能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法技术方案

技术编号:8907048 阅读:194 留言:0更新日期:2013-07-11 04:43
本发明专利技术提供一种能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法。本发明专利技术所述存储系统,包括多个DMA内存单元,用于存储测试数据;与所述DMA内存单元连接的数据处理单元,通过PCIE接口,使所述存储系统中的存储控制单元与所述DMA内存单元进行至少一次预设数量的数据传输,并且在传输的过程中记录所产生的传输信息,并在传输完成所产生的中断或传输过程中因出现错误所产生的中断期间,将所述传输信息予以输出;测试单元,依据所述数据处理单元所输出的传输信息分析所述PCIE接口的至少一种性能。

【技术实现步骤摘要】
能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法
本专利技术涉及总线测试领域,特别是涉及一种能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法。
技术介绍
存储系统是计算机中由存放程序和数据的各种存储设备、控制部件及管理信息调度的设备(硬件)和算法(软件)所组成的系统。随着互联网应用的发展,应用对存储系统的性能要求越来越高,其中外部设备互联高速总线接口(PCIE)是存储系统与外部设备进行数据交互的途径,因此PCIE接口与相关硬件的匹配度或各自的性能好坏能够反映存储系统的性能高低,因此,存储系统在设计完成后,通常要进行基于PCIE的测试。目前的测试设备主要包括:数据发生器和测试分析仪,由数据发生器向存储系统的PCIE接口产生大量数据,由测试分析仪来抓取PCIE接口的数据,再对所抓取的数据进行分析,以提供图形并茂的分析结果。上述测试设备的硬件结构复杂、价格昂贵,还需要对存储系统进行开箱测试,这使得测试过程十分复杂。对于低成本的、简化的存储系统来说,使用这类测试设备会增加存储系统的整体成本。因此,需要对现有的存储系统进行改进。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种能够自测PCI本文档来自技高网...
能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法

【技术保护点】
一种能够自测PCIE接口的存储系统,其特征在于,至少包括:多个DMA内存单元,用于存储用于测试的数据;与所述DMA内存单元连接的数据处理单元,通过PCIE接口,使所述存储系统中的存储控制单元与所述DMA内存单元进行至少一次预设数量的数据传输,并且在传输的过程中记录所产生的传输信息,并在传输完成所产生的中断或传输过程中因出现错误所产生的中断期间,将所述传输信息予以输出;测试单元,用于依据所述数据处理单元所输出的传输信息分析所述PCIE接口的至少一种性能。

【技术特征摘要】
1.一种能够自测PCIE接口的存储系统,其特征在于,至少包括:多个DMA内存单元,用于存储用于测试的数据;与所述DMA内存单元连接的数据处理单元,通过PCIE接口,使所述存储系统中的存储控制单元与所述DMA内存单元进行至少一次预设数量的数据传输,并且在传输的过程中记录所产生的传输信息,并在每次传输完成所产生的中断或传输过程中每次因出现错误所产生的中断期间,将新记录的传输信息予以输出;其中,所述数据处理单元包括:多核处理器、DMA控制器、及用于存储传输数据过程中产生的错误信息的寄存器;所述传输信息包括:包括每个数据的数据量、传输所有数据所消耗的时间和所传输数据的数量的数据信息、和/或所述数据处理单元在传输数据的过程中出现错误的错误信息;测试单元,用于依据所述数据处理单元所输出的传输信息分析所述PCIE接口的性能,所述PCIE接口的性能包括:PCIE接口的带宽、延时、稳定性中的至少一种。2.根据权利要求1所述的能够自测PCIE接口的存储系统,其特征在于,所述DMA内存单元为入栈循环队列,用于循环存储多个数据。3.根据权利要求1所述的能够自测PCIE接口的存储系统,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:何学勤
申请(专利权)人:加弘科技咨询上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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