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本发明提供一种能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法。本发明所述存储系统，包括多个DMA内存单元，用于存储测试数据；与所述DMA内存单元连接的数据处理单元，通过PCIE接口，使所述存储系统中的存储控制单元与所述DMA内存单元进行至少一次预...
该专利属于加弘科技咨询（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过加弘科技咨询（上海）有限公司授权不得商用。

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