【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种孔径公差测量的装置，尤其是精密微米级的测量。
技术介绍
目前精密测量孔径的技术通常都是由微米级的测量探头加上非常精密稳定的机械测量结构多次测量来完成，由于微米级测量探头动辄上万的成本和对机械结构的超高要求，目前的测量成本非常高，而且受制于机械结构还不稳定，测量也不是很准确。
技术实现思路
一、要解决的技术问题本技术的目的是针对现有技术所存在的上述问题，特提供一种极大节省了成本，提高了可靠性的孔径公差精密的装置。二、技术方案为解决上述技术问题，本技术提供一种孔径公差测量装置，其中，包括一用于固定安装被测物的定位板，该定位板上开有通孔，上述定位板一侧设有垂直于定位板并与通孔同轴对应的锥形测量头，上述定位板的另一侧设有与测量头相对应的测量探头，上述测量头的一端抵在测量探头上，上述测量头一端与推动机构连接。作为优化，上述推动机构连接与测量头的连接处设有旋转装置，上述测量头通过旋转装置与推动机构连接相连。如此设计，可通过旋转装置控制十字测量。作为优化，上述定位板大体呈“U”形，上述定位板由上板、下板及连接板组成，上板与下板固接在连接板上，上述上板与下板平行设置，上述...
【技术保护点】
一种孔径公差测量装置，其特征在于：包括一用于固定安装被测物的定位板，该定位板上开有通孔，所述定位板一侧设有垂直于定位板并与通孔同轴对应的锥形测量头，所述定位板的另一侧设有与测量头相对应的测量探头，所述测量头的一端抵在测量探头上，所述测量头一端与推动机构连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陆雪松，王莹，薛芃，王攀，施慧慧，
申请(专利权)人：余姚市博明威机械厂普通合伙，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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