【技术实现步骤摘要】
本技术属于轴承检测
，尤其是一种外圈深滚道的简易校对装置。
技术介绍
在轴承的生产加工中，外圈的滚道加工是不可缺少的一道工序，在滚道加工后常常要使用专用仪器测量来校对所加工滚道是否符合设计要求。对于滚道较深的外圈，专用仪器常常伸不到滚道的底部，校对起来非常不便。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术设计了一种外圈深滚道的简易校对装置，该简易校对装置制作简单，只要更换测头就能快速校对不同深度的外圈滚道，同批量校对时间得到缩短，提高了校对效率。为了实现上述专利技术目的，本技术采用如下技术方案:一种外圈深滚道的简易校对装置，包括测台和测头，被测外圈的设计滚道形状已确定，测台由底座和支撑体构成，所述支撑体配置在所述底座的一端并形成倒L状，在所述支撑体上端联接测头，测头分为联接段和校对段，其中所述校对段的水平中心线与所述底座的上平面保持平行，其中所述联接段用于联接所述支撑体，所述校对段的水平中心线距所述底座的上平面之间距等于被测外圈宽度的1/2。上述所述校对段与被测外圈的设计滚道形状相匹配。由于采用如上所述技术方案，本技术产生如下效果:1、本技术的简易校对装置制作简单，安装容易，方便了检查员的校对工作。2、只要更换测头就能快速校对不同深度的外圈滚道，使同批量校对时间得到缩短，提高了校对效率，降低了校对成本。附图说明图1是本技术的结构示意简图。图1中:1-测台；2 -测头。具体实施方式本技术是一种外圈深滚道的简易校对装置，该简易校对装置主要用于校对被测外圈深滚道是否符合其设计滚道形状，被测外圈的所述设计滚道形状已确定。结合图1，本技术包括测台I和测头2，测台I由底...
【技术保护点】
一种外圈深滚道的简易校对装置，包括测台(1)和测头(2)，被测外圈的设计滚道形状已确定，其特征是：测台(1)由底座和支撑体构成，所述支撑体配置在所述底座的一端并形成倒L状，在所述支撑体上端联接测头(2)，测头(2)分为联接段和校对段，其中所述校对段的水平中心线与所述底座的上平面保持平行，其中所述联接段用于联接所述支撑体，所述校对段的水平中心线距所述底座的上平面之间距等于被测外圈宽度的1/2。
【技术特征摘要】
1.一种外圈深滚道的简易校对装置，包括测台(I)和测头(2)，被测外圈的设计滚道形状已确定，其特征是:测台(I)由底座和支撑体构成，所述支撑体配置在所述底座的一端并形成倒L状，在所述支撑体上端联接测头(2)，测头(2)分为联接段和校对段，其中所述校...
【专利技术属性】
技术研发人员：张娟娟，王蔚霞，曾莉，左菲，
申请(专利权)人：洛阳轴研科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：河南;41
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。