测量图像传感器的响应曲线的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种图像传感器响应曲线的计算方法及装置。该方法包括：对标准灰阶卡进行至少一次曝光拍摄获得拍摄图像；计算每个灰阶图像块的相对曝光量，相对曝光量为曝光拍摄时使用的曝光时间与每个灰阶块的灰度的乘积；基于拍摄图像中每个灰阶图像块内像素点的像素值与相对曝光量设置参考点，对参考点进行插值计算，获得图像传感器响应曲线。在本发明专利技术中，利用参考点进行插值计算避免了方程组的求解，降低了计算量。灰阶图像块内像素值的均匀性使得像素点的选择更为容易，无需对多张不同曝光的图像进行对齐校准，避免了使用校准算法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及图像处理领域，尤其涉及一种测量图像传感器的响应曲线的方法及装置。
技术介绍
数字图像传感器的响应曲线反映了拍摄时的曝光量和图像传感器输出的图像像素值之间的对应关系。通常来说，曝光量和图像像素值之间是非线性的关系。参考图1所示，图1示出了图像传感器响应曲线的示意图，其中，横坐标为曝光量，以自然对数表示，纵坐标为图像像素值，使用8比特数据表示，其取值为0到255。使用图像传感器响应曲线可以对图像传感器拍摄的图像进行后期处理，模拟实际拍摄中无法实现的复杂曝光效果，从而改善图像质量，进而还可能从图像中提取更多的有用信息。不同的图像传感器通常具有不同的响应曲线，使用不准确的响应曲线对图像进行后期处理会使模拟曝光得到的图像失真，还可能形成虚假图像细节。因此需要针对所使用的图像传感器单独测量计算响应曲线。现有的图像传感器响应曲线计算方法通常利用同一场景的一系列不同曝光图像来计算。在这种方法中，将图像传感器拍摄图像的像素值对曝光量的响应表示为Zij =f(Ei A ，其中，f为响应曲线函数，Zij表示第j张图像的位置i处的像素值，Ei表示在图像位置i处的场景辐照度，A tj表示第j张本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量图像传感器的响应曲线的方法，其特征在于，包括：使用待测图像传感器对标准灰阶卡进行至少一次曝光拍摄，获得拍摄图像，所述标准灰阶卡具有多个灰阶块，每个灰阶块的灰度均匀，不同灰阶块的灰度不同，所述拍摄图像包括多个分别与所述灰阶块对应的灰阶图像块；计算每个所述灰阶图像块的相对曝光量，所述相对曝光量为所述曝光拍摄时使用的曝光时间与每个灰阶块的灰度的乘积；分别以像素值和相对曝光量作为横纵坐标，基于每个所述灰阶图像块内像素点的像素值与该灰阶图像块的所述相对曝光量设置多个参考点；基于所述多个参考点进行插值计算，获得所述响应曲线。

【技术特征摘要】
1.一种测量图像传感器的响应曲线的方法，其特征在于，包括: 使用待测图像传感器对标准灰阶卡进行至少一次曝光拍摄，获得拍摄图像，所述标准灰阶卡具有多个灰阶块，每个灰阶块的灰度均匀，不同灰阶块的灰度不同，所述拍摄图像包括多个分别与所述灰阶块对应的灰阶图像块； 计算每个所述灰阶图像块的相对曝光量，所述相对曝光量为所述曝光拍摄时使用的曝光时间与每个灰阶块的灰度的乘积； 分别以像素值和相对曝光量作为横纵坐标，基于每个所述灰阶图像块内像素点的像素值与该灰阶图像块的所述相对曝光量设置多个参考点； 基于所述多个参考点进行插值计算，获得所述响应曲线。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述每个灰阶图像块内像素点的像素值为所述每个灰阶图像块内部分或全部像素点的像素值的平均值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述曝光拍摄为至少两次拍摄，拍摄时保持光照均匀、环境光强不变，每次拍摄的曝光时间不同。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 所述拍摄图像具有多个颜色分量， 针对每个所述颜色分量获得与其相应的所述响应曲线。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 所述灰阶块的灰度以所述灰阶块的反射率或透射率来表示。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述拍摄图像的颜色空间为线性颜色空间。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述线性颜色空间为RGB、CYGM、RGBE颜色空间中的任意一种。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述拍摄图像的颜色空间为非线性颜色空间，该方法还包括: 将所述拍摄图像的颜色空间转换为线性颜色空间。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述非线性颜色空间为YUV颜色空间。10.一种图像传感器响应曲线的计算装置，包括: 曝光拍摄单元，用于使用待测图像传感器对标准灰阶卡进行至少一次...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭晓峰，陈远，王森，林福辉，黄玉春，
申请(专利权)人：展讯通信上海有限公司，
类型：发明
国别省市：