【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种旋转角度检测装置。
技术介绍
通常的磁式旋转角度检测器,使用由磁传感器对旋转鼓的多极磁图案所生成的磁场进行检测得到的结果,对旋转鼓的旋转角度进行检测,作为经由轴部与旋转鼓连结的电动机等的旋转体的旋转角度,其中,上述旋转鼓的多极磁图案是在旋转鼓的外周以磁化间距λ交替磁化形成N极/S极。在磁传感器中使用AMR元件等磁阻效应元件(MR元件),该磁传感器使用的是AMR元件的电阻随着磁场变化而变化这一性质。在磁传感器中,由MR元件对旋转鼓旋转而产生的磁场变化进行检测,基于由此得到的正弦波状的检测信号,对旋转鼓的旋转角度进行检测。更具体地说,磁传感器构成为,通过将MR元件以阵列状排列,从而输出相位错开90度的正弦波(Α相)的 检测信号及余弦波(B相)的检测信号。接受上述来自磁传感器的检测信号的后段运算装置,通过进行A相检测信号和B相检测信号的反正切运算,从而计算旋转鼓的旋转角度。通常,在从磁通量密度的波形变换为MR元件的检测信号(MR波形)时,必然会在该MR波形中重叠有高次谐波失真。其理由是,用于从磁通量密度变换为MR元件的检测信号(电阻变化率)的MR特性 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种旋转角度检测装置,其对在外周具有磁化间距为λ的多极磁图案的旋转鼓进行旋转角度的检测, 其特征在于, 所述旋转角度检测装置具有用于检测所述多极磁图案的检测轨道, 所述检测轨道具有: 第I检测元件组,其配置在第I基准电位和输出端子之间,具有多个第I磁阻元件,在将所述多极磁图案的检测信号的基波成分中重叠的多个高次谐波成分中要去除的高次谐波成分的次数设为η时,该多个第I磁阻元件以λ / (2η)的间隔配置; 第2检测元件组,其配置在所述输出端子和第2基准电位之间,具有以λ/ (2η)的间隔配置的多个第2磁阻元件; 多个第I哑磁阻元件,它们配置在所述多个第I磁阻元件之间;以及 多个第2哑磁阻元件,它们配置在所述多个第2磁阻元件之间, 所述多个第I磁阻元件及所述多个第I哑磁阻元件中彼此相邻的磁阻元件的间隔彼此均等, 所述多个第2磁阻元件及所述多个第2哑磁阻元件中彼此相邻的磁阻元件的间隔彼此均等。2.根据权利要求1所述的旋转角度检测装置,其特征在于, 所述检测轨道, 还具有多个第3哑磁阻元件,它们配置在所述第I检测元件组及所述第2检测元件组中至少一方的两个外侧, 所述多个第I磁阻元件、所述多个第I哑磁阻元件、及所述多个第3哑磁阻元件中彼此相邻的磁阻元件的间隔彼此均等,或者,所述多个第2磁阻元件、所述多个第2哑磁阻元件、及所述多个第3哑磁阻元件中彼此相邻的磁阻元件的间隔彼此均等。3.根据权利要求1所述的旋转角度检测装置,其特征在于, 所述检测轨道, 还具有...
【专利技术属性】
技术研发人员:浅野匠,武舍武史,西泽博志,冈室贵士,长谷川伦康,
申请(专利权)人:三菱电机株式会社,
类型:
国别省市:
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