RFID标签芯片验证系统及验证方法技术方案

技术编号:8907388 阅读:152 留言:0更新日期:2013-07-11 05:04
本发明专利技术涉及一种RFID标签芯片验证系统及验证方法。所述验证系统采用分层结构,自下至上方式搭建各层,包括:信号层(1),命令层(2),功能层(3),场景层(4)及测试层(5)。本发明专利技术的验证系统及验证方法不仅能对单个命令进行验证,也能对特定的和随机的命令流进行验证,并自动检查验证结果。本发明专利技术验证系统的层次结构保证了代码重用性,解决了RFID标签芯片验证充分性的问题,同时提高了验证效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于RFID标签芯片的功能验证领域,涉及到一种RFID标签芯片验证系统及验证方法
技术介绍
射频识别RFID (Radio Frequency Identif ication)技术,是一种非接触式且能自动识别目标物体的无线通信技术,通过射频识别RFID技术可以通过无线信号识别特定目标并读写相关数据,而不用识别系统与特定目标之间建立机械或光学接触。射频识别系统通常由电子标签 VICC (Vicinity Integrated Circuit (s) Cards)和阅读器 VCD (VicinityCoupling Device)构成。验证系统通过对V⑶和VICC的功能的模拟,从而到达对标签芯片进行功能验证的目的(功能验证是指通过探索逻辑设计的状态空间比较设计实现与需求规范和设计意图是否相符)。对于符合IS0/IEC15693协议的标签芯片,阅读器V⑶发送给电子标签VICC的命令有15条之多,而且命令帧的格式都不相同。电子标签VICC返回给阅读器VCD的响应帧的格式也不尽相同。因此,为保证电子标签VICC功能的正确性,在验证过程中不仅要对单条命令进行验证,而且还要对特定的命令序列和随机命令序列进行验证。所以采用传统的验证方法,往往需要大量的验证人员并耗费大量的时间投入在芯片验证工作中。在传统的验证方法中,验证工程师需要编写大量的定向激励,并通过人工的方法观测和检查仿真结果。这种验证方法的效率非常低下,可重用性低,而且验证充分性得不到保障,往往导致流片后有些功能没有得到完全验证,从而导致了流片失败。因此,需要对传统的验证系统和验证方法进行改进,以解决验证充分性的问题,同时提高验证效率。本方法针对RFID标签芯片的帧结构和命令格式特点,提出了一种基于覆盖率和受约束的随机激励的面向对象的功能验证系统设计方法,目的是为了大幅提高验证效率,解决验证充分性的问题。验证人员可以在系统上定制所需要的测试激励,也可以随机生成测试激励。使用本方法的验证系统可以大大减少验证人员的数量并缩短验证周期,显著的提高验证生产率。
技术实现思路
本专利技术提出了一种RFID标签芯片验证系统及验证方法。本专利技术的验证系统及其方法不仅能对单个命令进行验证,也能对特定的和随机的命令流进行验证,并自动检查验证结果。验证系统采用分层次,基于VMM (VerificationMethodology Manual),自下至上方式搭建,包括信号层、命令层、功能层、场景层和测试层。根据本专利技术的第一方面,提供了一种RFID标签芯片验证系统,所述验证系统包括:信号层1,包括连接到待验证标签芯片的标签芯片接口 10和虚拟接口 11,其中EEPROM接口读写信号传输到EEPROM验证IP13,其它输入输出信号利用虚拟接口 11传输到总线功能模块12以及命令层监视器模块14 ;命令层2,包括总线功能模块12、EEPROM验证IP13和命令层监视器14,其中总线功能模块12的输入来自驱动器15,输出连接到虚拟接口 11,EEPROM验证IP13的输入输出只与标签芯片接口 10相连,命令层监视器14的输入来自虚拟接口 11,输出连接到响应监视器18 ;功能层3,包括驱动器15、标签参考模块16、检查器17和响应监视器18,驱动器15的输入为激励发生器19,输出给标签参考模块16、响应监视器18以及总线功能模块12,标签参考模块16的输入来自驱动器15以及命令响应模块21,输出连接到检查器17,检查器17的输入来自标签参考模块16、命令响应模块21和响应监视器18 ;场景层4,包括激励发生器19和命令响应模块21 ;测试层5,包括测试案例20。其中,所述总线功能模块12用于将从所述驱动器15接收的事务以一定的编码方式生成信号波形,发送到所述标签芯片接口 10 ;所述命令层监视器14通过所述虚拟接口 11连接所述标签芯片接口 10,用于把所述标签芯片接口 10的输出波形还原为数据事务。其中,所述命令层监视器14检测所述标签芯片接口 10的输出是否符合规定的协议,以及将所述标签芯片接口 10的输出波形转化为字节形式的信息。