一种六点五倍密通用测试机开关卡制造技术

本实用新型专利技术提供了一种六点五倍密通用测试机开关卡，包括：探头、横梁、PCB；所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。本实用新型专利技术提供的六点五倍密通用测试机开关卡，通过导通测试电流与短路测试电压、电流的增加，有效提升了测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率；以及不良板具体阻值的读出，为板厂维修及后续制程提供了可靠依据；开关卡与新型探头的有效结合，不但解决了现有技术中因多重转接导致的接触电阻加大的问题，也相应提高了自身连接的稳定性与可靠性。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

A six point five times universal test machine

The utility model provides a universal test machine on six point five times the density levels, including: probe, beam, PCB; the PCB is arranged on the upper end of the probe device hole density symmetry, the probe pin through the probe device on PCB hole welded on the back side of the PCB vertically below the probe attached tightly on the beam, the the probe is arranged on the upper end of the needle PIN. Six point five times the utility model provides a dense universal testing machine card, by increasing the conduction test current and short circuit test of voltage and current, effectively improve the measurement accuracy of the testing machine, greatly improving the efficiency of testing high density board - micro short; and the specific resistance of the read bad board, provide a reliable basis for in plant maintenance and follow-up process; and the effective combination of new probe cards, not only solves the contact resistance caused by multiple switching in the existing technology increase, accordingly improve the stability and reliability of its connection.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路板的检测设备领域，尤其涉及一种电路板电气性能检测用六点五倍密通用测试机开关卡。
技术介绍
众所周知，所有的电器设备或控制系统都要应用印刷线路板，为确保线路板不发生开路或短路，印刷线路板在出厂前均需通过印刷线路板测试机的测试，将不合格的线路板选出修复或报废。随着半导体制造技术的高速发展，IC器件集成度迅速提高,安装技术已经从插装技术(THT)过渡到表面安装技术，并已走向芯片级封装技术。同时由于通迅技术的发展需要，要求信号的高速传递，PCB作为传送信号的主要渠道，致使PCB向高密度(HDI)发展成为必然。现有的印刷线路板通用测试机开关卡主要有两种:双倍密通用测试机开关卡(标准网格间距为70mil)与四倍密通用测试机开关卡(标准网格间距为50mil)。上述设备能满足一般印刷电路板的测试需求，但在实际测试过程中存在以下缺陷:一、密度不够，比较难以满足高密度HDI板(如间距为15 25mil)的测试要求。二、测试电流不够，增加测试过程中微开，微短板的程度。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种六点五倍密通用测试机开关卡，以提升测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率。本技术的目的是通过以下技术方案实现的。—种六点五倍密通用测试机开关卡，包括:探头、横梁、PCB ;所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。进一步优选的，所述探头上端的PIN针成矩阵排列。进一步优选的，所述PIN针的中心距为1.0mm。本技术与现有技术相比，有益效果在于:本技术提供的六点五倍密通用测试机开关卡，通过导通测试电流与短路测试电压、电流的增加，有效提升了测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率；以及不良板具体阻值的读出，为板厂维修及后续制程提供了可靠依据；开关卡与新型探头的有效结合，不但解决了现有技术中因多重转接导致的接触电阻加大的问题，也相应提高了自身连接的稳定性与可靠性。附图说明图1为本技术六点五倍密通用测试机开关卡结构示意图。图2为本技术局部放大示意图。图3为本技术实施例等效电路示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。请参阅图1、2所示，本技术提供的六点五倍密通用测试机开关卡，包括:探头1、横梁2、PCB 3 ; PCB 3上端设有密度匀称的探头装置孔5，探头I的针脚4穿过PCB3上的装置孔5而焊接于背面，从而将探头I与PCB3很好的结合在一起。探头I的垂直下方紧贴在横梁2上，在测试过程中横梁2承受绝大部分的压力，使得探头I与PCB3之间的相互作用力很小，这样的结构在测试过程中探头I不易受损而导致接触不良，从而克服了现有转接技术不好的缺陷，稳定可靠的性能保证了良好的测试效果。探头I上端设有成矩阵排列的PIN针6，PIN针6的中心距为1.0mm，相对较小的PIN中心距使得在制作测试夹具时钢针的斜率也较小，更易测试高密度的HDI板。实施例。本技术开关卡上测试电路主要包括:开关矩阵模块A ;恒流源模块B ;电压测试模块C。其等效电路图如图3所示。在图3中SW1-H、SW1-L、SW2-H、SW2-L为开关矩阵模块中的4个电子开关；RS1、RS2为转接部分(如夹具，针床等)的等效电阻；RL为被测PCB网络的等效电阻为进行测试时恒流源模块的电流值为进行测试时电压测试模块得到的电压值，根据这个电压值来判断PCB板线路的好坏。假设PCB板上一条网络的等效电阻为RL，机器上转接部分(夹具，针床)的电阻为RSU RS2，打开电子开关SW1-H，SW2-L，设定电流为I (在图中已标明流向)，那么测试电压Vi=(RSl+RS2+RL)*I，将测到的Vi与之前设定的一个标准值进行比较便可对PCB线路的好坏进行判断。分析上述公式:RS1+RS2的值在机器生产完毕后一个相对稳定的经验值，所以PCB线路的等效电阻RL与设定的测试电流就决定了 Vi的值。当增大电流I (如增大到20MA，原来为10MA)时，被测电阻RL变化较小的值(比如I欧姆)，测到的Vi就会相应增大一倍，进而更好地与标准值进行比较。本技术提供的六点五倍密通用测试机开关卡正是增加导通与绝缘测试时电流来提高测试的精度与微开，微短PCB效率的。本技术提供的六点五倍密通用测试机开关卡，通过导通测试电流与短路测试电压、电流的增加，有效提升了测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率；以及不良板具体阻值的读出，为板厂维修及后续制程提供了可靠依据；开关卡与新型探头的有效结合，不但解决了现有技术中因多重转接导致的接触电阻加大的问题，也相应提高了自身连接的稳定性与可靠性。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种六点五倍密通用测试机开关卡，其特征在于，包括:探头、横梁、PCB ;所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。2.如权利要求1所述的六点五倍密通用测试机开关卡，其特征在于，所述探头上端的PIN针成矩阵排列。3.如权利要求2所述的六点五倍密通用测试机开关卡，其特征在于，所述PIN针的中心距为1.0臟。专利摘要本技术提供了一种六点五倍密通用测试机开关卡，包括探头、横梁、PCB；所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。本技术提供的六点五倍密通用测试机开关卡，通过导通测试电流与短路测试电压、电流的增加，有效提升了测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率；以及不良板具体阻值的读出，为板厂维修及后续制程提供了可靠依据；开关卡与新型探头的有效结合，不但解决了现有技术中因多重转接导致的接触电阻加大的问题，也相应提高了自身连接的稳定性与可靠性。文档编号G01R31/02GK203054152SQ201320019320公开日2013年7月10日 申请日期2013年1月15日 优先权日2013年1月15日专利技术者林咏华 申请人:深圳市凯码时代科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种六点五倍密通用测试机开关卡，其特征在于，包括：探头、横梁、PCB?；所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林咏华，
申请(专利权)人：深圳市凯码时代科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：