一种间隙的测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种间隙的测量方法及装置，通过将压电薄膜传感器放置在需要进行间隙测量的第一部件和第二部件之间，使压电薄膜传感器因第一部件和第二部件的挤压产生导电量，依据该导电量获得第一部件和第二部件之间间隙的大小。本发明专利技术通过采用将第一部件和第二部件间隙的大小转化为压电薄膜传感器的导电量，由该导电量获得第一部件和第二部件间隙的大小的方法，使得对间隙大小的测量不再局限于可见、光线能投射到的地方，有效解决了对隐蔽间隙的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量
，更具体地说，涉及一种间隙的测量方法及装置。
技术介绍
当两个部件没有充分接触时，这两个部件之间存在的空隙称为间隙，这两个部件可以是相对固定的，也可以是可相对移动的。在一些情况下，对间隙大小的测试是必不可少的。例如:当钞票通过验钞机机架和磁头的间隙时，验钞机通过检测钞票通过其磁头时的钞票磁信号，来对钞票的真伪进行识别。钞票通过验钞机时，要求钞票平直地贴住磁头，验钞机才能获得正确的钞票磁信号。如果验钞机供钞票通过的间隙过大或是过小，都会影响到磁头对通过钞票的钞票磁信号的采集，从而影响到对钞票真伪的识别。现有的测量间隙的方法，主要有两种:一种是利用传统的测量工具进行测量，如游标卡尺，测量间隙时，游标卡尺直接卡在两个物体上进行间隙测量，该种测量方法，只能对游标卡尺能直接卡到的地方的间隙进行测量，即被测量的间隙必须处于可见的人工可操作的地方。另一种是利用光投影的测量方法进行测量，以照相机为例，通过照相机拍照，可将带间隙的物体转换成电子图像，然后通过软件抓取间隙边界，直接测量出两边界的距离。该种测量方法，需要被测量的间隙处于光线能投射到的地方。因此，上述两种测量方法都无法对隐蔽间隙即处于不可见、光线不能投射到的地方进行测量。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种间隙的测量方法及装置，以实现对隐蔽间隙的测量。一种间隙的测量方法，用于对可相对移动的第一部件和第二部件之间的间隙进行测量；所述方法中应用有压电薄膜传感器，所述方法包括:对所述第一部件从其初始位置进行移动，使其远离所述第二部件；将所述压电薄膜传感器放置在所述第一部件和所述第二部件之间，移动所述第一部件至所述初始位置，使所述压电薄膜传感器受到挤压；获取所述压电薄膜传感器因挤压产生的导电量，依据所述导电量获得所述第一部件和所述第二部件之间间隙的大小，完成对该间隙的测量。优选的，所述步骤获取所述压电薄膜传感器因挤压产生的导电量，依据所述导电量获得所述第一部件和所述第二部件之间间隙的大小，完成对该间隙的测量，具体为:应用与所述压电薄膜传感器相连接的处理器，获取所述压电薄膜传感器因挤压产生的导电量，依据所述导电量获得所述第一部件和所述第二部件之间间隙的大小，完成对该间隙的测量。优选的，还包括:将所述间隙的大小显示在与所述处理器相连接的显示屏上。一种间隙的测量装置，用于对可相对移动的第一部件和第二部件之间的间隙进行测量；所述装置包括:移动单元，用于对所述第一部件从其初始位置进行移动，使其远离所述第二部件；挤压单元，用于将所述压电薄膜传感器放置在所述第一部件和所述第二部件之间，移动所述第一部件至所述初始位置，使所述压电薄膜传感器受到挤压；获取单元，用于获取所述压电薄膜传感器因挤压产生的导电量，依据所述导电量获得所述第一部件和所述第二部件之间间隙的大小，完成对该间隙的测量。优选的，所述获取单元，具体设置为:应用与所述压电薄膜传感器相连接的处理器，获取所述压电薄膜传感器因挤压产生的导电量，依据所述导电量获得所述第一部件和所述第二部件之间间隙的大小，完成对该间隙的测量。优选的，还包括:显示单元，用于将所述间隙的大小显示在与所述处理器相连接的显示屏上。从上述的技术方案可以看出，本专利技术提供了一种间隙的测量方法及装置，通过将压电薄膜传感器放置在需要进行间隙测量的第一部件和第二部件之间，使压电薄膜传感器因第一部件和第二部件的挤压产生导电量，依据该导电量获得第一部件和第二部件之间间隙的大小。