其中,所述协议包括IS0/IEC15693协议或者IS0/IEC14443协议。其中,所述命令层监视器14基于解码算法把所述标签芯片接口 10的输出波形还原为数据事务。其中,所述驱动器15用于将从所述激励发生器19取得的事务发送给所述总线功能模块12 ;所述标签参考模块16基于系统验证工具systemverilog编写实现待验证标签芯片的功能;所述检查器17包括第一输入接口和第二输入接口,所述第一输入接口用于接收所述响应监视器18发送的响应,所述第二输入接口用于接收所述标签参考模块16发送来的事务,所述检查器17用于检查上述两个输入接口的信息是否一致,判断待验证的标签芯片的逻辑功能是否正确;以及所述响应监视器18用于接收命令层监视器14发送的事务并对其进行处理,然后发送给所述检查器17。可选的,所述激励发生器19基于激励产生决策算法来确定何时产生激励以及何时将激励发送到所述驱动器15。可选的,所述激励发生器19包括基元发生器和场景发生器,所述基元发生器产生单条命令帧,所述场景发生器生成命令序列。可选的,所述测试案例20包括:创建定向激励、发生器的附加约束、新的随机场景的定义、被测设计的状态监控或错误插入使能标志。根据本专利技术的另一方面,提供了一种RFID标签芯片的验证方法,用于在前述任一项所述的RFID标签芯片验证系统中运行,所述方法包括:步骤1:编写测试案例20 ;步骤2:调用激励发生器19产生相应信号;步骤3:驱动器(15)将从激励发生器19取得的信号发送给总线功能模块12 ;步骤4:总线功能模块12将从驱动器15接收的信号通过一定的编码方式生成信号波形,施加于标签芯片接口 10 ;步骤5:所述响应监视器18包括第一输入接口和第二输入接口,所述第一输入接口接收所述检查器17发送的响应,所述第二输入接口接收所述标签参考模块16发送来的事务;步骤6:响应监视器18检查上述两个输入接口的信息是否一致,判断所述待验证的标签芯片的逻辑功能是否正确。其中,所述检查器17接收命令层监视器14发送的事务,并对其进行处理,然后发送给所述响应监视器18。可选的,所述激励发生器19包含激励产生决策算法,决定何时产生激励以及何时将激励送入所述驱动器15。可选的,所述测试案例20包括创建定向激励、发生器的附加约束、新的随机场景的定义、被测设计的状态监控或错误插入使能标志。可选的,所述命令层监视器14通过解码后将所述标签芯片接口 10的输出波形还原为数据事务。可选的,所述标签参考模块16用系统验证工具systemverilog编写实现待验证的标签芯片的功能。可选的,所述激励发生器19产生单条命令或产生命令序列。在本专利技术的RFID标签芯片验证系统中,通过分层将设计的端口进行抽象,使得验证环境无须修改就可以被不同的DUT (Design Under Test)模块所使用。所述虚拟接口是systemverilog语言中的一种接口机制,能使抽象模块与被测设计连接,虚拟接口提高了系统的可重用性,减少了验证系统开发的复杂度。本专利技术提供的RFID标签芯片验证系统及验证方法优选的适用本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种RFID标签芯片验证系统,所述验证系统包括:信号层(1),包括连接到待验证标签芯片的标签芯片接口(10)和虚拟接口(11),其中EEPROM接口读写信号传输到EEPROM验证IP(13),其它输入输出信号利用虚拟接口(11)传输到总线功能模块(12)以及命令层监视器模块(14);命令层(2),包括总线功能模块(12)、EEPROM验证IP(13)和命令层监视器(14),其中总线功能模块(12)的输入来自驱动器(15),输出连接到虚拟接口(11),EEPROM验证IP(13)的输入输出只与标签芯片接口(10)相连,命令层监视器(14)的输入来自虚拟接口(11),输出连接到响应监视器(18);功能层(3),包括驱动器(15)、标签参考模块(16)、检查器(17)和响应监视器(18),驱动器(15)的输入为激励发生器(19),输出给标签参考模块(16)、响应监视器(18)以及总线功能模块(12),标签参考模块(16)的输入来自驱动器(15)以及命令响应模块(21),输出连接到检查器(17),检查器(17)的输入来自标签参考模块(16)、命令响应模块(21)和响应监视器(18);场景层(4),包括激励发生器(19)和命令响应模块(21);测试层(5),包括测试案例(20)。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王德明丁一丁颜玉胡建国
申请(专利权)人:广州中大微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1