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一种用于射频产品测试的射频开关矩阵制造技术
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文档序号:8684524
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本发明涉及一种用于射频产品测试的射频开关矩阵,该射频开关矩阵包括至少一个一级衰减器,所述一级衰减器连接RD机电同轴开关组,所述RD机电同轴开关组连接至少一个二级衰减器,所述RD机电同轴开关组用于连通一级衰减器和/或二级衰减器。本发明射频开关...
该专利属于成都芯通科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都芯通科技股份有限公司授权不得商用。
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