一种用于测量大电流开关接触电阻的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于测量大电流开关接触电阻的装置，包括第一静触头、第二静触头、动触头、施力装置、连接杆、竖直导轨和底板；第一静触头和所述第二静触头相对于动触头对称固定在底板上，动触头在竖直导轨上运动；第一静触头和第二静触头分别与外部的电流源相连并形成一个导电回路；施力装置通过连接杆固定在底板上，所述施力装置的施力端与动触头的顶端连接，施力装置用于给动触头施加压力；动触头的底端与第一静触头和第二静触头接触的部分形成接触电阻。本实用新型专利技术能比较准确的测量大电流开关的接触电阻，并能初步得到接触电阻与接触压力的关系，为开关的触头压力的选择提供指导并为触头处的温升计算或仿真等提供可靠的依据。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

—种用于测量大电流开关接触电阻的装置
本技术属于接触电阻的测试
，更具体地，涉及一种用于测量大电流开关接触电阻的装置。
技术介绍
在已经设计的大电流开关结构中，采用多片矩形导体压接母排的结构，每个触头通过电流为1200A左右。触头处的接触电阻阻值大小决定了隔离开关的通流能力，设计过程中，采用接触电阻的工程计算式进行计算，然而接触电阻的工程计算式和许多因素有关，如表面形态，材料性质，接触压力以及具体的加工方法等。加工完成的触头必须进行接触电阻的测量，以完成对接触电阻工程计算式的修正与改进，并为选择合适的接触压力提供参考。在同一触头结构下，通过电流的大小对接触电阻的阻值存在影响。工程实际中，把电流值大于5A的电流称为大电流。在目前已经公开的接触电阻测量装置中，主要是针对如电器插头等小电流的接触电阻。大电流的接触电阻的测量装置基本上针对圆柱体结构的电触头，然而工程实际中的触头形状多变，此种测量装置并不太适应。
技术实现思路
针对现有技术的缺陷，本技术的目的在于提供一种用于测量大电流开关接触电阻的装置，旨在解决现有技术测量大电流接触电阻测量装置的结构比较单一的问题。为实现上述目的，本技本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量大电流开关接触电阻的装置，其特征在于，包括第一静触头、第二静触头、动触头、施力装置、连接杆、竖直导轨和底板；?所述第一静触头和所述第二静触头相对于所述动触头对称固定在所述底板上，所述动触头在所述竖直导轨上运动；所述第一静触头和所述第二静触头分别与外部的电流源相连并形成一个导电回路；?所述施力装置通过连接杆固定在所述底板上，所述施力装置的施力端与所述动触头的顶端连接，所述施力装置用于给所述动触头施加压力；所述动触头的底端与所述第一静触头和第二静触头接触的部分形成接触电阻。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量大电流开关接触电阻的装置，其特征在于，包括第一静触头、第二静触头、动触头、施力装置、连接杆、竖直导轨和底板； 所述第一静触头和所述第二静触头相对于所述动触头对称固定在所述底板上，所述动触头在所述竖直导轨上运动；所述第一静触头和所述第二静触头分别与外部的电流源相连并形成一个导电回路； 所述施力装置通过连接杆固定在所述底板上，所述施力装置的施力端与所述动触头的顶端连接，所述施力装置用于给所述动触头施加压力；所述动触头的底端与所述第一静触头和第二静触头接触的部分形成接触电阻。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述动触头为平板状结构，垂直于所述第一静触头和所述第二静触头设置。3.如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，在所述动触头的底端与所述第一静触头和第二静触头接触的部分具有一层银镀层。4.如权利要求1所述的装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明，瞿航，谈浩，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：实用新型
国别省市：