【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量方法
，特别是在生产胶带过程中测量胶层厚度的一种。
技术介绍
目前双面胶带的自动生产线一般采用以下方法生产胶带，先让离型纸或离型膜通过胶槽，使离型纸或离型膜的一面粘上胶层，然后再把带胶层的离型纸或离型膜贴附在基材的一侧，即可得到单面胶带，通过相同的方法把基材的另一侧也贴附上胶层，即可得到双面胶带。由于胶层的厚度直接影响胶带的粘贴性能，因此在生产的过程中实时监控离型纸或离型膜上的胶层的厚度显得尤为重要。目前胶带生产行业，测量胶层厚度的方法一般是采用割口测试的方法，即是在生产过程中，从带胶的离型纸或离型膜的边沿割出一小块，然后进行厚度检测，再把测得的厚度减去离型纸或离型膜的厚度，即可得到胶层的厚度。采用上述的方法虽然简单，但存在以下问题，边沿带有割口的胶带基材再给基材的另一面粘附胶带时，割口过对边机的时候，由于对边机的测检装置检测不到胶带的边沿，无法对边，为强制对边，设备会发出错误的指令，致使材料跑偏，从而使双面胶打皱，造成良品率下降。
技术实现思路
本专利技术为了解决目前双面胶生产过程中由于采用割口检测的方法，导致双面胶打皱，造成良品率下降的问题，而提供的一种。为达到上述功 能，本专利技术提供的技术方案是:—种，所述测量方法包括以下步骤:(I)、取出部分原膜，把所述原膜裁剪为原膜片；(2)、把所述原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面；(3)、扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片；(4)、测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，得到胶层厚度。优选地，所述原膜为厚度为80um 120um的PET原膜。优选地，所述...
【技术保护点】
一种胶层厚度测量方法，其特征在于：所述测量方法包括以下步骤：（1）、取出部分原膜，把所述原膜裁剪为原膜片；（2）、把所述原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面；（3）、扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片；（4）、测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，得到胶层厚度。
【技术特征摘要】
1.一种胶层厚度测量方法，其特征在于:所述测量方法包括以下步骤: (1)、取出部分原膜，把所述原膜裁剪为原膜片； (2)、把所述原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面； (3)、扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片； (4)、测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，得到胶层厚度。2.如权利要求1所述的胶层厚度测量方法，其特征在于:所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李禹，
申请(专利权)人：东莞市三文光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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