一种新型颗粒材料组构各向异性的定量测试与分析方法技术

本发明专利技术提供了一种颗粒材料组构各向异性的定量测试与分析方法，能标定出不同种类的颗粒材料细观组构的变化，得出相应的细观参数。发明专利技术步骤如下：颗粒材料初始内结构的固定；施加20～30kPa的较小气压，将环氧树脂缓慢注入颗粒材料试样内，养护颗粒材料试样使其完全硬化；对养护固化后的颗粒材料试样切片，并对切片表面进行碾磨、抛光处理；用扫描电镜观察分析切片表面的细观结构。采用本方法，能够很好地固定颗粒材料的初始内结构，经过精心养护固化，对切片表面研磨抛光处理，可以在扫描电镜下清晰地观察到颗粒材料的内结构，在此基础上，可以后续分析工作准确地进行，以准确模拟颗粒材料各向异性和应力各向异性耦合等复杂条件下的力学行为。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及颗粒材料计算力学和本构模拟。
技术介绍
Gillott (1970)以及 Yoshinaka 与 Kazama (1973)用 X 光进行测量。Morgenstern和Tchalenko (1967)采用了光学的方法来研究粘土的颗粒朝向。Kanatani (1984)发现了张量形式的扭剪密度函数。Kuo和Frost (1996，1997)，Kuo等(1998)以及Jang和Frost (1999, 2000)基于立体测量学结合图像分析技术，提供了一种强大的组构张量分析方法。Arthur 和 Dunstan 发现了 X 光照相术的可能。Dafalias 和 Arulanandan (1978，1979),Arulamamdan 和 Dafalias (1979)以及 Anandarajah 和 Kuganenthira (1995)用一个参数来评估砂土的导电性。河海大学姜景山等采用计算机图像测量分析系统多模型试验图片进行分析，能定量地分析粗颗粒试验过程中颗粒的位移、转角、长轴的定向、配位数以及支向量的变化。清华大学张建民等采用自主研发的双轴压缩试验系统，以圆形和椭圆形截本文档来自技高网...

【技术保护点】
颗粒材料组构各向异性的定量测试与分析方法，其特征在于它包括以下步骤：?（1）、颗粒材料初始内结构的固定。?施加20～30kPa的较小气压，将环氧树脂缓慢地注入颗粒材料试样内，养护一定时间后试样完全固化；?（2）、对养护固化后的颗粒材料试样切片，并对切片表面进行碾磨、抛光处理；?（3）、用扫描电镜观察分析切片表面的细观结构。

【技术特征摘要】
1.粒材料组构各向异性的定量测试与分析方法，其特征在于它包括以下步骤: (1)、颗粒材料初始内结构的固定。施加20 30kPa的较小气压，将环氧树脂缓慢地注入颗粒材料试样内，养护一定时间后试样完全固化； (2)、对养护固化后的颗粒材料试样切片，并对切片表面进行碾磨、抛光处理； (3 ...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨仲轩，李玲玲，赵朝发，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：