一种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法及装置制造方法及图纸

本案公开了一种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，包括：1)将入射光束通过扫描振镜反射到物镜，然后透过物镜会聚至物镜焦点处；2)将标准检测样品放置在物镜的焦平面上，让通过物镜会聚的光照射在标准检测样品上，标准检测样品上设置有长轴沿x，y和z三维方向放置的三个金纳米棒；其中，扫描振镜通过移动改变入射光束的反射路径，使得反射光遍历标准检测样品的所有位置；3)标准检测样品反向散射回的光线穿回所述物镜，再由光探测器接收，以形成标准检测样品的光学图像，所述光学图像分别代表焦点处光束在x、y、z三个方向的偏振态分量，由所述三个分量的相对强度分布确定物镜的聚焦点处的偏振态空间分布。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本案公开了一种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，包括：1)将入射光束通过扫描振镜反射到物镜，然后透过物镜会聚至物镜焦点处；2)将标准检测样品放置在物镜的焦平面上，让通过物镜会聚的光照射在标准检测样品上，标准检测样品上设置有长轴沿x，y和z三维方向放置的三个金纳米棒；其中，扫描振镜通过移动改变入射光束的反射路径，使得反射光遍历标准检测样品的所有位置；3)标准检测样品反向散射回的光线穿回所述物镜，再由光探测器接收，以形成标准检测样品的光学图像，所述光学图像分别代表焦点处光束在x、y、z三个方向的偏振态分量，由所述三个分量的相对强度分布确定物镜的聚焦点处的偏振态空间分布。【专利说明】一种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法及装置
本专利技术涉及一种矢量光束性质的测量方法，特别涉及一种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法及装置。
技术介绍
利用基于位相和偏振调制的矢量光场动态调控，在光束整形、光学微操纵、表面等离激元激发与电磁场增强等方面有重要应用，并可应用在全光调控、量子通信、传感与成像等领域。在调控的过程中，矢量光束性质的测量是必不可少的环节，包括振幅、相位、偏振态等。其中，偏振态的常规检测方法是利用偏振片作为起偏器和检偏器配合，检测垂直于光束传播方向的平面内偏振分量。但对于径向偏振、角向偏振等矢量光束，以及矢量光束聚焦焦点处，其偏振态较复杂，不仅局限于垂直传播方向的平面内，利用偏振片检查不能满足要求。 根据散射理论和表面等离子体共振效应，当微粒大小达到光波波长量级时，微粒对光的散射效应不再是宏观的漫反射效果。尤其当微粒具有一定的长宽比，形成棒状时，当光波的电场振动方向和金纳米棒的长轴方向一致时，金纳米棒表面会产生强烈的等离子体共振。 目前，对径向、角向偏振光束的形成装置及方法研究较多，此外，现有技术中，利用随机分布的金纳米棒检测调制后的角向偏振光，定性验证了偏振状态，还包括通过测试光束在接近聚焦点处偏振态分布，从而推算出聚焦点处的偏振态。但尚未见到对光束在聚焦点处的偏振态分布定量检测。
技术实现思路
针对现有技术中存在的不足之处，本专利技术提供一种用于检测光束在聚焦点处的偏振态空间分布的检测方法，本专利技术所要解决的技术问题还在于提供一种结构设计合理，功能完善，能实现定量检测的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量装置。 为实现上述目的，本专利技术通过以下技术方案实现: —种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，包括: I)将入射光束通过扫描振镜反射到物镜，然后透过物镜会聚至物镜焦点处； 2)将标准检测样品放置在物镜的焦平面上，让通过物镜会聚的光照射在标准检测样品上，所述标准检测样品上设置有长轴沿X，y和z三维方向放置的三个金纳米棒； 其中，所述扫描振镜通过移动改变入射光束的反射路径使得反射光遍历标准检测样品的所有位置； 3)标准检测样品反向散射回的光线穿回所述物镜，再由光探测器接收，以形成标准检测样品的光学图像，所述光学图像分别代表焦点处光束在X、1、Z三个方向的偏振态分量，由所述三个分量的相对强度分布确定物镜的聚焦点处的偏振态空间分布。 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述入射光束首先通过分束镜进行分光，被分成一束透射光和一束反射光，取其中的反射光束传播至所述扫描振镜。 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述标准检测样品散射回的光线穿回所述物镜后，首先由所述扫描振镜反射，然后穿过该分束镜进行分光，也被分成一束透射光和一束反射光，取其中的透射光传播至所述光探测器。 