一种用于射频产品测试的射频开关矩阵制造技术

本发明专利技术涉及一种用于射频产品测试的射频开关矩阵，该射频开关矩阵包括至少一个一级衰减器，所述一级衰减器连接RD机电同轴开关组，所述RD机电同轴开关组连接至少一个二级衰减器，所述RD机电同轴开关组用于连通一级衰减器和/或二级衰减器。本发明专利技术射频开关矩阵不但保护了测试仪器不被烧毁的，同时还降低了衰减器的成本，通过RD机电同轴开关组选择启用一级衰减器或二级衰减器，使得不需要经过两级衰减的被测件的测试精度更高，保障了射频产品测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电气开关装置，尤其涉及一种用于射频产品测试的射频开关矩阵。
技术介绍
在无线电通讯领域研发和生产过程中，通常需要对射频产品的进行射频性能测试。产品测试过程中，通常使用相同的测试仪器对不同输出功率的产品进行测试，如果没有对测试仪器进行保护，很容易出现因输出功率过高而导致测试仪器被烧毁的情况，提高产品生产成本。因此，目前在射频产品测试时，通常在被测产品与测试仪器之间设置衰减器，降低被测产品的输出功率以保护测试仪器不被烧毁。如果被测产品的输出功率较大，而衰减器的功率较小，经过衰减后也不能实现保护测试仪器的目的。因此为了达到测试仪器保护的目的，使用的衰减器的功率较大，因此成本较高。此外，如果被测产品的输出功率较低，经过衰减器衰减后会使得输出信号不稳定，进而造成测试不准确，即对于输出功率较低的被测产品不需要经过较大功率的衰减器进行衰减。因此使用一个较大功率的衰减器对所有被测产品进行衰减会造成测试不准确，成本较高。
技术实现思路
本专利技术解决的目的在于克服现有技术中存在的测试成本高、测试不准确的不足，提供一种用于射频产品测试的射频开关矩阵，通过本专利技术射频开关矩阵保护测试仪器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于射频产品测试的射频开关矩阵，其特征在于，包括至少一个一级衰减器，所述一级衰减器连接RD机电同轴开关组，所述RD机电同轴开关组连接至少一个二级衰减器，所述RD机电同轴开关组用于连通一级衰减器和/或二级衰减器；当被测射频产品的输出功率小于设定门限阈值时，所述RD机电同轴开关组连通一级衰减器或二级衰减器；当被测射频产品的输出功率大于或等于设定门限阈值时，所述RD机电同轴开关组同时连通一级衰减器和二级衰减器。

【技术特征摘要】
1.一种用于射频产品测试的射频开关矩阵，其特征在于，包括至少一个一级衰减器，所述一级衰减器连接RD机电同轴开关组，所述RD机电同轴开关组连接至少一个二级衰减器，所述RD机电同轴开关组用于连通一级衰减器和/或二级衰减器； 当被测射频产品的输出功率小于设定门限阈值时，所述RD机电同轴开关组连通一级衰减器或二级衰减器；当被测射频产品的输出功率大于或等于设定门限阈值时，所述RD机电同轴开关组同时连通一级衰减器和二级衰减器。2.根据权利要求1所述的用于射频产品测试的射频开关矩阵，其特征在于，所述RD机电同轴开关组包括至少一个转换开关，所述一级衰减器与转换开关连接，所述一个转换开关与一个二级衰减器连接，所述转换开关用于选择连通二级衰减器。3.根据权利要求2所述的用于射频产品测试的射频开关矩阵，其特征在于，如果启用二级衰减器，则通过转换开关连通二级衰减器，再连通测试仪器；否则转换开关直接连通测试仪器。4.根据权利要求1所述的用于射频产品测试的射频开关矩阵，其特征在于，所述RD机电同轴开关组包括至少一个单刀双掷开关和至少一个单刀多掷开关，所述单刀双掷开关的一个接口直接与所述单刀多掷开关连接，单刀双掷开关的一个接口通过一级衰减器与单刀多掷开关连接，单刀多掷开关与二级衰减器连接。5.根据权利要求4所述的用于射频产品测试的射频开关矩阵，其特征在于，如果启用一级衰减...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡建，强波，
申请(专利权)人：成都芯通科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：