本专利技术通过采用将第一部件和第二部件间隙的大小转化为压电薄膜传感器的导电量，由该导电量获得第一部件和第二部件间隙的大小的方法，使得对间隙大小的测量不再局限于可见、光线能投射到的地方，有效解决了对隐蔽间隙的测量。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种间隙的测量方法；图2为本专利技术实施例提供的一种压电薄膜传感器测量系统的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的另一种间隙的测量方法；图4为本专利技术实施例提供的一种需要对间隙进行测量的装置的正视图；图5为本专利技术实施例提供的一种需要对间隙进行测量的装置的侧视图；图6为本专利技术实施例提供的一种需要对间隙进行测量的装置翻开后的侧视图；图7为本专利技术实施例提供的一种需要对间隙进行测量调节的装置的间隙测量调节示意图；图8为本专利技术实施例提供的另一种需要对间隙进行测量调节的装置的间隙测量调节示意图；图9为本专利技术实施例提供的一种间隙的测量装置的结构示意图；图10为本专利技术实施例提供的另一种间隙的测量装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术实施例提供的一种间隙的测量方法，用于对可相对移动的第一部件和第二部件之间的间隙进行测量；所述方法中应用有压电薄膜传感器，所述方法包括:S11、对所述第一部件从其初始位置进行移动，使其远离所述第二部件；可以理解的是，第一部件相对于第二部件的移动，可以是第一部件相对于第二部件移动一定的角度，或是，第一部件相对于第二部件位移动一定的距离。其中，还可以是将第二部件从其初始位置进行移动，使其远离第一部件，或是，同时移动第一部件和第二部件，使其相互远离。S12、将所述压电薄膜传感器放置在所述第一部件和所述第二部件之间，移动所述第一部件至所述初始位置，使所述压电薄膜传感器受到挤压；其中，压电薄膜传感器是利用压电薄膜受力后产生压电效应制成的传感器，当压电薄膜受到某一方向的外力作用而发生形变(包括弯曲和伸缩形变)时，由于内部电荷的极化现象，压电薄膜上下电极表面之间会产生一个导电量(电荷或电压)，且该导电量同发生的形变(包括弯曲和伸缩形变)成比例。可以理解的是，为使所述压电薄膜传感器可以放置在所述第一部件和所述第二部件之间，所述压电薄膜传感器的厚度应该比所述第一部件和所述第二部件之间间隙的最大值小；同样，为使所述压电薄膜传感器可以受到所述第一部件和所述第二部件的挤压，以便对其间隙的大小进行测量，所述压电薄膜传感器的厚度应该大于所述第一部件和所述第二部件之间间隙的最小值。S13、获取所述压电薄膜传感器因挤压产生的导电量，依据所述导电量获得所述第一部件和所述第二部件之间间隙的大小，完成对该间隙的测量。 其中，压电薄膜传感器在对第一部件和第二部件之间的间隙进行测量前，该压电薄膜传感器还需要用标准间隙校验标准值，即在标准间隙下，该压电薄膜传感器对应的导电量，以便依据压电薄膜传感器的导电量，获得第一部件和第二部件之间间隙的大小。本专利技术提供的一种间隙的测量方法，通过将压电薄膜传感器放置在需要进行间隙测量的第一部件和第二部件之间，使压电薄膜传感器因第一部件和第二部件的挤压产生导电量，然后依据该导电量获得第一部件和第二部件之间间隙的大小。本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种间隙的测量方法，其特征在于，用于对可相对移动的第一部件和第二部件之间的间隙进行测量；所述方法中应用有压电薄膜传感器，所述方法包括：对所述第一部件从其初始位置进行移动，使其远离所述第二部件；将所述压电薄膜传感器放置在所述第一部件和所述第二部件之间，移动所述第一部件至所述初始位置，使所述压电薄膜传感器受到挤压；获取所述压电薄膜传感器因挤压产生的导电量，依据所述导电量获得所述第一部件和所述第二部件之间间隙的大小，完成对该间隙的测量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙志强，赖中武，钟晓伟，
申请(专利权)人：广州广电运通金融电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：