【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及的是一种等离子模组的调试方法，尤其是一种PDP模组局部低放电消除方法。
技术介绍
在现有技术中，公知的技术是PDP模组驱动波形主要由复位期(reset)、寻址期(address)及维持期(sustain)组成。复位期通过斜坡波形对屏施加较高的电压，使所有的放电单元产生放电，并使各单元在寻址期开始前，放电状态尽可能趋于一致。寻址期Y电极施加扫描脉冲，并且对需要点亮的单元在A电极施加寻址脉冲信号，使需要点亮的单元产生放电，并积重新累壁电荷，以便于维持期正常放电。维持期X、Y电极交替施加维持脉冲信号，需点亮的单元持续放电发光。PDP屏由多个单独的放电单元组成，每一个放电单元受屏材料、结构及制造工艺等影响，放电特性可能不同，并且可能产生放电不良。为消除放电不良，一般措施是对复位期的波形或电压进行调整，但调整的范围、效果都有一定限制，而且可能影响寻址放电特性。寻址期放电差异体现在，要选定的单元如果不能放电或放电较弱时，在维持区间就可能会出现放电失败(低放电)；寻址放电时不应该放电的单元出现放电，则会在sustain区间发生连续放电误放电。目前的应对方法是根据不同的子场，设置不同的寻址波形，消除子场间寻址放电差异，但对于因单元状态差异导致的寻址放电状态偏差并没有很好的效果。
技术实现思路
本专利技术的目的，就是针对现有技术所存在的不足，而提供一种PDP模组局部低放电消除方法的技术方案，该方案能够通过调整每根扫描电极输出扫描脉冲宽度的大小，调整对应区域寻址放电的强弱，进一步调整寻址放电后壁电荷的量，使单元产生稳定正常的维持放电。本方案是通过如下技术措施来实现...
【技术保护点】
一种PDP模组局部低放电消除方法，其特征是：a.针对任意区域的第一行寻址放电较弱的情况，增加该区域放电较弱单元第一行的Y电极输出扫描脉冲的宽度；b.针对任意区域的寻址放电较弱的情况，增加该区域放电较弱单元对应行的Y电极输出扫描脉冲的宽度；c.针对任意区域的维持期误放电的情况，减少该区域误放电单元对应行的Y电极输出的扫描脉冲的宽度。
【技术特征摘要】
1.一种PDP模组局部低放电消除方法，其特征是: a.针对任意区域的第一行寻址放电较弱的情况，增加该区域放电较弱单元第一行的Y电极输出扫描脉冲的宽度； b.针对任意区域的寻址放电较弱的情况，增加该区域放电较弱单元对应行的Y电极输出扫描脉冲的宽度； c.针对任意区域的 维持期误放电的情况，减少该区域误放电单元对应行的Y电极输出的扫描...
【专利技术属性】
技术研发人员：周超，卫伟，钟文建，柳希武，
申请(专利权)人：四川虹欧显示器件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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