一种基于像素偏振片阵列的实时偏振态和相位测量方法技术

技术编号:10409538 阅读:223 留言:0更新日期:2014-09-10 18:37
本发明专利技术公开了一种基于像素偏振片阵列的实时偏振态和实时相位测量方法,该方法将偏振片阵列与感光元件阵列集成在一起,使得偏振片阵列的每个偏振片单元与感光元件阵列的每个感光单元一一对准,偏振片阵列由大小相同的多个子阵列组成,每个子阵列包括多个偏振片单元,同一子阵列中的不同偏振片单元的透偏振方向不同。测量偏振态时,根据各像素所对应光强值获得所对应的光的前三项斯托克斯参量后计算图像各像素的线偏振度和线偏振角;测量相位时,将激光分为物光波和参考光后调制为左旋圆偏振光和右旋圆偏振光,并透过偏振片阵列入射到所述感光元件阵列。本发明专利技术能够实时地测量动态物体的光强、偏振态信息以及相位信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于或涉及偏振态或相位测量领域,具体来讲,本专利技术提出了一种实时测量偏振态和相位的方法,该方法主要基于偏振片阵列结构。
技术介绍
光是电磁波,包含光强、相位以及偏振态(线偏振度、偏振角)等信息。传统单帧照相技术只能记录物体的光强信息,而不能记录光的偏振度和相位信息。为了获得图像的偏振态信息,传统方法为在镜头前放置偏振片,通过多次旋转偏振片并采集图像,来计算图像的斯托克斯参量,从而获得偏振态信息。由于多幅图像是在不同时刻采集的,需要很高的隔振条件,并且这种方法不能实时测量偏振态,也就不能对动态物体进行测量。为了记录物光波的相位信息,采用相移技术,引入参考光,通过对参考光进行多次相移,分别记录多帧干涉图的光强信息,从而解算出记录平面物光波的光强和相位信息。传统相移法包括时间相移法和空间相移法两种。时间相移法包括压电陶瓷(PZT)法、移动光栅法、拉伸光纤法、液晶相移法、偏振相移法、空气相移法等。但是传统的时间相移方法记录的图像是在同一空间位置不同时刻采集的,因此时间相移局限于对静态或准静态相位的测量。空间相移与时间相移恰好相反,干涉图为同一时刻不同空间位置获得的,因此本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实时测量光偏振态的方法,包括如下步骤:将偏振片阵列与感光元件阵列集成在一起,使得所述偏振片阵列的每个偏振片单元与所述感光元件阵列的每个感光单元一一对准,其中,所述偏振片阵列由大小相同的多个子阵列组成,每个子阵列包括多个偏振片单元,同一子阵列中的不同偏振片单元的透偏振方向不同;使光透过所述偏振片阵列后入射到感光元件阵列上,感光元件阵列根据所检测的光强信号形成单帧图像,每个感光元件对应图像的一个像素;将所述图像中与偏振片阵列各子阵列中的具有相同透偏振方向的偏振片阵列单元所对应的像素分别取出,组合成多幅图像;根据组合的多幅图像的各像素所对应光强值获得各像素所对应的光的前三项斯托克斯参量;根据所述...

【技术特征摘要】
1.一种实时测量光偏振态的方法,包括如下步骤: 将偏振片阵列与感光元件阵列集成在一起,使得所述偏振片阵列的每个偏振片单元与所述感光元件阵列的每个感光单元一一对准,其中,所述偏振片阵列由大小相同的多个子阵列组成,每个子阵列包括多个偏振片单元,同一子阵列中的不同偏振片单元的透偏振方向不同; 使光透过所述偏振片阵列后入射到感光元件阵列上,感光元件阵列根据所检测的光强信号形成单帧图像,每个感光元件对应图像的一个像素; 将所述图像中与偏振片阵列各子阵列中的具有相同透偏振方向的偏振片阵列单元所对应的像素分别取出,组合成多幅图像; 根据组合的多幅图像的各像素所对应光强值获得各像素所对应的光的前三项斯托克斯参量; 根据所述组合的多幅图像的各像素所对应的光的前三项斯托克斯参量计算图像各像素的线偏振度和线偏振角。2.如权利要求1所述的实时测量光偏振态的方法,其特征在于,所述偏振片阵列的相邻的每2X2单元构成一个子阵列,子阵列内的四个单元的透偏振方向不同,分别为O、Ti /4、τι /2、3 η /4。3.如权利要求2所述的实时测量光偏振态的方法,其特征在于,根据如下公式计算所述图像的各像素所对应的光的线偏振度DoLP: 4.如权利要求2所述的实时测量光偏振态的方法,其特征在于,根据如下公式计算所述图像的各像素所对应的光的线偏振角AoLP: 5.一种实时测量光相位的方法,其特征在于,包括: 将偏振片阵列与感光元件阵列集成在一起,使得所述偏振片阵列的每个偏振片...

【专利技术属性】
技术研发人员:张青川张志刚程腾伍小平
申请(专利权)人:中国科学技术大学
类型:发明
国别省市:安徽;34

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