本发明专利技术涉及光扫描装置和图像形成装置，其目的在于减小被扫描面上副扫描方向上的光线间隔误差。本发明专利技术的光扫描装置中的扫描光学系统包含以树脂形成的第一和第二扫描透镜，其中，第二扫描透镜的射出面所具有的副扫描对应方向上的折射能力为最大。第二扫描透镜被设置为，从多个发光部射出的光线通过第二扫描透镜的位置在副扫描对应方向上互相接近，并且在主副正交方向上位于射向感光鼓的像高0mm的光线上的开口部的共轭点与射向感光鼓的像高164mm的光线上的开口部的共轭点之间。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光扫描装置以及图像形成装置，具体涉及以多束光扫描被扫描面的光扫描装置以及具备该光扫描装置的图像形成装置。
技术介绍
在电子照相的图像记录中广泛使用采用激光的图像形成装置。该图像形成装置具备光扫描装置，通常采用转镜扫描器(例如多面镜)，用激光扫描具有感光性的感光鼓表面，在感光鼓上形成潜像。在这种类型的电子照相领域中，不但要求通过提高图像密度来提高图像形成装置的图像质量，而且还要求通过提高图像输出速度来改善图像形成装置的操作性能。对此，用多束光同时扫描感光鼓表面即多光束化被认为是有望同时提高图像密度和输出速度的方法之一。例如，专利文献1(JP特许第35496666号公报)公开了一种多光束写入光学系统，用于在保持图像形成真实性的范围内，降低被扫描面上多束光束之间的扫描线弯曲差。但是，在专利文献1公开的多光束写入光学系统中，如果光束数量大于2，则在被扫描面上，副扫描方向上的光束间隔有可能随着环境温度变化而发生大幅度变化。
技术实现思路
本专利技术的光扫描装置是一种用多束光沿着第一方向同时扫描被扫描面的光扫描装置，其具备：光源，具有多个发光部；光偏转器，用于偏转所述光源发射的多束光；以及，扫描光学系统，用于将经过所述光偏转器偏转后的多束光引导到所述被扫描面上，其中包含第二方向上的折射能力为最大的透镜，该第二方向与所述第一方向正交，在所述透镜的至少一个光学面上，经过所述光偏转器偏转后的多束光各自的入射位置的轨迹互相交错或或重叠在一起。本专利技术的光扫描装置的效果在于，减小被扫描面上与第二方向相对应的方向(副扫描方向)上的光线间隔误差。附图说明图1显示涉及本专利技术实施方式的彩色打印机的结构示意图。图2是图1中的光扫描装置的结构示意图。图3是防音玻璃的示意图。图4是光源单元LU1的示意图。图5是面发光激光阵列的示意图。图6是光源单元LU2的示意图。图7是位于光源单元LU1和多面镜之间的光学部件的示意图。图8是位于光源单元LU2和多面镜之间的光学部件的示意图。图9是光束分割部件的示意图。图10是扫描光学系统A和扫描光学系统B的示意图。图11是扫描光学系统A的放大图。图12是扫描透镜的设计例之一的示意图。图13是扫描透镜的设计例之二的示意图。图14是一例第一透镜形状的参数表。图15是一例第二透镜形状的参数表。图16A和图16B分别是从发光部c h1发射的光线的主光线光路、以及从发光部ch40发射的光线的主光线光路。图17是用于说明开口部和共轭位置的示意图。图18A和图18B分别是第二扫描透镜和开口部的共轭点之间关系的示意图。图19A和图19B分别是发光部c h1发射的光线以及发光部ch40发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图20A和图20B分别是c h1-ch40间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图21A和图21B分别是对比例1的第二扫描透镜和开口部的共轭点之间关系的示意图。图22A和图22B分别是对比例1的发光部c h1发射的光线以及发光部ch40发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图23A和图23B分别是对比例1的c h1-ch40间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图24A和图24B分别是对比例2的第二扫描透镜和开口部的共轭点之间关系的示意图。图25A和图25B分别是对比例2的发光部c h1发射的光线以及发光部ch40发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图26A和图26B分别是对比例2的c h1-ch40间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图27A和图27B分别是变形例1的发光部c h1发射的光线以及发光部ch2发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图28A和图28B分别是变形例1的c h1-ch2间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图29A和图29B分别是对比例3的发光部c h1发射的光线以及发光部ch2发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图30A和图30B分别是对比例3的c h1-ch2间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图31A和图31B分别是对比例4的发光部c h1发射的光线以及发光部ch2发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图32A和图32B分别是对比例4的c h1-ch2间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图33A和图33B分别是变形例2的发光部c h1发射的光线以及发光部ch4发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图34A和图34B分别是变形例2的c h1-ch4间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图35A和图35B分别是对比例5的发光部c h1发射的光线以及发光部ch4发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图36A和图36B分别是对比例5的ch1-ch4间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图37A和图37B分别是对比例6的发光部c h1发射的光线以及发光部ch4发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图38A和图38B分别是对比例6的ch1-ch4间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图39A和图39B分别是变形例3的发光部c h1发射的光线以及发光部ch8发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图40A和图40B分别是变形例3的c h1-ch8间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图41A和图41B分别是对比例7的发光部c h1发射的光线以及发光部ch8发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图42A和图42B分别是对比例7的c h1-ch8间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图43A和图43B分别是对比例8的发光部c h1发射的光线以及发光部ch8发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图44A和图44B分别是对比例9的c h1-ch8间隔误差伴随温度变化而发生的变化的示意图。图45A和图45B分别是变形例4的发光部c h1发射的光线以及发光部ch20发射的光线入射到第二扫描透镜的入射面上的入射位置的示意图。图46A和图46B分别是变形例4的c h1-ch2本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光扫描装置，该光扫描装置以多束光沿第一方向同时扫描被扫描面，其特征在于，具备：光源，具有多个发光部；光偏转器，用于偏转所述光源发射的多束光；以及，扫描光学系统，用于将经过所述光偏转器偏转后的多束光引导到所述被扫描面上，其中包含第二方向上的折射能力为最大的透镜，该第二方向与所述第一方向正交，在所述透镜的至少一个光学面上，经过所述光偏转器偏转后的多束光各自的入射位置的轨迹互相交错或重叠在一起。
【技术特征摘要】
2011.11.21 JP 2011-2534021.一种光扫描装置，该光扫描装置以多束光沿第一方向同时扫描被扫描
面，其特征在于，
具备：
光源，具有多个发光部；
光偏转器，用于偏转所述光源发射的多束光；以及，
扫描光学系统，用于将经过所述光偏转器偏转后的多束光引
导到所述被扫描面上，其中包含第二方向上的折射能力为最大的
透镜，该第二方向与所述第一方向正交，
在所述透镜的至少一个光学面上，经过所述光偏转器偏转后的多束
光各自的入射位置的轨迹互相交错或重叠在一起。
2.根据权利要求1的光扫描装置，其特征在于，
在所述光源和所述光偏转器之间设有具备开口部的开口部件，
在从所述光源发射并通过所述透镜的长度方向的中心的光上，所述
开口部的共轭点位于所述光学面与所述被扫描面之间。
3.根据权利要求2的光扫描装置，其特征在于，在所述光源发射并通过所
述透镜的长度方向端部的光上，所述开口部的共轭点位于所述光学面与
所述光偏转器之间。
4.根据权利要求1的光扫描装置，其特征在于，所述透镜中的至少一个光
学面为所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：市井大辅，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：
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