【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，属于光电检测
技术介绍
偏振光在科学技术及工业生产中有着广泛的应用。偏振光的测量技术也随着偏振光应用的发展而发展。目前使用最多的为斯托克斯参量测量方法。它的测量原理是，在待测光路中，调节偏振片与1/4波片的光轴方向，测量获得透射光强，通过对输出信号的计算求得待测光的斯托克斯Stokes参量。测量时可以通过旋转光路中偏振片光轴和1/4波片快轴方向，得到至少6组光强值；也可以先把入射光分光后，每束光经过固定好的不同光轴和快轴方向的偏振片与1/4波片组合后测得光强。由于此方法使用了 1/4波片，一个特定装置只能针对某一特定波长的光进行测量，测量其它波长光时需要更换其波长对应的1/4波片，这在很大程度上限制了偏振光测量的效率。
技术实现思路
本专利技术是为了解决现有对光的偏振态的测量方法只能针对某一特定波长的光进行测量，效率低的问题，提供了一种。本专利技术所述，它包括以下步骤:步骤一:沿垂直于入射单色光光路的方向依次布置主偏振片和CXD探测器，使单色光经主偏振片后入射至CCD探测器的光接收面，其中单色光光轴的方向作为三维坐标系的Z轴方向；步骤二:通...
【技术保护点】
一种测量单色光偏振态的方法，其特征在于，它包括以下步骤：步骤一：沿垂直于入射单色光光路的方向依次布置主偏振片(1)和CCD探测器(2)，使单色光经主偏振片(1)后入射至CCD探测器(2)的光接收面，其中单色光光轴的方向作为三维坐标系的Z轴方向；步骤二：通过CCD探测器(2)采集获得入射单色光经主偏振片(1)后的透射光强；步骤三：旋转主偏振片(1)N次，使主偏振片(1)每次旋转后的透光轴与Y轴的夹角不同，每次旋转主偏振片(1)后，重复步骤二；然后执行步骤四；其中N为等于或者大于6的自然数；步骤四：根据每次主偏振片(1)的透光轴与Y轴的夹角及CCD探测器(2)对应采集获得的透射...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：白云峰，李鹏，李林军，贺泽龙，
申请(专利权)人：黑龙江工程学院，
类型：发明
国别省市：
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