本发明专利技术实施例公开了一种触摸检测方法及装置，该方法包括：对触摸屏中的若干检测行进行行组划分；从每一个行组中确定选定检测行；对每一个行组中每一检测行内的各像素点进行触摸检测，其中，针对同一行组中位于同一像素列的像素点的触摸检测是同步进行的；在任意一个行组中有存在触摸反馈的像素列时，依次对所述像素列中的选定检测行内的像素点进行触摸检测，确定触摸像素点，用以解决现有技术中存在的触摸检测次数过多导致的设备出现响应过慢、停顿或无响应的问题。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及触摸检测
，特别涉及一种触摸检测方法及装置。
技术介绍
目前已有的触摸屏检测方式包括:电阻式触摸检测方式、电容式触摸检测方式、红外触摸检测方式、声表面波触摸检测方式、电磁触摸检测方式等等。手机和平板电脑等移动设备的触摸屏通常采用的是电阻式技术和电容式技术。在电阻式技术中，触摸面板被涂覆了两层ITO (Indium Tin Oxides，铟锡氧化物)氧化层。当触摸面板被触摸时，这两个ITO层发生接触，使得被触摸位置对应的一个开关闭合，相应信息被送往处理器用于进一步处理。在电容式技术中，触摸面板被涂覆了一种能够存储电荷的材料。当触摸面板被触摸时，少量电荷被吸引到接触点，位于触摸面板中的电路测量被吸引到接触点的电荷，并且把相应信息送往处理器用于处理。上述触摸屏技术均采用了一种逐行扫描的方式检测触摸，把触摸敏感器(即触摸面板)的变化存储到处理器中，处理器将触摸敏感器的变化翻译成显示屏的对应坐标，系统根据对应坐标的位置执行用户操作。图1为电容式触摸屏系统框图。图2为互电容电路简化示意图，该互电容电路包括传感线111、驱动线112和电容耦合节点113 (即检测单元Ctl),其中传感线111和驱动线112是空间分离的。驱动线112，连接在电压源120和电容耦合节点113之间，用于向电容耦合节点传输驱动信号。传感线111，连接在电容耦合节点113和电容检测电路130之间，向电容检测电路130传送电容耦合节点113的检测信号。114和115是触摸面板涂层间产生的寄生电容。下面以电容耦合节点113为例说明触摸检测过程。在电容耦合节点113没有被触摸时，电容耦合节点113上的电荷保持恒定。在电容耦合节点113被触摸时，电容检测单元Ctl携带的电荷发生变化，此时，将通过传感线111将电荷发生变化的检测信号，传送给电容检测电路130。电容检测电路记录出现电荷变化的电容耦合节点113的位置信息，并将这一记录发送给处理器，令处理器执行相应操作。图3为传统触摸屏检测方法示意图，依次对每一行中的各像素点进行触摸扫描，处理器检测并记录下扫描结果。针对分辨率为MXN的触摸屏，如果采用这种方式进行触摸屏检测，就需要进行MXN次检测，其中，M和N为正整数。图4为采用图3对应的方法时，电压源120通过各驱动线向各行中的电容耦合节点输入的驱动信号示意图。在第一周期到达时，向第I行输入驱动信号，令检测电路依次对第I行中的各像素点进行检测。在第二周期到达时，向第2行中的各电容耦合节点输入驱动信号，令检测电路依次对第二行中的各电容耦合节点进行检测。依次类推，在第N周期到达时，对第N行中的各电容耦合节点进行检测，其中，N为触摸屏的行数。通过上述分析可知，随着触摸屏分辨率的上升，处理器的检测次数成倍增加，对处理器的运算速率的要求也更高，一旦处理器的运算速率无法在短时间内提高到相应水平，设备就会出现响应过慢、停顿或无响应(例如，死机)的情况。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种触摸检测方法及装置，用以解决现有技术中存在的触摸检测次数过多导致的设备现响应过慢、停顿或无响应的问题。本专利技术实施例提供一种触摸检测方法，包括:对触摸屏中的若干检测行进行行组划分；从每一个行组中确定选定检测行；对每一个行组中每一检测行内的各像素点进行触摸检测，其中，针对同一行组中位于同一像素列的像素点的触摸检测是同步进行的；在任意一个行组中有存在触摸反馈的像素列时，依次对上述像素列中的选定检测行内的像素点进行触摸检测，确定触摸像素点。