述侧光源通过旋转支架安装于待测显示屏的两侧。3....

【专利技术属性】
技术研发人员:徐江伟董新桥
申请(专利权)人:北京兆维电子集团有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:

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