一种用于测量样品尺寸的专业测量工具制造技术

技术编号:8948658 阅读:159 留言:0更新日期:2013-07-21 19:39
本实用新型专利技术公开了一种用于测量样品尺寸的专业测量工具,包括方形板(1),所述的方形板(1)的一个表面上分布有横坐标(3)和纵坐标(2),所述的纵坐标(2)至少有三条且与实际需要的条数相匹配,每条纵坐标(2)均匀分布有刻度,从小到大依次标有标号,所述的横坐标(3)位于纵坐标(2)最小标号端并与所有的纵坐标(2)垂直。本实用新型专利技术通过上述结构每次可同时测量多个点,测量次数大幅减少,测试误差可控性提高,对尺寸稳定性评估更准确。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量工具,具体涉及一种用于测量样品尺寸的专业测量工具
技术介绍
在生产晶体硅硅片、光伏电池和光伏组件时,需要先对其材料样品进行测试,知道材料在不同环境下的尺寸稳定性指标,从而找出型变量最小的材料进行生产制造。现在主要采用取材料的矩形实验样品放在不同环境下,测量该试验样品在不同环境下的尺寸,记录数据并计算求平均值,得出尺寸稳定性的分析结果,筛选稳定性最好的材料。我们知道,通过多次测量求平均值的方法可以有效减少测量误差,因此对尺寸稳定性进行评估一般需要测量多个点。现在主要通过直尺对样品上的点一个一个分别多次测量,测量数量增多,测试误差可控性变差,测量误差比较大,影响最后的评估结果,选材方面就会出现偏差,对产品的性能产生影响。这样就无法满足一些对产品性能要求比较严格的领域,也就不利于企业的更长远发展。因此有必要设计一套更简单实用,精确度更高同时还可实现测量多个点的测量工具。
技术实现思路
本技术克服了现有技术的不足,提供了一种用于测量样品尺寸的专业测量工具,解决了现有技术中每次只能测量一个点,无法同时测量多个点,测量次数多,测试误差可控性差的缺陷。为解决上述的技术问题,本技术采用以下技术方案:一种用于测量样品尺寸的专业测量工具,包括矩形板,所述的矩形板的一个表面上分布有横坐标和纵坐标,所述的纵坐标至少有三条且与实际需要条数相匹配,每条纵坐标均匀分布有刻度,从小到大依次标有标号,所述的横坐标位于纵坐标最小标号端并与所有的纵坐标垂直。矩形板所用的材质为强度适中,耐磨的光可透材料制成,观察测量方便,像塑料制品之类的。更进一步的技术方案是:上述的所有纵坐标等间距排布,两端的纵坐标分别与矩形板的对应边相重合。对于物体只需测量一次,就可实现对多点同时读数,有效减少测量误差,减少工作量。上述的每个纵坐标的最大刻度为240mm,两两纵坐标之间的距离范围在30mm 50mm之间。上述的两两纵坐标之间的距离为40mm。该距离为最佳距离。上述的横坐标均勻分布有刻度,依次标号,最大刻度为240mm,且与矩形板的一条边重合。便于观察测量。与现有技术相比,本技术的有益效果是:本技术可以对测量物体同时测量多点,满足了实验样品测量一般要测量多个点的要求,极大的减少了测试次数,从而减小工作量。这样一来,只需测量一次,就可以读出多个点的读数求得平均值,有效的减少测量的误差。附图说明图1为本技术的结构示意图。具体实施方式以下结合附图1对本技术作进一步阐述,本技术的实施例不限于此。实施例1:本技术包括矩形板1,所述的矩形板I的一个表面上分布有横坐标3和纵坐标2,矩形板I为光可透耐磨材料。纵坐标2有七条,也可以根据实际需要设为三条或者五条,条数与实际需要的条数相匹配即可,每条纵坐标2均匀分布有刻度,从小到大依次标有标号,所述的横坐标3位于纵坐标2最小标号端并与所有的纵坐标2垂直。多次测量求平均值,减小误差。本实施例的横坐标3均勻分布有刻度,依次标号,最大刻度为240mm且与矩形板I的一条边重合。本实施例的所有纵坐标2等间距排布,两端的纵坐标2分别与矩形板I的对应边相重合。每个纵坐标2的最大刻度为240mm,两两纵坐标2之间的距离范围在30mm 50mm之间,最佳距离为40mm。我们知道测量次数越多,求平均值得到的结果误差越小,但是测量次数越多工作量也越大。因此我们在这里采用选取采样材料上的七个点同时进行纵向测量,即可满足一般测量的需要也不会增加太多工作量,在一些精度要求高的领域也可适当增加纵坐标的数量。该技术对于其他设计可根据需要将横坐标刻度间距改变,纵坐标刻度测量范围改变,均可达到此效果。如上所述便可实现该技术。以上所述,仅是本技术的较佳实施例,并非对本技术做任何形式上的限制,凡是依据本技术的技术实质上对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化,均落入本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量样品尺寸的专业测量工具,其特征在于:包括矩形板(1),所述的矩形板(1)的一个表面上分布有横坐标(3)和纵坐标(2),所述的纵坐标(2)至少有三条且与实际需要条数相匹配,每条纵坐标(2)均匀分布有刻度,从小到大依次标有标号,所述的横坐标(3)位于纵坐标(2)最小标号端并与所有的纵坐标(2)垂直。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量样品尺寸的专业测量工具,其特征在于:包括矩形板(I),所述的矩形板(I)的一个表面上分布有横坐标(3)和纵坐标(2),所述的纵坐标(2)至少有三条且与实际需要条数相匹配,每条纵坐标(2)均匀分布有刻度,从小到大依次标有标号,所述的横坐标(3)位于纵坐标(2)最小标号端并与所有的纵坐标(2)垂直。2.根据权利要求1所述的一种用于测量样品尺寸的专业测量工具,其特征在于:所述的所有纵坐标(2)等间距排布,两端的纵坐标(2)分别与矩形板(I)的对应边相...

【专利技术属性】
技术研发人员:张伟颉萍林洪峰盛雯婷张凤鸣
申请(专利权)人:天威新能源控股有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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