【技术实现步骤摘要】
一种超高频局放测试仪考核校验装置
本技术涉及一种对超高频局放测试仪进行考核校验的装置,尤其涉及一种对超高频传感器性能进行检测的装置。
技术介绍
超高频局放测试仪的关键技术之一是超高频传感器。传感器的性能直接影响检测信号的灵敏度及信号波形,间接影响局放类型的模式识别。目前,测量超高频传感器幅频特性的常规方法是扫频测量,但由于外界电磁干扰的存在,往往影响其测量准确度;而另一种能够排除外界电磁干扰和驻波影响的方法是在一个预校正无反射的室内测试环境中进行测试,目前主要使用电波暗室,电波暗室是一个经屏蔽设计的六面体盒,内部覆盖有电磁波吸波材料,其缺点是尺寸过大,设备成本昂贵。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于提供一个能有效对超高频局放测试仪进行考核校验的装置,其具备屏蔽外界电磁干扰的能力。本技术采用以下技术方案:本技术包括金属密闭外壳、宽带信号发射天线、超高频传感器,宽带信号发射天线和超高频传感器置于由金属密闭外壳构成的密闭空间内;所述的宽带发射天线通过信号线与外界仪器相连,超高频传感器通过信号线与外界测量仪器相连。宽带信号发射天线和超高频传感器之间的距离可调节。外界仪器为超高频信号发生器或频谱分析仪。外界测量仪器为频谱分析仪。本技术的有益效果:能够有效屏蔽外界电磁信号的干扰,实现对超高频局放测试仪的考核校验,提高考核校验的准确度,使用方便。附图说明图1是超高频局放测试仪考核校验装置示意图;图2是点频测量示意图;图3是扫频测量示意图。图中,1.宽带发射天线,2.超高频传感器,3.金属密闭外壳,4.超高频信号发生器,5.信号输入线,6.信号输出线,7.频谱 ...
【技术保护点】
一种超高频局放测试仪考核校验装置,包括金属密闭外壳、宽带信号发射天线、超高频传感器,宽带信号发射天线和超高频传感器置于由金属密闭外壳构成的密闭空间内;所述的宽带信号发射天线通过信号线与外界仪器相连,超高频传感器通过信号线与外界测量仪器相连。2.根据权利要求1所述的一种超高频局放测试仪考核校验装置,其特征在于:宽带信号发射天线和超高频传感器之间的距离可调节。3.根据权利要求1所述的一种超高频局放测试仪考核校验装置,其特征在于:所述的外界测量仪器为超高频信号发生器或频谱分析仪。4.根据权利要求2所述的一种超高频局放测试仪考核校验装置,其特征在于:所述的外界测量仪器为频谱分析仪。
【技术特征摘要】
1.一种超高频局放测试仪考核校验装置,包括金属密闭外壳、宽带信号发射天线、超高频传感器,宽带信号发射天线和超高频传感器置于由金属密闭外壳构成的密闭空间内;所述的宽带信号发射天线通过信号线与外界仪器相连,超高频传感器通过信号线与外界测量仪器相连。2.根据权利要求1所述的一种超高频局放测试仪考核...
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