测定物体位置的装置及方法制造方法及图纸

技术编号:8682309 阅读:194 留言:0更新日期:2013-05-09 02:26
本发明专利技术是一种测定物体位置的方法,包括分别侦测发光模块由基准点发出的光线分别被长条状呈“L”型的反射镜及回射器反射及回射而得到的第一信号及第二信号;处理该第一信号及该第二信号,得到被物体直接阻挡或间接阻挡由基准点发出的光线分别与第一反射单元及第二反射单元之间的多个角度A1及多个角度A2;依据多个角度A1分别与每一个角度A2的组合分别转换得到多个坐标;然后比对该多个坐标,由该多个坐标中选出至少有两个坐标值相同的坐标,以确认物体在工作区的相对坐标,可以同时测定多个物体的位置,方便进行多点触控,并且可以测定被阻挡的物体的坐标。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关,尤其是有关提供触控装置使用测定触控位置的装置及方法。
技术介绍
有一些触控装置通过侦测一物体的坐标,作为对应的文字、图案、符号的输入信息,或作为交互式电子游戏机的输入信息。美国专利US 4,762,990,揭示一种测定物体位置的数据处理输入接口(Dataprocessing input interface determining position of object)包括:一物体位于一被反射单元围绕于边界周围的工作区;一扫描光线的光源,使扫描光线从起始扫描的位置扫描操工作区;一测定物体在工作区的位置的工具,测量扫描光线经由围绕于周围的反射单元照射到物体及扫描光线直接照射到物体时,扫描光线从起始位置算起的旋转角度,以测定物体在工作区的位置。中国台湾公开专利第201104533号,揭示一种具备多点触控功能的触控输入装置,提供一触控面板以供输入至少一触控点,至少一光源环绕触控面板以提供侦测光束,多个成像系统配置于触控面板的两相邻顶点以侦测触控点的遮蔽光束角度,并且这些多个成像系统具备一第一空间视角及一第二空间视角,并根据不同空间视角所侦测到的触控点的遮蔽光束角度进行计算本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定物体位置的装置,其特征在于包括:一发光模块;一第一反射单元,为长条状;一第二反射单元,为长条状;一混合式反射单元,包括分别为长条状呈“L”型的反射镜及回射器所组成,该回射器置于该反射镜的上方或下方其中之一;该混合式反射单元、该第一反射单元及第二反射单元围成一个接近矩形的工作区;该第一反射单元及该第二反射单元分别位于该混合式反射单元的两侧端;该第一反射单元及该第二反射单元的接触点为该工作区一角被设为基准点;该发光模块由该基准点的位置发出光线照射整个该工作区或扫描整个该工作区其中之一;一光侦测单元,通过该反射镜侦测被至少一物体直接及间接阻挡的光线而得到的第一信号;并通过该回射器侦测被物体直...

【技术特征摘要】
1.一种测定物体位置的装置,其特征在于包括: 一发光模块; 一第一反射单元,为长条状; 一第二反射单元,为长条状; 一混合式反射单元,包括分别为长条状呈“L”型的反射镜及回射器所组成,该回射器置于该反射镜的上方或下方其中之一;该混合式反射单元、该第一反射单元及第二反射单元围成一个接近矩形的工作区;该第一反射单元及该第二反射单元分别位于该混合式反射单元的两侧端;该第一反射单元及该第二反射单元的接触点为该工作区一角被设为基准点;该发光模块由该基准点的位置发出光线照射整个该工作区或扫描整个该工作区其中之 一光侦测单元,通过该反射镜侦测被至少一物体直接及间接阻挡的光线而得到的第一信号;并通过该回射器侦测被物体直接阻挡的光线而得到的第二信号;其中该第一信号包含对应于该物体的多个第一弱信号;该第二信号包含对应于该物体的至少一个第二弱信号; 一信号处理单元,电气连接该光侦测单元;该信号处理单元处理该第一信号及该第二信号,得到被该物体直接及间接 阻挡由基准点发出的光线分别与第一反射单元及第二反射单元之间对应于该第一弱信号的多个角度Al及对应于该第二弱信号的多个角度A2 ; 一微处理器,电气连接该信号处理单元;该微处理器依据该多个角度Al分别与每一个该角度A2的组合分别转换得到多个坐标;然后比对该多个坐标,由该多个坐标中选出至少有两个坐标值相同的坐标,以确认物体在工作区的相对坐标。2.按权利要求1所述的测定物体位置的装置,其特征在于,该发光模块位于该基准点的正下方或正下方其中之一接近该基准点的位置;该发光模块包括LED光源或激光光源其中之一;该光侦测单位于该发光模块的上方或下方其中之一。3.按权利要求4所述的测定物体位置的装置,其特征在于,该光侦测单位是一摄影机。4.按权利要求3所述的测定物体位置的装置,其特征在于,该发光模块包括一扫描机构、一扫描镜、一具有穿透孔的反射镜或半反射镜其中之一及一 LED光源或激光光源其中之一的光源;该光源发出的光源穿过该反射镜的穿透孔或半反射镜其中之一至该扫描镜,在该基准点的位置被该镜反射至该工作区;该扫描机构带动该扫描镜快速扫描整个该工作区;该混合式反射单元反射的光线射至该反射镜或半反射镜其中之一,被该反射镜或半反射镜其中之一反射至该光侦测单元。5.按权利要求1至4中任一项所述的测定物体位置的装置,其特征在于,该第一反射单元及该第二反射单元分别为长条状的回射器;该工作区是一触控区。6.一种测定物体位置的方法,是侦测至少一物体在一工作区的坐标;该工作区被一长条状呈“L...

【专利技术属性】
技术研发人员:林志雄
申请(专利权)人:时代光电科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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