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一种光学显微镜自动聚焦检测装置制造方法及图纸

技术编号:8787931 阅读:213 留言:0更新日期:2013-06-10 01:22
本实用新型专利技术公开了一种光学显微镜自动聚焦检测装置,包括摄像头、自动聚焦检测结构和物镜;自动聚焦检测结构包括自动聚焦本体和安装架;安装架内设有中空内腔;近红外半导体激光器位于中空内腔上部,反射镜置于近红外半导体激光器下方,且与近红外半导体激光器轴线之间有45°夹角;位置传感器PSD和二向色镜分别位于中空内腔拐折处和底端出口处,二向色镜位于物镜轴线上方并向右倾斜45°;检测电路板包括检测电路模块,用来检测激光束在位置传感器PSD上的位移变化量。本实用新型专利技术提供了一种光学显微镜自动聚焦检测装置,它能在采用高倍率物镜进行全景扫描时,对焦点进行实时修正,且还具有聚焦速度快、聚焦精度高以及抗干扰能力强等优点。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉显微镜
,尤其涉及一种光学显微镜自动聚焦检测装置
技术介绍
传统的基于病理切片的检测、研究以及诊断等均是将病理切片置于显微镜的载物台上,通过人工操作选择不同的放大倍数,以寻找和搜索目标。该方法一次仅能通过照相机保存一个局部区域的数字信息,很难为科研提供全面、准确、科学又客观的信息,而且病理切片需要长期保存,这样会消耗大量的人力和财力。所以近年来,随着计算机技术飞速发展,病理图像的数字化采集应用已经成为一种趋势。众所周知,在使用光学显微镜时,为了能看到清晰的图像,必须对显微镜进行调焦,在利用显微镜对病理切片进行全景扫描时,在全景扫描过程中必须实现对Z轴进行实时修正。目前,高档的光学显微镜聚焦检测装置采用近红外光线的LED作为发射源,采用线性CCD传感器作为接收装置;因为受到线性CCD像素点尺寸的限制,分辨率只能达到μπι级,采用低倍物镜能够进行聚焦检测,而光学显微镜使用100Χ物镜时,焦深只有0.3 μ m左右,而目前的技术方案无法满足其要求。因此,对于需要高倍率光学检测并进行全景扫描时,能够实现在全景扫描过程中通过Z轴对焦点进行实时修正,是必不可少的。
技术实现思路
本本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种光学显微镜自动聚焦检测装置,其特征在于,包括摄像头(1)、物镜(5)和自动聚焦检测结构;所述自动聚焦检测结构包括自动聚焦本体(8)和安装架(10);所述自动聚焦本体(8)呈横倒U字形,其顶端通过上连接筒(6)与摄像头(1)相连,底端通过下连接筒(9)与物镜(5)相连,其开口端与安装架(10)相连;所述安装架(10)内设有一个与其轴线方向相同且呈“L”形的中空内腔;所述中空内腔内设有近红外半导体激光器(2)、反射镜(3)、位置传感器PSD(4)、二向色镜(7)和检测电路板;所述近红外半导体激光器(2)位于中空内腔上部,反射镜(3)置于近红外半导体激光器(2)下方,且其表面与近红外半导体激光器...

【技术特征摘要】
1.一种光学显微镜自动聚焦检测装置,其特征在于,包括摄像头(I )、物镜(5)和自动聚焦检测结构;所述自动聚焦检测结构包括自动聚焦本体(8)和安装架(10); 所述自动聚焦本体(8)呈横倒U字形,其顶端通过上连接筒(6)与摄像头(I)相连,底端通过下连接筒(9)与物镜(5)相连,其开口端与安装架(10)相连; 所述安装架(10)内设有一个与其轴线方向相同且呈“L”形的中空内腔;所述中空内腔内设有近红外半导体激光器(2)、反射镜(3)、位置传感器PSD (4)、二向色镜(7)和检测电路板;所述近红外半导体激光器(2)位于中空内腔上部,反射镜(3)置于近红外半导体激光器(2)下方,且其表面与近红外半导体激光器轴线之间有45°夹角;所述位置传感器PSD (4)和二向色镜(7)分别位于中空内腔拐折处和底端出口处...

【专利技术属性】
技术研发人员:王逸斐
申请(专利权)人:王逸斐
类型:实用新型
国别省市:

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