本专利技术实施例提供一种触摸检测装置，包括:划分模块，用于对触摸屏中的若干检测行进行行组划分；选择模块，用于用于从每一个行组中确定选定检测行；检测模块，用于对每一个行组中每一检测行内的各像素点进行触摸检测，其中，针对同一行组中位于同一像素列的像素点的触摸检测是同步进行的；以及在任意一个行组中有存在触摸反馈的像素列时，依次对上述像素列中的选定检测行内的像素点进行触摸检测，确定触摸像素点。本专利技术实施例中，对触摸屏中的若干检测行进行行组划分，对每一个行组中位于同一像素列的像素点同步进行触摸检测，在确定某一行组中有存在触摸反馈的像素列时，对该像素列中位于选定检测行内的像素点进行触摸检测，从而确定触摸像素点，与传统方法中对每个像素点依次进行触摸检测相比减少了检测次数，有效地降低了对触摸屏处理器的运算速率要求，缩短触摸检测的总时间，提高了反应速率，解决了触摸检测次数过多导致的设备响应过慢、停顿或无响应的问题。附图说明图1为现有技术中电容式触摸屏系统框图；图2为现有技术中互电容电路简化示意图；图3为传统触摸屏检测方法示意图；图4为传统触摸屏检测中电压源通过各驱动线向各行中的电容耦合节点输入的驱动信号示意图；图5为本专利技术实施例设计的一种触摸检测方法示意图；图6A为本专利技术实施例中以2个检测行为一行组的触摸检测方法中的驱动信号时序图；图6B为本专利技术实施例中进行主检测后的结果示意图；图6C本专利技术实施例中进行次检测的示意图；图7为本专利技术实施例中的另一种以2个检测行为一行组的触摸检测方法中的驱动信号时序图8为本专利技术实施例中的一种针对检测行的数目不同行组的触摸检测方法的驱动信号时序图；图9为本专利技术实施例中的另一种针对检测行的数目不同行组的触摸检测方法的驱动信号时序图；图10为本专利技术实施例还设计的一种触摸检测装置示意图。具体实施例方式本专利技术实施例提供一种触摸检测方法及装置，该方法对触摸屏中的若干检测行进行行组划分，对每一个行组中的各检测行同步进行触摸检测，在确定某一行组中有存在触摸反馈的像素列(即有像素点被触摸，该位置的电容携带的电荷或该位置的电阻的阻值等发生变化，产生了反馈信号)时，对该像素列中位于选定检测行内的像素点进行触摸检测，从而确定触摸像素点，与传统对每个像素点依次进行触摸检测相比减少了检测次数，有效地降低了对触摸屏处理器的运算速率要求，缩短触摸检测的总时间，提高了反应速率，解决了触摸检测次数过多导致的设备响应过慢、停顿或无响应的问题。下面结合附图说明本专利技术的优选实施例。本专利技术实施例设计了一种触摸检测方法，参阅图5所示，该方法包括:步骤501:对触摸屏中的若干检测行进行行组划分。假设触摸屏的分辨率为MXN，该触摸屏具有N个检测行，在进行行组划分时，可以但不限于下述划分方式:将该触摸屏中每两行分为一个行组，或者，将每三行分为一个行组，或者，每四行分为一个行组或者，采用不同行组的检测行数目并非都相同的划分方式。具体的行组划分方式可以根据实际需求选定，可以划分出若干个行组中检测行的数目并不相同的行组。步骤502:从每一个行组中确定选定检测行。实际应用中，根据需求从每一行组中确定选定检测行，将除选定检测行之外的其它检测行作为非选定检测行，其中:在确定划分后的任意一个行组中只有一个检测行时，可以直接将该检测行作为非选定检测行；在确定划分后的任意一个行组中存在N个检测行时，从中选择N-1个检测行作为选定检测行，将剩余的一个检测行作为非选定检测行，。实际应用中，由于每一个行组中的非选定检测行的数目一般为1，因此，也可以从每一个行组中选择出非选定检测行后，将剩余的检测行作为确定出的选定检测行。例如，可以将每一个行组中的第一个检测行作为非选定检测行，也可以将每一个行组中的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触摸检测方法，其特征在于，包括：对触摸屏中的若干检测行进行行组划分；从每一个行组中确定选定检测行；对每一个行组中每一检测行内的各像素点进行触摸检测，其中，针对同一行组中位于同一像素列的像素点的触摸检测是同步进行的；在任意一个行组中有存在触摸反馈的像素列时，依次对所述像素列中的选定检测行内的像素点进行触摸检测，确定触摸像素点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐帅，于尧，张郑欣，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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