TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置。其中，该校验设备包括：脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。本发明专利技术解决了相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题。

Calibration equipment, method and device for TEV partial discharge live detection device

The invention discloses a checking device, a method and a device for a TEV partial discharge live detection device. Among them, the calibration apparatus includes a pulse generator for transmitting the calibration signal; coupling device, connected by a coaxial cable with a metal plate RF an impedance matching, the measured TEV sensor attached at a predetermined position and the metal plate; TEV detection instrument for detecting, impulse response signal, the pulse signal and contrast calibration signal the results were used to test the performance indicator TEV live partial discharge detection device. The invention solves the technical problem that the relevant technology can not be used for on-site verification of the TEV partial discharge live detecting device.

【技术实现步骤摘要】
TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置
本专利技术涉及电力领域，具体而言，涉及一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置。
技术介绍
调研表明，目前尚未有科学有效的TEV局放检测装置现场方法，一般也是采用打火器简单在RFCT附近打火方式系统有反应即可，只能发现系统存在严重的性能下降或损坏，而无法有效发现系统性能轻微的下降或进行量化评价。针对相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置，以至少解决相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备，包括：脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。进一步地，耦合装置的芯线分别与脉冲发生器以及金属板连接。进一步地，被测TEV传感器贴在金属板朝向TEV检测仪主机的一侧。进一步地，耦合装置的阻抗总和为50欧姆。进一步地，脉冲发生器的正负极性可变换，脉冲波形的上升时间小于等于5ns，下降时间大于等于200ns，输出波形电压峰值在在10mV至5V之间，包括10mV、20mV、50mV、1V、2V、3V、4V、5V档位，输出幅度的稳定度高于95％。进一步地，脉冲发生器为手持式。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验方法，包括：控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号；获取TEV检测仪主机检测到的脉冲响应信号；通过比对脉冲信号与标定信号分析TEV局部放电带电检测装置的测试性能。进一步地，在控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号之前，校验方法还包括：控制脉冲发生器连接耦合装置；将TEV传感器贴在金属板预定位置处，其中，耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验装置，包括：第一控制单元，用于控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号；获取单元，用于获取TEV检测仪主机检测到的脉冲响应信号；分析单元，用于通过比对脉冲信号与标定信号分析TEV局部放电带电检测装置的测试性能。进一步地，校验装置还包括：第二控制单元，用于在控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号之前，控制脉冲发生器连接耦合装置；放置单元，用于将TEV传感器贴在金属板预定位置处，其中，耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连。在本专利技术实施例中，TEV局部放电带电检测装置的校验设备包括脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。达到了在现场实时对TEV局部放电带电检测装置进行校验的目的，进而解决了相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题，从而实现了提高TEV局部放电带电检测装置对局部放电检测是的准确性的技术效果。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是根据本专利技术实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验设备的示意图；图2是根据本专利技术实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验方法的流程图；以及图3是根据本专利技术实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验装置的示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。根据本专利技术实施例，提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备的实施例。图1是根据本专利技术实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验设备的示意图，如图1所示，TEV局部放电带电检测装置的校验设备可以包括：脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。可选地，耦合装置的芯线分别与脉冲发生器以及金属板连接。可选地，被测TEV传感器贴在金属板朝向TEV检测仪主机的一侧。可选地，耦合装置的阻抗总和为50欧姆。可选地，脉冲发生器的正负极性可变换，脉冲波形的上升时间小于等于5ns，下降时间大于等于200ns，输出波形电压峰值在在10mV至5V之间，包括10mV、20mV、50mV、1V、2V、3V、4V、5V档位，输出幅度的稳定度高于95％。可选地，脉冲发生器为手持式。本专利技术还提供了一种优选实施例，该优选实施例为TEV局放带电检测装置的现场校验方案，下面将详细介绍该优选实施例。TEV局放带电检测装置的现场校验设备可以包括：(1)信号发生器：脉冲极性能正负变换，脉冲波形上升时间不大于5ns，下降时间不小于200ns，输出脉冲电压峰值在10mV-5V区间可调，调节范围分为10mV/20mV/50mV/1V/2V/3V/4V/5V几个档位即可。信号发生器宜设计为手持式，信号发生器输出幅度稳定度要求达到95％以上。(2)耦合装置：耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，测试时固定发射装置与被测暂态地电压传感器的距离和位置，具体如图1所示。测试方法1)脉冲信号发生器连接耦合装置，被测TEV传感器贴在金属版面固定位置；2)连接好TEV局部放电测试系统，并开机启动到正常采集状态；3)控制脉冲发生器发出等间隔标定信号序列，观测TEV检测仪检测到的脉冲响应信号，根据检测信号的幅度与历史记录对比判定检测系统性能是否正常。图2是根据本专利技术实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验方法的流程图，如图2所示，该方法包括如下步骤：步骤S102，控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号；步骤S104，获取TEV检测仪主机检测到的脉冲响应信号；步骤S106，通过比对脉冲信号与标定信号分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备，其特征在于，包括：脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在所述金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，所述脉冲信号与所述标定信号的对比结果用于指示所述TEV局部放电带电检测装置的测试性能。

【技术特征摘要】
1.一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备，其特征在于，包括：脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在所述金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，所述脉冲信号与所述标定信号的对比结果用于指示所述TEV局部放电带电检测装置的测试性能。2.根据权利要求1所述的校验设备，其特征在于，所述耦合装置的芯线分别与所述脉冲发生器以及所述金属板连接。3.根据权利要求2所述的校验设备，其特征在于，所述被测TEV传感器贴在所述金属板朝向所述TEV检测仪主机的一侧。4.根据权利要求1所述的校验设备，其特征在于，所述耦合装置的阻抗总和为50欧姆。5.根据权利要求1所述的校验设备，其特征在于，所述脉冲发生器的正负极性可变换，脉冲波形的上升时间小于等于5ns，下降时间大于等于200ns，输出波形电压峰值在在10mV至5V之间，包括10mV、20mV、50mV、1V、2V、3V、4V、5V档位，输出幅度的稳定度高于95％。6.根据权利要求1或5所述的校验设备，其特征在于，所述脉冲发生器为手持式。7.一种TEV局部放电带电检测装置的校验方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：任志刚，张玉佳，冯义，周松霖，陶诗洋，赵雪骞，秦欢，杨圆，
申请(专利权)人：国网北京市电力公司，国家电网公司，中国电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11