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述标准检测样品设置在位移台上，所述位移台设置有可沿X方向和y方向移动的驱动机构，进一步使得反射光遍历标准检测样品的所有位置； 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述扫描振镜和物镜之间还设置有中间透镜，所述中间透镜与物镜一起将图像放大，所述入射光束通过扫描振镜反射后先穿过所述中间透镜，再到达物镜。 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述标准检测样品散射回的光线穿回所述物镜后，先经过所述中间透镜，再由所述扫描振镜反射。 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述标准检测样品散射回的光线经过该分束镜进行分光后的透射光首先经过回路透镜会聚在针孔处，再透过针孔传播至所述光探测器。 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述针孔设置在针孔板上，且所述针孔板设置在所述回路透镜的焦平面上。 优选的是，所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其中，所述三个金纳米棒中，沿z轴方向放置的金纳米棒与物镜的光轴方向相同。 本专利技术公开的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法的有益效果是:将表面等离子增强原理应用于焦点处光束偏振态的测量，通过建立标准检测样品，可确定其反映的光场偏振分量之间的定量关系，本专利技术提出的实验、定量检测光束在焦点处偏振态强度的方法，可应用于矢量调控光束后实际检测光束性质。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术一实施例所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法中的检测光路示意图； 图2为本专利技术一实施例所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法中标准检测样本中的金纳米棒分布图； 图3为本专利技术一实施例所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法中长轴位于X方向的金纳米棒图像； 图4为本专利技术一实施例所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法中长轴位于I方向的金纳米棒图像； 图5为本专利技术一实施例所述的光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法中长轴位于z方向的金纳米棒图像。 【具体实施方式】 下面结合实施例对本专利技术做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。 —种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，参阅图1，包括: I)将入射光束I通过扫描振镜3反射到物镜6，然后透过物镜会聚至物镜焦点处； 2)将标准检测样品7放置在物镜的焦平面上，让通过物镜会聚的光照射在标准检测样品上，参阅图2，所述标准检测样品上设置有长轴沿x，y和z三维方向放置的三个金纳米棒； 其中，所述扫描振镜可以通过移动改变入射光束的反射路径使得反射光遍历标准检测样品的所有位置，也可以通过同时移动所述检测样品而使得反射光遍历检测样品的所有位置。我们可以将这个反射光透过物镜后的汇聚点称作扫描光斑； 3)扫描光斑中含有x、y和z三个方向的偏振光，我们的目的就是要定量分析这三个方向的偏振光的值。根据金纳米棒的性质，当扫描光斑照射到金纳米棒上时，金纳米棒表面会产生强烈的等离子体共振，只有与金纳米棒的长轴方向(也就是轴向)一致偏振光才会被金纳米棒散射，而与与金纳米棒的长轴方向(也就是轴向)不一致偏振光会被金纳米棒吸收。 例如，当扫描光斑扫首先描到长轴位于z方向的金纳米棒时，z方向的金纳米棒只散射偏振方向为z的偏振光，散射的偏振光通过物镜回到光探测器11。光探测器11根据接收到的Z方向的金纳米棒散射回来的偏振光确定在这束扫描光斑在Z方向本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光束在聚焦点处的偏振态空间分布测量方法，其特征在于，包括： 1)将入射光束通过扫描振镜反射到物镜，然后透过物镜会聚至物镜焦点处； 2)将标准检测样品放置在物镜的焦平面上，让通过物镜会聚的光照射在标准检测样品上，所述标准检测样品上设置有长轴沿x，y和z三维方向放置的三个金纳米棒； 其中，所述扫描振镜通过移动改变入射光束的反射路径使得反射光遍历标准检测样品的所有位置； 3)标准检测样品反向散射回的光线穿回所述物镜，再由光探测器接收，以形成标准检测样品的光学图像，所述光学图像分别代表焦点处光束在x、y、z三个方向的偏振态分量，由所述三个分量的相对强度分布确定物镜的聚焦点处的偏振态空间分布。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张运海，杨皓旻，
申请(专利权)人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32